高精度混合集成电路测试架隔离保护结构制造技术

本发明专利技术公开了一种高精度混合集成电路测试架隔离保护结构，涉及电路测试辅助结构技术领域。该测试架隔离保护结构将单片机、测试芯片、继电器、隔离光耦和Handle接口集成在一块电路基板上，利用光耦实现测试架电源与地短路检测、测试架电源与待测芯片电源隔离，能够防止带电插拔损坏芯片，方便安装且增加使用效率，其所有模拟电源和数字电源、模拟地和数字地均采用光耦隔离，抑制共模干扰，避免一体化设计时产生的共模干扰，保证系统信号稳定以及整体工作正常，减小了系统的体积，降低成本提高效率，还可以测量芯片的电源和地是否短路，且电源和指令信号采用光耦隔离，防止串扰。

Isolation protection structure of high precision hybrid integrated circuit test stand

【技术实现步骤摘要】
高精度混合集成电路测试架隔离保护结构
本专利技术涉及电路测试辅助结构
，特别是涉及一种高精度混合集成电路测试架隔离保护结构。
技术介绍
集成电路测试是集成电路制成后，交付客户之前，必须完成的针对待测芯片的电气特性测量及使用条件测试。集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。集成电路的不正常状态有缺陷(defect)、故障(fault)和失效(failure)等。由于设计考虑不周全或制造过程中的一些物理、化学因素，使集成电路不符合技术条件而不能正常工作，称为集成电路存在缺陷。集成电路的缺陷导致它的功能发生变化，称为故障。故障可能使集成电路失效，也可能不失效，集成电路丧失了实施其特定规范要求的功能，称为集成电路失效。故障和缺陷等效，但两者有一定区别，缺陷会引发故障，故障是表象，相对稳定，并且易于测试；缺陷相对隐蔽和微观，缺陷的查找与定位较难。测试架一般需要加电源本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度混合集成电路测试架隔离保护结构，包括电路基板，其特征在于，所述电路基板上集成有：/n待测芯片插座、电源模块和单片机，用于为整个测试架供电以及控制、分析测试模块，待测芯片插座内设有继电器，单片机通过控制继电器通断，电源模块内设有稳压器；/nADC/DAC检测单元，通过电源模块进行隔离供电，单片机与ADC/DAC检测单元之间的信号线通过高速光耦HCPL2231隔离，为单片机功能的电源输入端串联有2Ω/2W的测试电阻；/nHandle模块，Handle模块与测试架内的电源模块隔离设置，电路基板上还设有用于连接测试架与自动检测仪器的To_Handle插座，单片机测试信号通过设于电路基板内...

【技术特征摘要】
1.一种高精度混合集成电路测试架隔离保护结构，包括电路基板，其特征在于，所述电路基板上集成有：
待测芯片插座、电源模块和单片机，用于为整个测试架供电以及控制、分析测试模块，待测芯片插座内设有继电器，单片机通过控制继电器通断，电源模块内设有稳压器；
ADC/DAC检测单元，通过电源模块进行隔离供电，单片机与ADC/DAC检测单元之间的信号线通过高速光耦HCPL2231隔离，为单片机功能的电源输入端串联有2Ω/2W的测试电阻；
Handle模块，Handle模块与测试架内的电源模块隔离设置，电路基板上还设有用于连接测试架与自动检测仪器的To_Handle插座，单片机测试信号通过设于电路基板内的138译码器选择以实现多路输出，Handle模块以及单片机的指令信号均通过高速光耦HCPL2231隔离。


2.根据权利要求1所述的高精度混合集成电路测试架隔离保护结构，其特征在于：所述稳压器包括MAX...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖国玲，杨建平，陈慧，饶成明，王波，
申请(专利权)人：无锡职业技术学院，
类型：发明
国别省市：江苏;32