一种用于线材测试仪的电容极性测试方法技术

本发明专利技术涉及一种用于线材测试仪的电容极性测试方法，包括以下步骤：先在电容的脚位1和脚位2施加一个恒流，经过若干时间T1的充电，使电容电压上升到V1；然后通过一个电阻R进行放电，从放电开始，对电容两端的电压进行采样并积分，其值为S1；接着反过来，在电容的脚位2和脚位1之间施加一个恒流，经过若干时间T2的充电，使电容电压上升到V1；然后通过一个电阻R进行放电，从放电开始，对电容两端的电压进行采样并积分，其值为S2；最后比较S1和S2，如果S1>S2表示1脚位为正极；如果S2>S1表示2脚位为正极。本发明专利技术不需要对电容充满电，只需要充少许电量即可，在放电阶段也很容易放光电容中的电量，所以耗时很少，大大的缩短了测试时间；并且误判率<1％。

A test method of capacitance polarity for wire tester

【技术实现步骤摘要】
一种用于线材测试仪的电容极性测试方法
本专利技术涉及电子测试领域，尤其是一种用于线材测试仪的电容极性测试方法。
技术介绍
目前现有技术中，有一类线材，其中装有大容量的电解电容，在对该类线材进行测试时，除了要求测试其容量值，还要求测试其电容极性，确保电容没有装反。而如何检测电容的极性，传统的测试方法是根据电容正向充满电和反向充满电时两者的电阻大小来区分，其中大的为正极，具体步骤如下：先在电容的1脚和2脚之间施加一个4V的恒压，经过若干时间T1的充电，然后检测其电阻值R1；然后放电，将电容中的电放干净；接着反过来，在电容的2脚和1脚之间施加一个4V的恒压，经过若干时间T1的充电，然后检测其电阻值R2；然后放电，将电容中的电放干净；最后比较R1和R2，如果R1>R2表示1脚位为正极；如果R2>R1表示2脚位为正极。但是，充电时间T1是根据被测电容的容量大小而决定的，即，被测电容的容量值越大，充电时间T1则越长。如果充电时间不够的话，误判率非常大，所以充电时间必须保证充足，有的大电容设置需要几秒的充电时间，所以该方法非常耗时，测试效率十分低下。并且，即使充电时间足够，经过多次的测试和实践，发现这种方法的误判率也非常高。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：提供一种用于线材测试仪的电容极性测试方法，能够又快有准的测试电容极性。本专利技术的原理在于：在对电容充放电的研究过程中，存在一个现象：一个电容通过正向充电，假设其电压为V1，通过一个电阻放电，其放电曲线比较平缓，即，电压跌落的比较慢，放电时间比较长；然后通过反向充电，假设其电压也是V1，通过一个电阻放电，其放电曲线比较陡峭，即，电压跌落的比较快，放电时间比较短；因此，本专利技术利用两者的放电曲线差异性来区别电容的极性。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于线材测试仪的电容极性测试方法，包括以下步骤：1)在待测电容的脚位1和脚位2之间施加一个恒流，经过时间T1的充电，使待测电容电压上升到V1；2)通过一个电阻R对待测电容进行放电，从放电开始，对待测电容两端的电压进行采样并积分，积分值为S1；3)进行反向动作，在待测电容的脚位2和脚位1之间施加与步骤1)中相同的恒流，经过时间T2的充电，使待测电容电压上升到V1；4)通过与步骤2)中相同的电阻R进行放电，从放电开始，对待测电容两端的电压进行采样并积分，积分值为S2；5)比较S1和S2，如果S1>S2，则待测电容的1脚位为正极；如果S2>S1，则待测电容的2脚位为正极。进一步的说，本专利技术所述的步骤1)中的恒流为20～25mA。再进一步的说，本专利技术所述的步骤2)中，对待测电容两端的电压进行采样的方式是：每间隔时间Δt采样一次，持续采样时间为Tm，共得到个采样数据，将所有的采样数据进行积分得到S1。再进一步的说，本专利技术所述的步骤4)中，对待测电容两端的电压进行采样的方式是：每间隔时间Δt’采样一次，持续采样时间为Tm’，共得到个采样数据，将所有的采样数据进行积分得到S2。本专利技术的有益效果是，解决了
技术介绍
