操作装置及X射线摄影单元制造方法及图纸

本发明专利技术在必要的时机执行阈值的校正，从而抑制耗电。操作装置(200)的校正部(232)在开始执行校正处理后，若触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差在规定范围内，或者若校正值计算步骤中计算出的校正值与作为前次校正后校正值的阈值的差在规定范围内，则将阈值变更为校正值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】操作装置及X射线摄影单元
本专利技术涉及操作装置及X射线摄影单元。
技术介绍
专利文献1揭载了一种电容式触敏传感器。专利文献1中，定期对用来判断该触敏传感器是否被接触的阈值进行校正。(现有技术文献)(专利文献)专利文献1：日本国公开专利公报“特开2010-191834号公报”
技术实现思路
(专利技术概要)(专利技术要解决的课题)对操作对象装置进行遥控的操作装置中有时也设有触敏传感器。在这样的操作装置中，检测触敏传感器是否被接触，并基于该检测结果来进行各种处理。其中，触敏传感器的灵敏度随着操作装置所处的各种环境而发生变化。因此，专利文献1中，对用来判断触敏传感器是否被接触的阈值进行定期校正。但是，若定期校正，即，若经过规定时间及天数后自动进行校正，则当出现了因校正过程中触敏传感器被接触等而计算出错误的校正值的情况时，仍会根据该错误的校正值对阈值进行校正。结果是引起误动作。本专利技术的一个方面的目的是抑制误校正。(解决课题的手段)为解决所述课题，本专利技术的一个方式的操作装置对操作对象装置进行遥控，该操作装置的特征在于，具有：一个或多个触敏传感器；接触判断部，其基于来自所述一个或多个触敏传感器的触敏传感器输出值与阈值，来判断所述触敏传感器是否被接触；以及校正部，其进行校正处理，该校正处理用以对所述阈值进行校正，所述校正处理包括触敏传感器输出值获取步骤及校正值计算步骤，其中，所述触敏传感器输出值获取步骤中，从所述一个或多个触敏传感器按照规定次数获取多个所述触敏传感器输出值，所述校正值计算步骤中，根据所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值，针对每一所述触敏传感器均计算用于对所述阈值进行校正的校正值，所述校正部在开始执行所述校正处理后，若所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差在规定范围内，或者若所述校正值计算步骤中计算出的校正值与作为前次校正后校正值的所述阈值的差在规定范围内，则将所述阈值变更为所述校正值。(专利技术的效果)根据本专利技术的一个方面，能够起到抑制误校正的效果。附图说明图1是将实施方式1的对操作对象装置进行操作的操作装置与支架及操作对象装置同时示出的斜视图。图2是实施方式1的操作装置的斜视图。图3的(a)～(d)示出了实施方式1的操作装置被操作者操作的情况。图4示出了图2所示的操作装置的前侧套及下部盖取下后的情况。图5示出了图2所示的操作装置的前侧套及前侧电极。图6示出了图2所示的操作装置的后侧套及后侧电极。图7是图1所示的X射线摄影单元的结构框图。图8的(a)示出了操作者不接触第1触敏传感器及第2触敏传感器的状态下的触敏传感器输出值，(b)示出了操作者接触着第1触敏传感器及第2触敏传感器的状态下的触敏传感器输出值。图9示出了在温度变化达到一定程度以上时进行校正的所述操作装置的处理流程。图10示出了在电池电压变化达到一定程度以上时进行校正的所述操作装置的处理流程。图11示出了在操作部的操作次数达到一定程度以上时进行校正的所述操作装置的处理流程。图12示出了在更换了电池时进行校正的所述操作装置的处理流程。图13示出了在X射线摄影装置的装置电源接通后进行校正的所述操作装置的处理流程。图14示出了在不对操作装置进行操作的状态持续了一定时间时进行校正的所述操作装置的处理流程。图15示出了在触敏传感器输出值的恒定状态持续了一定时间时进行校正的所述操作装置的处理流程。图16示出了所述操作装置中校正部进行校正的处理流程。图17示出了在所述校正部的触敏传感器输出值获取步骤过程中，判断触敏传感器是否被接触的处理流程。图18示出了在所述校正部的触敏传感器输出值获取步骤后，判断触敏传感器是否被接触的处理流程。图19示出了将判断所述校正部计算出的校正值是否恰当包括在内的校正的处理流程。图20示出了将判断所述校正部计算出的校正值是否恰当包括在内的校正变形例的处理流程。图21示出了所述校正部在校正的执行过程中对多个触敏传感器输出值中的至少一个值进行补正的流程。图22的(a)示出了第1触敏传感器的第1触敏传感器输出值小于阈值的情况，(b)示出了第2触敏传感器的第2触敏传感器输出值大于阈值的情况。图23示出了所述校正部在校正的执行过程中，根据多个触敏传感器输出值的值来中止校正的流程。图24示出了所述校正部在校正的执行过程中，根据多个触敏传感器输出值的值来删除部分触敏传感器输出值的流程。图25示出了在所述校正部的触敏传感器输出值获取步骤中若触敏传感器被接触，则中止校正的处理流程。<附图标记说明>1X射线摄影装置主体2X射线摄影装置100支架101、231通信部200操作装置201第1开关部件202第2开关部件210主开关220选择开关230控制部232校正部233电池控制部(电压判断部)234温度传感器控制部(温度判断部)235触敏传感器控制部(接触判断部、触敏传感器输出值判断部)236计数器(计数部)240握持检测部241第1触敏传感器(触敏传感器)242第2触敏传感器(触敏传感器)243电池(电源)244温度传感器245报知部250前侧套250a凹部260后侧套270下部盖280操作部300X射线摄影单元V1out第1触敏传感器输出值V2out第2触敏传感器输出值Vout触敏传感器输出值Vth阈值具体实施方式〔实施方式1〕(X射线摄影单元的结构)图1是将本实施方式的对操作对象装置进行操作的操作装置与支架及操作对象装置同时示出的斜视图。操作对象装置是X射线摄影装置2，其向患者照射X射线，检测透过患者的X射线并生成X射线图像。X射线摄影装置2包括：X射线摄影装置主体1、以及安装在X射线摄影装置主体1上的支架100。如图1所示，操作装置200被支架100以能够装卸于该支架100的方式所保持。图2是本实施方式的操作装置的斜视图。操作装置200是对X射线摄影装置2进行遥控的遥控器。操作装置200具有作为壳体的：前侧套250、后侧套260及下部盖270。基本为圆柱状的操作装置200的顶面上设置着主开关210，在操作装置200周面的上部设置着选择开关220。操作者可通过握住操作装置200的周面，并例如用拇指按下设置在顶面上的主开关210，且用食指按下设置在所述周面上的选择开关220，来对操作装置200进行操作。即，对X射线摄影装置2进行操作。主开关210是分2个阶段进行动作的开关，其具备第1开关部件201及第2开关部件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种操作装置，其对操作对象装置进行遥控，该操作装置的特征在于，/n具有：一个或多个触敏传感器；/n接触判断部，其基于来自所述一个或多个触敏传感器的触敏传感器输出值与阈值，来判断所述触敏传感器是否被接触；以及/n校正部，其进行校正处理，该校正处理用以对所述阈值进行校正，/n所述校正处理包括触敏传感器输出值获取步骤及校正值计算步骤，/n其中，/n所述触敏传感器输出值获取步骤中，从所述一个或多个触敏传感器按照规定次数获取多个所述触敏传感器输出值，/n所述校正值计算步骤中，根据所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值，针对每一所述触敏传感器均计算用于对所述阈值进行校正的校正值，/n所述校正部在开始执行所述校正处理后，若所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差在规定范围内，或者若所述校正值计算步骤中计算出的校正值与作为前次校正后校正值的所述阈值的差在规定范围内，则将所述阈值变更为所述校正值。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170831 JP 2017-1670851.一种操作装置，其对操作对象装置进行遥控，该操作装置的特征在于，
具有：一个或多个触敏传感器；
接触判断部，其基于来自所述一个或多个触敏传感器的触敏传感器输出值与阈值，来判断所述触敏传感器是否被接触；以及
校正部，其进行校正处理，该校正处理用以对所述阈值进行校正，
所述校正处理包括触敏传感器输出值获取步骤及校正值计算步骤，
其中，
所述触敏传感器输出值获取步骤中，从所述一个或多个触敏传感器按照规定次数获取多个所述触敏传感器输出值，
所述校正值计算步骤中，根据所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值，针对每一所述触敏传感器均计算用于对所述阈值进行校正的校正值，
所述校正部在开始执行所述校正处理后，若所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差在规定范围内，或者若所述校正值计算步骤中计算出的校正值与作为前次校正后校正值的所述阈值的差在规定范围内，则将所述阈值变更为所述校正值。


