一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备及测量方法技术

一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备及测量方法，精测转接支架和精测立方镜，精测转接支架呈L形片状结构，L形精测转接支架的短边部分固定在被遮挡电子设备的支架上，L形精测转接支架的长边部分顶部粘接有精测立方镜，该精测立方镜位置高于舱体前端框使得测量光路不受影响，在被遮挡电子设备上安装基准镜，通过测量将被遮挡电子设备基准镜数据转移至精测转接支架上的精测立方镜上。本发明专利技术通过设计专用精测转接支架和安装于电子设备上，将电子设备的立方镜坐标数据通过电子经纬仪的测量并转移转移至转接支架上，满足被遮单电子设备的精度测量及安装精度的要求。

A precision measuring equipment and method for electronic equipment with closed cabin covered

【技术实现步骤摘要】
一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备及测量方法
本专利技术涉及精测转接支架及精度测量数据转换，具体涉及可用于精度测量转接支架、测量方法及电子设备精度转换方法。
技术介绍
探月三期轨道器舱体推进仪器舱为外承力的筒体结构，主要的电子设备安装在舱体上仪器圆盘上，其中有电子设备有安装精度要求，一般在电子设备上装有立方镜，通过经纬仪对立方镜备进行测量，通过精度测量和调整，满足设备立方镜坐标系相对推进仪器舱机械坐标系的角度偏差要求。但是外承力筒舱体的结构特点，安装在舱体你的电子设备的立方镜的测量光路准直被舱体阻挡，，无法对这些电子设备价值精度测量。因此需要研制一种新型间接的测量方法，通过转换测量基准以满足被遮挡测量立方镜的电子设备的测量要求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于：克服现有技术的不足，提供一种被遮挡电子设备的精度测量方法及系统，通过设计专用精测转接支架和安装于电子设备上，将电子设备的立方镜坐标数据通过电子经纬仪的测量并转移转移至转接支架上，满足被遮单电子设备的精度测量及安装精度的要求。为了达到上述的目的，本专利技术采用的技术方案为：一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，包括：精测转接支架和精测立方镜，精测转接支架呈L形片状结构，L形精测转接支架的短边部分固定在被遮挡电子设备的支架上，L形精测转接支架的长边部分顶部粘接有精测立方镜，该精测立方镜位置高于舱体前端框使得测量光路不受影响，在被遮挡电子设备上安装基准镜，通过测量将被遮挡电子设备基准镜数据转移至精测转接支架上的精测立方镜上。进一步的，L形精测转接支架的短边部分上设置两个锥销孔和两个螺钉通孔，通过螺钉与锥销将精测转接支架与被遮挡电子设备的支架连接在一起；两个螺钉通孔分布在L形精测转接支架的短边部分的边缘处，远离根部，两个锥销孔分布在螺钉通孔内测，接近根部。进一步的，L形精测转接支架的长边部分的端头有水平凸板，用于安装精测立方镜。进一步的，L形精测转接支架的长边部分和短边部分均设置有垂直于该片状L形精测转接支架的加强筋。进一步的，将已安装精测转接支架的被遮挡电子设备放置在平台上，通过电子经纬仪对被遮挡电子设备上的基准立方镜角度与精测转移支架上的精测立方镜进行测量并建立关系。进一步的，精测转接支架重复安装并测量三次，进行比对后，确保精测转接支架与被遮挡电子设备的角度关系测量的三轴角度变化不大于1’。进一步的，精测转接支架与被遮挡电子设备的支座安装后，通过电子经纬仪将被遮挡电子设备上基准立方镜的结构坐标关系的数据转移至精测转接支架上的精测立方镜上。进一步的，精测转接支架与被遮挡电子设备安装到舱体上，通过电子经纬仪以舱体基准坐标系测量精测支架上的精测立方镜，得到三个方向角度数据；然后，通过精测立方镜的数据转换至被遮挡电子设备上，比对指标要求，调整电子设备的安装精度。进一步的，本专利技术还提出一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量方法，步骤如下：(1)通过螺钉和斜对角的锥销将精测转接支架安装在被遮挡电子设备的支座上；(2)将已安装精测转接支架的电子设备放置在稳定平台上，通过电子经纬仪对电子设备上的基准立方镜角度与精测转移支架的精测立方镜角度进行测量并建立关系；(3)精测转接支架重复安装并测量三次，进行比对后，确保精测转接支架与电子设备的角度关系测量的三轴角度变化不大于1＇、保证了转移基准的准确性；(4)已经安装的带有精测转接支架的电子设备安装在在舱体内；(5)以舱体立方镜坐标为主基准，通过测量精测转接支架上立方镜的数据，经过坐标转换关系得出电子设备与舱体的主基准的数据，从而计算出电子设备的安装精度，并经与设计指标要求的比对后确认是否满足设计指标，如有偏差则对电子设备进行调整，再进行测量直至电子设备的安装精度满足指标要求。进一步的，步骤(2)电子经纬仪对电子设备上的基准立方镜角度进行测量是在电子设备立方镜坐标系0XjXXjYXjZXj中进行，电子设备立方镜坐标系0XjXXjYXjZXj的定义具体为：0Xj原点为基准镜立方体几何中心，与舱体原点0Zj对应；XXj轴与舱体XZj轴平行，ZXj轴与舱体ZZj轴平行，YXj轴与舱体YZj轴平行，指向各轴平行于基准镜平面法线方向。进一步的，步骤(2)测量精测转移支架的精测立方镜角度以及步骤(5)测量精测转接支架上立方镜的数据均是在精测转接支架立方镜坐标系0XZjXXZjYXZjZXZj中进行，精测转接支架立方镜坐标系0XZjXXZjYXZjZXZj的定义具体为：0XZj原点为转接支架立方镜立方体几何中心与电子设备基准镜0Xj对应，XXZj轴与电子设备XXj轴对应，ZXZj轴与电子设备ZXj轴对应，YXZj轴与电子设备YXj轴对应，指向各轴平行于基准镜平面法线方向，与电子设备本体坐标系指向相同,并且YXZj轴与ZXZj、XXZj构成右手直角坐标系。进一步的，步骤(5)中舱体立方镜坐标系0ZjXZjYZjZZj的定义具体为：原点0Zj：舱体与运载火箭对接端面的几何中心；XZj轴：沿舱体纵轴，指向舱体顶部；ZZj轴：位于舱体与运载火箭对接面内，指向舱体Ⅰ象限线方向；YZj轴：与ZZj、XZj轴构成右手直角坐标系。本专利技术技术方案与现有技术相比带来的有益效果为：本专利技术的封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量方法通过电子经纬仪镜将电子设备立方镜坐标关系角度数据转移至精测转接支架的立方镜上，然后安装电子设备的后通过电子经纬仪将精测转接支架的立方镜坐标系与舱体结构坐标系关系。最终得到电子设备与舱体的精度关系，通过调整位置，满足精度安装要求；这种测量方法可操作性强且重复精度高等优点；提高了测量的准确性、稳定性和测量效率。附图说明图1是本专利技术精度测量方法流程图。图2是本专利技术精测转接支架结构示意图，包括转移支座和立方镜。图3是本专利技术精测转接支座及电子设备支座模型图。具体实施方式以下将结合图1～图3对本专利技术的封闭闭舱体被遮挡电子设备的精度测量方法作进一步的详细描述。如图2所示，本专利技术提出了一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，包括：精测转接支架和精测立方镜，精测转接支架呈L形片状结构，L形精测转接支架的短边部分固定在被遮挡电子设备的支架上，L形精测转接支架的长边部分顶部粘接有精测立方镜，该精测立方镜位置高于舱体前端框使得测量光路不受影响，在被遮挡电子设备上安装基准镜，通过测量将被遮挡电子设备基准镜数据转移至精测转接支架上的精测立方镜上。优选的，精测立方镜采用Q914胶粘剂与精测转接支座连接，形成稳定的精测转接支架。优选的，L形精测转接支架的短边部分上设置两个锥销孔和两个螺钉通孔，通过螺钉与锥销将精测转接支架与被遮挡电子设备的支架连接在一起；两个螺钉通孔分布在L形精测转接支架的短边部分的边缘处，远离根部，两个锥销孔分布在螺钉通孔内测，接近根部。优选的，L形精测转接支架的长边部分的端头有水平凸板，用于安装精测立方镜。优选的，L本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，其特征在于包括：精测转接支架和精测立方镜，精测转接支架呈L形片状结构，L形精测转接支架的短边部分固定在被遮挡电子设备的支架上，L形精测转接支架的长边部分顶部粘接有精测立方镜，该精测立方镜位置高于舱体前端框使得测量光路不受影响，在被遮挡电子设备上安装基准镜，通过测量将被遮挡电子设备基准镜数据转移至精测转接支架上的精测立方镜上。/n