中存在的缺陷，本专利技术不需要对电容充满电，只需要充少许电量即可，在放电阶段也很容易放光电容中的电量，所以耗时很少，大大的缩短了测试时间；并且，本专利技术的误判率<1％。附图说明图1是本专利技术电容正向充电后进行放电时的v-t曲线图；图2是本专利技术电容反向充电后进行放电时的v-t曲线图。具体实施方式现在结合附图和优选实施例对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。一种用于线材测试仪的电容极性测试方法，包括以下步骤：1)在电容的脚位1和脚位2施加一个20mA的恒流，经过若干时间T1的充电，使电容电压上升到V1。2)通过一个电阻R进行放电，从放电开始，对电容两端的电压进行采样并积分，其值为S1。3)进行反向动作，在电容的脚位2和脚位1之间施加一个20mA的恒流，经过若干时间T2的充电，使电容电压上升到V1。4)通过一个电阻R进行放电，从放电开始，对电容两端的电压进行采样并积分，其值为S2。5)最后比较S1和S2，如果S1>S2表示1脚位为正极；如果S2>S1表示2脚位为正极。具体为：1.先在电容的脚位1和脚位2施加一个20mA的恒流，然后不停的循环采样电容两端的电压，当电压达到1V时，停止充电。2.然后切换到放电回路，通过一个100欧姆电阻进行放电，从放电开始，对电容两端的电压进行采样并积分，0.1ms(Δt)采样1次，持续采样20ms，一共200个采样数据，记为：v1，v2，……，v200；放电曲线如图1所示，图1中S1的面积为采样后的积分值，3.接着反过来，在电容的脚位2和脚位1之间施加一个20mA的恒流，然后不停的循环采样电容两端的电压，当电压达到1V时，停止充电。4.然后切换到放电回路，通过一个100欧姆电阻进行放电，从放电开始，对电容两端的电压进行采样并积分，0.1ms(Δt’)采样1次，持续采样20ms，一共200个采样数据，记为：v1’，v2’，……，v200’；放电曲线如图2所示，图2中S2的面积为采样后的积分值，5.最后比较S1和S2，如果S1>S2表示1脚位为正极；如果S2>S1表示2脚位为正极。本方法不需要对电容充满电，只需要充少许电量即可，20mA的充电电流只要毫秒数量级的时间就可以充到1V电压，所以耗时很少。放电阶段，采样20ms，耗时也非常少。由于前面电量充的少，所以放电也快，很容易放光电容中的电量。所以整个测试过程的耗时控制在100ms到500ms，大大的缩短了测试时间。经过长时间的测试和实践，该方法的误判率<1％，目前还未发现误判情况。以上说明书中描述的只是本专利技术的具体实施方式，各种举例说明不对本专利技术的实质内容构成限制，所属
的普通技术人员在阅读了说明书后可以对以前所述的具体实施方式做修改或变形，而不背离专利技术的实质和范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于线材测试仪的电容极性测试方法，其特征在于包括以下步骤：/n1)在待测电容的脚位1和脚位2之间施加一个恒流，经过时间T1的充电，使待测电容电压上升到V1；/n2)通过一个电阻R对待测电容进行放电，从放电开始，对待测电容两端的电压进行采样并积分，积分值为S1；/n3)进行反向动作，在待测电容的脚位2和脚位1之间施加与步骤1)中相同的恒流，经过时间T2的充电，使待测电容电压上升到V1；/n4)通过与步骤2)中相同的电阻R进行放电，从放电开始，对待测电容两端的电压进行采样并积分，积分值为S2；/n5)比较S1和S2，如果S1>S2，则待测电容的1脚位为正极；如果S2>S1，则待测电容的2脚位为正极。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于线材测试仪的电容极性测试方法，其特征在于包括以下步骤：
1)在待测电容的脚位1和脚位2之间施加一个恒流，经过时间T1的充电，使待测电容电压上升到V1；
2)通过一个电阻R对待测电容进行放电，从放电开始，对待测电容两端的电压进行采样并积分，积分值为S1；
3)进行反向动作，在待测电容的脚位2和脚位1之间施加与步骤1)中相同的恒流，经过时间T2的充电，使待测电容电压上升到V1；
4)通过与步骤2)中相同的电阻R进行放电，从放电开始，对待测电容两端的电压进行采样并积分，积分值为S2；
5)比较S1和S2，如果S1>S2，则待测电容的1脚位为正极；如果S2>S1，则待测电容的2脚位为正...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘亚国，周玉，王恒斌，赵浩华，刘瑜，
申请(专利权)人：常州同惠电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32