一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统，由霍尔元件阵列、U型磁芯、激励线圈、信号处理器、电源模块、单片机、功率放大器激发端阻抗匹配、发射探头、接收探头、上位机组成；单片机输出低频交变信号给激励线圈，磁化U型磁芯，使其与待测构件形成一个局部的漏磁环境，让被检测导磁构件在缺陷处形成漏磁场，并被置于该区域的霍尔元件阵列所感应，经信号处理后，送入上位机处理，初步给出损伤位置；再用超声探测对该部位进行精确测量，给出具体损伤情况；该发明专利技术粗检结合精检，检验更灵活，且精确度更高，是对传统的基于漏磁检测原理的一次革新。

A compound internal flaw detection system of pressure equipment based on magnetic flux leakage rough inspection and ultrasonic fine measurement

【技术实现步骤摘要】
一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统
本专利技术属于无接触金属检测的仪器仪表
，具体涉及一种基于磁真空泄露原理的漏磁无损检测技术，并结合电磁超声检测技术。
技术介绍
自1922年美国人霍克发现漏磁检测原理的原型也即磁粉检测以来，漏磁检测理论及其工程应用已被广泛地研究。其相应的理论研究有磁偶极子和有限元法的磁场静态分布求解问题、AMEET的漏磁逆向反演问题、MUKHOPADHYAY等的缺陷几何参数与其泄漏场及扫描速度之间相互影响关系分析。基于铁磁性材料的高磁导率和磁折射物理特性基础之上的漏磁检测原理一直沿用到现在，但这些应用主要还是以定性检测为主。这些理论下的检测器往往缺陷的漏磁场微弱，加上探头与被检体之间相对姿态的抖动所引起的磁噪声一直存在，使得检测方式始终为“零”距离接触式探测，检测探靴只能紧贴在被检测体上进行工作。在70年代末，英、俄、德等国家的学者先后进行了电磁超声的理论与实验研究。对于在铁磁材料中Lamb波的产生机理，对电磁超声的换能效率和工作机制做了进一步的分析，当所施加的偏置磁场较本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统，其特征在于，采用了超声波和漏磁场结合的探伤方式，装置由霍尔元件阵列(1)、U型磁芯(2)、激励线圈(3)、信号处理器(4)、电源模块(5)、单片机(6)、功率放大器(7)、激发端阻抗匹配(8)、发射探头(9)、接收探头(10)、上位机(11)组成；霍尔元件阵列(1)采用2*4布置差动处理的方法，两列霍尔元件阵列背对背排列，电源模块(5)给整个系统供电，单片机(6)输出低频交变信号给激励线圈(3)，磁化U型磁芯(2)，使其与待测构件形成磁回路，形成一个局部的磁真空泄露环境，让被检测导磁构件体内磁通在缺陷处泄漏到所创造的磁真空区域，形成漏磁场...

【技术特征摘要】
1.一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统，其特征在于，采用了超声波和漏磁场结合的探伤方式，装置由霍尔元件阵列(1)、U型磁芯(2)、激励线圈(3)、信号处理器(4)、电源模块(5)、单片机(6)、功率放大器(7)、激发端阻抗匹配(8)、发射探头(9)、接收探头(10)、上位机(11)组成；霍尔元件阵列(1)采用2*4布置差动处理的方法，两列霍尔元件阵列背对背排列，电源模块(5)给整个系统供电，单片机(6)输出低频交变信号给激励线圈(3)，磁化U型磁芯(2)，使其与待测构件形成磁回路，形成一个局部的磁真空泄露环境，让被检测导磁构件体内磁通在缺陷处泄漏到所创造的磁真空区域，形成漏磁场并被置于该区域的霍尔元件阵列(1)所感应，产生检测电信号经信号处理器(4)处理后通过数字式通信接口，送入上位机(11)通过MATLAB处理，形成相位图和幅值图，初步...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏越洋，沈常宇，吴万康，徐玮鑫，刘泽旭，李光海，朱周洪，张崇，刘姝仪，丁泽宜，
申请(专利权)人：中国计量大学，
类型：新型
国别省市：浙江;33