【技术实现步骤摘要】
一种微位移复合测量装置
本技术涉及测量
，特别涉及一种微位移复合测量装置。
技术介绍
随着加工制造技术的不断发展，对微位移非接触的测量装置的需求不断提高。现有技术中，经常使用激光三角法非接触测量物体的微位移，使用该方法检测时，激光笔发出光线照射在物体上侧，照射在物体上侧的光线经过透镜成像折射出去，在一个投影板上形成光斑，照相设备拍下投影板上的光斑，得到光斑的位置坐标，但是光斑很小，当物体有微位移时，光斑位置基本重叠在一起，根本无法辨别，分辨率不高，测量精度很低。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本技术的目的在于解决现有技术中分辨率不高的技术问题，提供一种微位移复合测量装置，此装置结构简单，分辨率高，提高测量精度。本技术的目的是这样实现的：一种微位移复合测量装置，包括支撑架，所述支撑架的上侧固定连接有连接架，支撑架上连接有可升降的底板，所述连接架上可转动地连接有用于安装透镜的透镜支架和用于安装激光笔的安装支架，激光笔发射出的光线照射在底板上，所述透镜的中心线和光源的轴线在一个平面内，远离安装支...
【技术保护点】
1.一种微位移复合测量装置，其特征在于：包括支撑架，所述支撑架的上侧固定连接有连接架，支撑架上连接有可升降的底板，所述连接架上可转动地连接有用于安装透镜的透镜支架和用于安装激光笔的安装支架，激光笔发射出的光线照射在底板上，所述透镜的中心线和光源的轴线在一个平面内，远离安装支架的透镜支架所在一端朝外的连接架上固定连接有固定支架和可转动地连接有调节支架，所述调节支架上可滑动地连接有第一平面镜，所述固定支架上连接有可上下滑动的第二平面镜，所述第一平面镜的反射面和第二平面镜的反射面相对设置，所述第一平面镜上方的连接架上连接有朝向第二平面镜的照相设备。/n
【技术特征摘要】
1.一种微位移复合测量装置，其特征在于：包括支撑架，所述支撑架的上侧固定连接有连接架，支撑架上连接有可升降的底板，所述连接架上可转动地连接有用于安装透镜的透镜支架和用于安装激光笔的安装支架，激光笔发射出的光线照射在底板上，所述透镜的中心线和光源的轴线在一个平面内，远离安装支架的透镜支架所在一端朝外的连接架上固定连接有固定支架和可转动地连接有调节支架，所述调节支架上可滑动地连接有第一平面镜，所述固定支架上连接有可上下滑动的第二平面镜，所述第一平面镜的反射面和第二平面镜的反射面相对设置，所述第一平面镜上方的连接架上连接有朝向第二平面镜的照相设备。
2.根据权利要求1所述的一种微位移复合测量装置，其特征在于：所述支撑架的上部开有升降孔，支撑架的下侧固定连接有升降电机，所述升降电机上设有转动轴，转动轴向上伸出，转动轴上螺纹连接有升降板，升降板的下侧排布有呈矩形布置的四个导向杆，导向杆可沿着升降架的下部上下滑动，底板固定连接在升降板的上方，底板可向上穿过升降孔。
3.根据权利要求1所述的一种微位移复合测量装置，其特征在于：所述连接架的后侧固定连接有驱动电机，所述驱动电机的输出轴与调节支架连接。
4.根据权利要求1～3任一项所述的一种微位移复合测量装置，其特征在于：还包括限位件一，所述限...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱兴龙，马倩，尹珺瑶，倪厚强，任皓，
申请(专利权)人：扬州大学，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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