2.根据权利要求1所述的操作装置，其特征在于，
若所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差在所述规定范围外，或者若所述校正值计算步骤中计算出的校正值与作为前次校正后校正值的所述阈值的差在所述规定范围外，则所述校正部不对所述阈值进行变更。


3.根据权利要求1所述的操作装置，其特征在于，
若所述校正值计算步骤中计算出的校正值在所述规定范围外，且所述校正值小于所述阈值，则所述校正部将该阈值变更为该校正值，但若所述校正值为所述阈值以上，则所述校正部不对该阈值进行变更。


4.根据权利要求1所述的操作装置，其特征在于，
所述校正部在所述校正值计算步骤之前进行触敏传感器输出值判断步骤，其中，所述触敏传感器输出值判断步骤判断所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差是在所述规定范围内还是在所述规定范围外，
若在所述触敏传感器输出值判断步骤中判断所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差在所述规定范围内，则所述校正部将所述阈值变更为所述校正值计算步骤中计算出的所述校正值，
若在所述触敏传感器输出值判断步骤中判断所述触敏传感器输出值获取步骤中获取了的多个所述触敏传感器输出值的差在所述规定范围外，则所述校正部不进行所述校正值计算步骤。


5.根据权利要求1～4中任一项所述的操作装置，其特征在于，
所述校正部若在获取所述触敏传感器输出值的触敏传感器输出值获取步骤中判断从所述一个或多个触敏传感器获取的触敏传感器输出值中的至少一个触敏传感器输出值为阈值以上，则基于其他低于阈值的触敏传感器输出值的值，将被判断为阈值以上的该触敏传感器的触敏传感器输出值补正为低于阈值的值。


6.根据权利要求1～4中任一项所述的操作装置，其特征在于，
所述校正部若在获取所述触敏传感器输出值的触敏传感器输出值获取步骤中判断从所述一个或多个触敏传感器获取的触敏传感器输出值中的至少一个触敏传感器输出值为阈值以上，则中止所述校正的执行。


7.根据权利要求1～4中任一项所述的操作装置，其特征在于，
所述校正部若在获取所述触敏传感器输出值的触敏传感器输出值获取步骤中...

【专利技术属性】
技术研发人员：古泽光一，中谷邦夫，森泽达英，和田真，小渕圭一朗，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP