【技术实现步骤摘要】
基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法
本专利技术涉及一种基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,属于卫星在轨运行期间的检校
技术介绍
对于一个卫星系统,虽然在发射之前都已经过相机的几何和辐射标定,但是由于发射过程中的震动和在轨运行环境的变化等因素的影响,卫星在轨运行时的相机参数一般都会发生变化,因此需要对相机的几何参数重新进行检校,从而提高其产品的定位精度。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题是:克服现有技术人工工作量大、检校速度慢的不足,提出基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,该方法为一种基于已有高精度参考底图,实现高分一号B卫星姿轨精化,从而提高卫星全色和多光谱影像的直接对地定位精度。本专利技术的技术解决方案是:基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,该方法基于高精度参考底图(DOM、DEM数据),采用全自动匹配控制点匹配和单轨条带平差技术,对高分一号B卫星影像进行姿轨精化,提高影像的几何精度,可用于各种型号的卫星影,该方法的步骤包括:步骤1,读取高分一号B卫星待检校影像,读取的待检校影像标记为参考数据A,读取影像范围内的参考数据DOM参考数据和DEM参考数据,读取的参考数据标记为参考数据B,并将待检校影像A和参考数据B进行图像匹配,比如进行图像灰度相关匹配,得到若干个像控点坐标,一般为几千到上万个;步骤2,根据步骤1得到的若干个像控点坐标解算高分一号B卫星的严格成像模型中的姿态、轨道和行时;解算方法为:利用条带光束平差的方法进行解算 ...
【技术保护点】
1.基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于该方法的步骤包括:/n步骤1,读取高分一号B卫星待检校影像,读取的待检校影像标记为参考数据A,读取影像范围内的参考数据DOM参考数据和DEM参考数据,读取的参考数据标记为参考数据B,并将参考数据A和参考数据B进行图像匹配,得到若干个像控点坐标;/n步骤2,根据步骤1得到的若干个像控点坐标解算高分一号B卫星的严格成像模型中的姿态、轨道和行时;/n步骤3,根据步骤2解算得到的姿态、轨道和行时,重新进行高分一号B卫星的严格成像模型构建,得到精确地理坐标。/n
【技术特征摘要】
1.基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于该方法的步骤包括:
步骤1,读取高分一号B卫星待检校影像,读取的待检校影像标记为参考数据A,读取影像范围内的参考数据DOM参考数据和DEM参考数据,读取的参考数据标记为参考数据B,并将参考数据A和参考数据B进行图像匹配,得到若干个像控点坐标;
步骤2,根据步骤1得到的若干个像控点坐标解算高分一号B卫星的严格成像模型中的姿态、轨道和行时;
步骤3,根据步骤2解算得到的姿态、轨道和行时,重新进行高分一号B卫星的严格成像模型构建,得到精确地理坐标。
2.根据权利要求1所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于:该方法基于高精度参考底图。
3.根据权利要求2所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于:高精度参考底图包括DOM数据和DEM数据。
4.根据权利要求3所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于:该方法采用全自动匹配控制点匹配和单轨条带平差技术,对高分一号B卫星影像进行姿轨精化。
5.根据权利要求4所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于:该方法能够提高影像的几何精度,能够用于各种型号的卫星影像。
6.根据权利要求1所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于:所述的步骤1中,将参考数据A和参考数据B进行图像匹配时进行图像灰度相关匹配。
7.根据权利要求1所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于:所述的步骤1中,得到的若干个像控点坐标的数量为几千到上万个。
8.根据权利要求1所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于:所述的步骤2中,解算方法为:利用条带光束平差的方法进行解算。
9.根据权利要求1所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,其特征在于:所述的步骤2中,严格成像模型为:
上式中,(x,y)代表像点在相机焦平面上的坐标;f为相机主距;R代表影像的外方位角元素(pitch,roll,yaw)构成的姿态矩阵;λ为...
【专利技术属性】
技术研发人员:龙小祥,李庆鹏,魏宝安,李晓进,
申请(专利权)人:中国资源卫星应用中心,
类型:发明
国别省市:北京;11
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