缺陷检测方法和装置、存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种缺陷检测方法和装置、存储介质。该方法通过获取待测电子器件在N种光源下的N个灰度图像；获取第i个灰度图像中的缺陷占用的像素信息形成第i个缺陷位置信息；根据第i个灰度图像的各线路的线路位置信息及第i个缺陷位置信息，确定第i个灰度图像中缺陷的缺陷类型；根据第1个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型至第N个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型，得到待测电子器件的缺陷汇总结果。根据本发明专利技术实施例，能够提高缺陷类型判断的准确性。

Defect detection method, device and storage medium

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测方法和装置、存储介质
本专利技术涉及检测
，尤其涉及一种缺陷检测方法和装置、存储介质。
技术介绍
在对阵列基板进行缺陷检测时，需要对检测到的缺陷的缺陷类型进行准确的判断，通常会用到自动光学检测(AutomatedOpticalInspection，AOI)设备。目前，AOI设备利用多种光源进行缺陷检测时，采用的是单一光源下的阵列基板中各线路的位置信息，导致无法对检测到的缺陷进行准确的缺陷类型的判断。因此，如何提高缺陷类型判断的准确性是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
为了解决现有技术中的技术问题，本专利技术实施例提供了一种缺陷检测方法和装置、存储介质，旨在提高缺陷类型判断的准确性。第一方面，本专利技术实施例提供一种缺陷检测方法，该缺陷检测方法包括：获取待测电子器件在N种光源下的N个灰度图像，其中，第i种光源下形成第i个灰度图像，N为大于等于2的整数，i为正整数，i≦N；获取第i个灰度图像中的缺陷占用的像素信息形成第i个缺陷位置信息；根据第i个灰度图像的各线路的线路位置信息及第i个缺陷位置信息，确定第i个灰度图像中缺陷的缺陷类型；根据第1个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型至第N个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型，得到待测电子器件的缺陷汇总结果。在第一方面的一种可能的实施方式中，获取第i个灰度图像中的缺陷占用的像素信息形成第i个缺陷位置信息，包括：设置第i个灰度图像的灰阶值参考范围，识别第i个灰度图像中不在灰阶值参考范围内的像素信息；将不在灰阶值参考范围内的像素信息，作为缺陷在第i个灰度图像中占用的像素信息；根据缺陷在第i个灰度图像中占用的像素信息，得到缺陷在第i个灰度图像中的第i个缺陷位置信息。在第一方面的一种可能的实施方式中，根据第i个灰度图像的各线路的线路位置信息及第i个缺陷位置信息，确定第i个灰度图像中缺陷的缺陷类型，包括：获取第i个灰度图像的各线路的线路位置信息，并获取所述第i个灰度图像中缺陷的灰阶值信息；根据第i个灰度图像的各线路的线路位置信息与第i个缺陷位置信息的位置关系及缺陷的灰阶值信息，确定第i个灰度图像中缺陷的缺陷类型。在第一方面的一种可能的实施方式中，方法还包括：获取待测电子器件的各线路在第i个灰度图像中占用的像素信息；根据各线路在第i个灰度图像中占用的像素信息，设置各线路在第i个灰度图像中的线路位置信息。在第一方面的一种可能的实施方式中，方法还包括：预先设置位置关系、缺陷的灰阶值信息、缺陷类型三者之间的对应关系。在第一方面的一种可能的实施方式中，第i个缺陷位置信息与各线路中的第一线路及第二线路的线路位置信息的位置关系均为相交关系，且第i个缺陷位置信息内的像素灰阶值属于第一预设范围，则对应的缺陷类型为短路；和/或，第i个缺陷位置信息将线路位置信息对应的区域分割为至少两个区域，且第i个缺陷位置信息内的像素灰阶值属于第二预设范围，则对应的缺陷类型为断路。在第一方面的一种可能的实施方式中，根据第1个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型至第N个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型，得到待测电子器件的缺陷汇总结果，包括：统计第1个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型至第N个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型；判断同一个位置的缺陷在N个灰度图像中对应的缺陷类型是否相同；若部分相同，则确定每种缺陷类型对应的数量，将对应的数量最大的缺陷类型，作为同一个位置的缺陷对应的缺陷类型。在第一方面的一种可能的实施方式中，缺陷汇总结果包括待测电子器件的存在的缺陷类型及每个缺陷类型对应的缺陷位置信息。第二方面，本专利技术实施例提供一种缺陷检测装置，该缺陷检测装置包括：图像获取模块，用于获取待测电子器件在N种光源下的N个灰度图像，其中，第i种光源下形成第i个灰度图像，N为大于等于2的整数，i为正整数，i≦N；缺陷位置获取模块，用于获取第i个灰度图像中的缺陷占用的像素信息形成第i个缺陷位置信息；缺陷类型确定模块，用于根据第i个灰度图像的各线路的线路位置信息及第i个缺陷位置信息，确定第i个灰度图像中缺陷的缺陷类型；汇总结果确定模块，用于根据第1个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型至第N个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型，得到待测电子器件的缺陷汇总结果。