一种高温超导绕组交流损耗测试装置制造方法及图纸

技术编号:23760480 阅读:33 留言:0更新日期:2020-04-11 17:13
本申请提供一种高温超导绕组交流损耗测试装置,包括:交流电源模块、试验电路、测试模块和中央处理器;试验电路包括高温超导线圈和补偿线圈,高温超导线圈与补偿线圈串联;交流电源模块串联于试验电路中;测试模块的电压测试端并联于高温超导线圈的两端,测试模块连接有与补偿线圈互感的激励线圈,测试模块可为激励线圈提供与补偿线圈相同相位的电流;中央处理器与交流电源模块以及测试模块通信连接。本申请达到了使交流损耗的测量更加准确的技术效果,解决了高温超导线圈的无功功率远大于有功功率,导致交流损耗测量的损耗功率信号远小于无功功率的信号,即在一个非常大的量程内测量一个非常小的信号,导致难以测量准确的技术问题。

A testing device for AC loss of HTS winding

【技术实现步骤摘要】
一种高温超导绕组交流损耗测试装置
本申请涉及高温超导材料测试
,尤其涉及一种高温超导绕组交流损耗测试装置。
技术介绍
高温超导材料具有载流能力大,直流无损耗的特点,然而,高温超导材料处于交流磁场中或承载交流电流时,会产生阻性损耗,常见的高温超导带材在自场或外场作用下,在77K的温度下,超导带材产生的交流损耗会为制冷系统带来至少15倍的能量损耗,并且可能造成带材局部失超,严重威胁超导磁体的安全运行。现有的交流损耗测量方法有热测法、磁测法和电测法:热法测量范围广,但灵敏度低,平衡时间久,耗时长;磁测法灵敏度高,但必须是静态测量,且只能测量超导体单位体积的磁滞损耗,其应用有一定的局限性;电测法操作方便直观,灵敏度高,测量时间较短,但受测量引线布局影响大,容易受外界电磁的干扰。在采用电测法进行交流损耗测量时,有功功率即为高温超导线圈的交流损耗,无功功率主要来自高温超导线圈电感引起的磁场储能与释放,由于高温超导线圈的无功功率远大于有功功率,导致交流损耗测量的损耗功率信号远小于无功功率的信号,即在一个非常大的量程内测量一个非常小的信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高温超导绕组交流损耗测试装置,其特征在于,包括:交流电源模块、试验电路、测试模块和中央处理器;/n所述试验电路包括高温超导线圈和补偿线圈,所述高温超导线圈与所述补偿线圈串联;/n所述交流电源模块串联于所述试验电路中;/n所述测试模块的电压测试端并联于所述高温超导线圈的两端,所述测试模块连接有与所述补偿线圈互感的激励线圈,所述测试模块可为所述激励线圈提供与所述补偿线圈相同相位的电流;/n所述中央处理器与所述交流电源模块以及所述测试模块通信连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种高温超导绕组交流损耗测试装置,其特征在于,包括:交流电源模块、试验电路、测试模块和中央处理器;
所述试验电路包括高温超导线圈和补偿线圈,所述高温超导线圈与所述补偿线圈串联;
所述交流电源模块串联于所述试验电路中;
所述测试模块的电压测试端并联于所述高温超导线圈的两端,所述测试模块连接有与所述补偿线圈互感的激励线圈,所述测试模块可为所述激励线圈提供与所述补偿线圈相同相位的电流;
所述中央处理器与所述交流电源模块以及所述测试模块通信连接。


2.根据权利要求1所述的高温超导绕组交流损耗测试装置,其特征在于,所述测试模块包括采集卡、罗氏线圈和差分放大器;
所述中央处理器与所述采集卡通信连接;
所述采集卡与所述罗氏线圈以及所述差分放大器连接;
所述差分放大器与所述激励线圈连接;
所述差分放大器的两电压测试端并联于所述高温超导线圈的两端。


3.根据权利要求1所述的高温超导绕组交流损耗测试装置,其特征在于,还包括补偿电容;
所述补偿电容串联于所述试验电路上。

【专利技术属性】
技术研发人员:史正军梅桂华宋萌肖祥胡南南李力罗运松程文锋夏亚君林友新韦玮梁飞
申请(专利权)人:广东电网有限责任公司广东电网有限责任公司电力科学研究院
类型:发明
国别省市:广东;44

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