一种通用性高的键帽拉拔测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种通用性高的键帽拉拔测试装置，其包括支撑架、设置在所述支撑架上的若干键帽拉拔机构、以及设置在所述支撑架上的压住键盘表面的压制机构，所述压制机构包括驱动单元、受所述驱动单元驱动进行上下运动的压紧滚轮。本实用新型专利技术能够适用于多种类型键盘上键帽的拉拔测试，且测试精度高，通用性高。

A universal drawing test device for key cap

【技术实现步骤摘要】
一种通用性高的键帽拉拔测试装置
本技术属于零部件检测
，特别是涉及一种通用性高的键帽拉拔测试装置。
技术介绍
键盘一般是由铝基板、线路板、剪刀支撑架和键帽组装而成的，目前已知的造成键盘键帽弹力或拉拔力不良的主要原因有：1)来料不良，例如铝基板卡勾变形、剪刀支撑架中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的四角与内外剪刀配装处(即书面名为水滴孔和滑槽结构)存在不良；2)装配不良，例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。以上两点造成键盘键帽弹力或拉拔力不足或没有弹力的主要原因，将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以键帽安装到键盘上后，为了确保后续使用的可靠性，需要对键盘键帽组装后的拉拔力进行测试。本公司早在2013年就开始研发键盘的组装检测的自动化设备，关于键帽拉拔测试设备，本公司已申请的专利号为201510726534.7公开了一种键帽拉拔力测试用按压模组及键帽拉拔力测试机，其在移载模组活动端设置有若干与一排键帽一一对应的且具有压力感应功能的拉钩块，通过拉钩块拉住键帽上抬实现对键帽拉拔力的测试。随着本公司的研发，又申请了专利号为201810262493.4的一种键帽结构组装不良测试机，在实际使用过程中，发现该设备的检测结果的准确度有时候不是很稳定，且检测头组件模块的整体结构有点复杂，结构数量较多，不够精简。之后，本公司又在2018年12月25日申请了专利号为CN201822184926.7的专利，公开了一种检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置，其采用压力传感器拉拔测试头，并在压力传感器拉拔测试头的前后设置滚轮压住键盘表面，保障拉拔测试结果的精准度，虽然解决了上述技术问题，但随着市场需求越来越多，需要进行测试的键盘种类也逐渐增多。在该专利技术中，被检测的键盘需要有一条畅通的通槽供滚轮行走，但有的键盘的按键的尺寸大小以及分布有一些个性化设计，有的个别键帽会伸入至相邻两排键帽之间的缝隙空间中，不具备畅通的通槽条件，因此，采用原有的检测装置无法满足。因此，有必要提供一种新的通用性高的键帽拉拔测试装置来解决上述问题。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种通用性高的键帽拉拔测试装置，能够适用于多种类型键盘上键帽的拉拔测试，且测试精度高，通用性高。本技术通过如下技术方案实现上述目的：一种通用性高的键帽拉拔测试装置，其包括支撑架、设置在所述支撑架上的若干键帽拉拔机构、以及设置在所述支撑架上的压住键盘表面的压制机构，所述压制机构包括驱动单元、受所述驱动单元驱动进行上下运动的压紧滚轮。进一步的，所述驱动单元采用气缸驱动或电磁驱动。进一步的，所述驱动单元包括固定在所述支撑架上且内部形成气腔的安装块、设置在所述安装块上且受内部气腔气压驱动进行上下运动的活塞杆、与所述活塞杆连接的滚轮支架，所述压紧滚轮架设在所述滚轮支架的底部。进一步的，所述驱动单元包括通电磁块、与所述通电磁块配合发生磁性反应实现上下运动的活动磁块，所述压紧滚轮与所述活动磁块固定连接实现同步上下运动。进一步的，所述键帽拉拔机构包括固定在所述支撑架上的第一驱动件、受所述第一驱动件驱动进行左右运动的第一连接板、固定在所述第一连接板上的第二驱动件、受所述第二驱动件驱动进行上下运动的第二连接板、固定在所述第二连接板上的压力传感器、设置在所述压力传感器感应端的键帽拉拔块，所述键帽拉拔块的两侧设置有挂钩，通过所述挂钩伸入到键帽与键盘表面之间的缝隙中将键帽向上拉起。进一步的，所述挂钩为扁平板状结构、或为圆柱结构、或为上表面为圆弧表面的板状结构。进一步的，所述键帽拉拔机构沿第一方向设置有三组，每组沿第二方向设置有两个键帽拉拔机构，所述第一方向与所述第二方向垂直。进一步的，每组中的两个所述键帽拉拔机构上的所述第一连接板通过滑块设置在同一对滑轨上沿所述第二方向进行滑动。进一步的，所述压制机构分布在所述键帽拉拔块沿所述第一方向上的前后端压紧键盘表面。进一步的，所述第二驱动件为伺服电机、直线电机、或音圈电机。与现有技术相比，本技术一种通用性高的键帽拉拔测试装置的有益效果在于：通过将压制机构设置成上下可活动的结构，当压紧滚轮在两排键帽之间的缝隙中行走遇到某个键帽阻挡时，则可通过向上运动跳过该键帽，有效的防止压紧滚轮压坏键帽，满足了更多类型键盘的键帽拉拔测试，提高了设备的通用性；且通过第一驱动件驱动键帽拉拔块进行左右运动，可以实现键帽拉拔块在不同排键帽位置之间进行切换并根据被测键帽的分布以及尺寸大小灵活调整其位置，大大提高了通用性。【附图说明】图1为本技术实施例的结构示意图；图2为本技术实施例中键帽拉拔机构的分布结构示意图；图3为本技术实施例中键帽拉拔机构的结构示意图；图4为本技术实施例中键帽拉拔块的结构示意图之一；图5为本技术实施例中键帽拉拔块的结构示意图之二；图6为本技术实施例中压制机构的结构示意图之一；图7为本技术实施例中压制机构的结构示意图之二；图中数字表示：100通用性高的键帽拉拔测试装置；1支撑架；2键帽拉拔机构，21第一驱动件，22第一连接板，23第二驱动件，24第二连接板，25压力传感器，26键帽拉拔块，27挂钩，28滑轨；3压制机构，31驱动单元，311安装块，312活塞杆，313滚轮支架，314滑槽，315气嘴，316通电磁块，317活动磁块，318复位弹性件，32压紧滚轮。【具体实施方式】实施例：请参照图1-图7，本实施例为通用性高的键帽拉拔测试装置100，其包括支撑架1、设置在支撑架1上的若干键帽拉拔机构2、以及设置在支撑架1上的压住键盘表面的压制机构3，所述压制机构3包括驱动单元31、受驱动单元31驱动进行上下运动的压紧滚轮32。请参照图6，本实施例中，驱动单元31采用气缸驱动，驱动单元31包括固定在支撑架1上且内部形成气腔的安装块311、设置在安装块311上且受内部气腔气压驱动进行上下运动的活塞杆312、与活塞杆312连接的滚轮支架313，安装块311上设置有滑槽314，滚轮支架313在滑槽314内上下滑动，压紧滚轮32架设在滚轮支架313的底部。安装块311上设置有往所述气腔内通气的气嘴315。请参照图7，在另一实施例中，驱动单元31还可以采用电磁驱动，其包括通电磁块316、与所述通电磁块316配合发生磁性反应实现上下运动的活动磁块317，压紧滚轮32与所述活动磁块317同步上下运动，所述活动磁块317与所述通电磁块之间连接有复位弹性件318。活动磁块317可以与滚轮支架313固定连接，并将通电磁块316固定在安装块311上，将安装块311固定在支撑架1上，并在安装块311上设置滑槽314，滚轮支架313在滑槽314内进行上下滑动，压紧滚轮32架设在滚轮支架313的底部。当通电磁块本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通用性高的键帽拉拔测试装置，其特征在于：其包括支撑架、设置在所述支撑架上的若干键帽拉拔机构、以及设置在所述支撑架上的压住键盘表面的压制机构，所述压制机构包括驱动单元、受所述驱动单元驱动进行上下运动的压紧滚轮。/n