第三方面，本专利技术实施例提供一种存储介质，其上存储有程序，其中，程序被处理器执行时实现如上的缺陷检测方法。根据本专利技术实施例，利用多种光源对待测电子器件进行缺陷检测，并将同种光源下检测出的缺陷位置信息与线路位置信息进行比较，判断缺陷的缺陷类型，能够提高缺陷类型判断的准确性。附图说明从下面结合附图对本专利技术的具体实施方式的描述中可以更好地理解本专利技术，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。图1为本专利技术一个实施例提供的缺陷检测方法的流程示意图；图2为本专利技术一个实施例提供的缺陷位置示意图；图3为本专利技术另一个实施例提供的缺陷检测方法的流程示意图；图4为本专利技术实施例提供的缺陷检测装置的结构示意图。具体实施方式下面将详细描述本专利技术的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中，提出了许多具体细节，以便提供对本专利技术的全面理解。下面将详细描述本专利技术的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本专利技术进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本专利技术，并不被配置为限定本专利技术。对于本领域技术人员来说，本专利技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本专利技术的示例来提供对本专利技术更好的理解。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。为了解决现有技术问题中的至少一个，本专利技术实施例提供了一种缺陷检测方法及装置、存储介质。下面首先对本专利技术实施例所提供的缺陷检测方法进行介绍。图1为本专利技术一个实施例提供的缺陷检测方法的流程示意图。如图1所示，本专利技术实施例提供的缺陷检测方法包括步骤S10至S40。S10，获取待测电子器件在N种光源下的N个灰度图像，其中，第i种光源下形成第i个灰度图像，N为大于等于2的整数，i为正整数，i≦N。在一些实施例中，待测电子器件可以是显示面板中的阵列基本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取待测电子器件在N种光源下的N个灰度图像，其中，第i种光源下形成第i个灰度图像，N为大于等于2的整数，i为正整数，i≦N；/n获取所述第i个灰度图像中的缺陷占用的像素信息形成第i个缺陷位置信息；/n根据所述第i个灰度图像的各线路的线路位置信息及第i个缺陷位置信息，确定所述第i个灰度图像中所述缺陷的缺陷类型；/n根据第1个所述灰度图像中所述缺陷对应的缺陷类型至第N个所述灰度图像中所述缺陷对应的缺陷类型，得到所述待测电子器件的缺陷汇总结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待测电子器件在N种光源下的N个灰度图像，其中，第i种光源下形成第i个灰度图像，N为大于等于2的整数，i为正整数，i≦N；
获取所述第i个灰度图像中的缺陷占用的像素信息形成第i个缺陷位置信息；
根据所述第i个灰度图像的各线路的线路位置信息及第i个缺陷位置信息，确定所述第i个灰度图像中所述缺陷的缺陷类型；
根据第1个所述灰度图像中所述缺陷对应的缺陷类型至第N个所述灰度图像中所述缺陷对应的缺陷类型，得到所述待测电子器件的缺陷汇总结果。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述第i个灰度图像中的缺陷占用的像素信息形成第i个缺陷位置信息，包括：
设置所述第i个灰度图像的灰阶值参考范围，识别所述第i个灰度图像中不在所述灰阶值参考范围内的像素信息；
将不在所述灰阶值参考范围内的像素信息，作为所述缺陷在所述第i个灰度图像中占用的像素信息；
根据所述缺陷在所述第i个灰度图像中占用的像素信息，得到所述缺陷在所述第i个灰度图像中的第i个缺陷位置信息。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第i个灰度图像的各线路的线路位置信息及第i个缺陷位置信息，确定所述第i个灰度图像中所述缺陷的缺陷类型，包括：
获取所述第i个灰度图像的各线路的线路位置信息，并获取所述第i个灰度图像中缺陷的灰阶值信息；
根据所述第i个灰度图像的各线路的线路位置信息与所述第i个缺陷位置信息的位置关系及所述缺陷的灰阶值信息，确定所述第i个灰度图像中所述缺陷的缺陷类型。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取待测电子器件的各线路在所述第i个灰度图像中占用的像素信息；
根据所述各线路在所述第i个灰度图像中占用的像素信息，设置所述各线路在所述第i个灰度图像中的线路位置信息。


5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
预先设置所述位置关系、所述缺陷的灰阶值信息、所述缺陷类型三者之间的对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡婷平，
申请(专利权)人：合肥维信诺科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34