【技术特征摘要】
1.一种通用性高的键帽拉拔测试装置，其特征在于：其包括支撑架、设置在所述支撑架上的若干键帽拉拔机构、以及设置在所述支撑架上的压住键盘表面的压制机构，所述压制机构包括驱动单元、受所述驱动单元驱动进行上下运动的压紧滚轮。


2.如权利要求1所述的通用性高的键帽拉拔测试装置，其特征在于：所述驱动单元采用气缸驱动或电磁驱动。


3.如权利要求2所述的通用性高的键帽拉拔测试装置，其特征在于：所述驱动单元包括固定在所述支撑架上且内部形成气腔的安装块、设置在所述安装块上且受内部气腔气压驱动进行上下运动的活塞杆、与所述活塞杆连接的滚轮支架，所述压紧滚轮架设在所述滚轮支架的底部。


4.如权利要求2所述的通用性高的键帽拉拔测试装置，其特征在于：所述驱动单元包括通电磁块、与所述通电磁块配合发生磁性反应实现上下运动的活动磁块，所述压紧滚轮与所述活动磁块固定连接实现同步上下运动。


5.如权利要求1所述的通用性高的键帽拉拔测试装置，其特征在于：所述键帽拉拔机构包括固定在所述支撑架上的第一驱动件、受所述第一驱动件驱动进行左右运动的第一连接板、固定在所述第一连接板上的第二驱动...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘利刚，蒋海军，
申请(专利权)人：昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32