【技术特征摘要】
1.一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，其特征在于包括：精测转接支架和精测立方镜，精测转接支架呈L形片状结构，L形精测转接支架的短边部分固定在被遮挡电子设备的支架上，L形精测转接支架的长边部分顶部粘接有精测立方镜，该精测立方镜位置高于舱体前端框使得测量光路不受影响，在被遮挡电子设备上安装基准镜，通过测量将被遮挡电子设备基准镜数据转移至精测转接支架上的精测立方镜上。


2.根据权利要求1所述的一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，其特征在于：L形精测转接支架的短边部分上设置两个锥销孔和两个螺钉通孔，通过螺钉与锥销将精测转接支架与被遮挡电子设备的支架连接在一起；两个螺钉通孔分布在L形精测转接支架的短边部分的边缘处，远离根部，两个锥销孔分布在螺钉通孔内测，接近根部。


3.根据权利要求1所述的一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，其特征在于：L形精测转接支架的长边部分的端头有水平凸板，用于安装精测立方镜。


4.根据权利要求1所述的一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，其特征在于：L形精测转接支架的长边部分和短边部分均设置有垂直于该片状L形精测转接支架的加强筋。


5.根据权利要求1所述的一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，其特征在于：将已安装精测转接支架的被遮挡电子设备放置在平台上，通过电子经纬仪对被遮挡电子设备上的基准立方镜角度与精测转移支架上的精测立方镜进行测量并建立关系。


6.根据权利要求5所述的一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，其特征在于：精测转接支架重复安装并测量三次，进行比对后，确保精测转接支架与被遮挡电子设备的角度关系测量的三轴角度变化不大于1’。


7.根据权利要求5所述的一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，其特征在于：
精测转接支架与被遮挡电子设备的支座安装后，通过电子经纬仪将被遮挡电子设备上基准立方镜的结构坐标关系的数据转移至精测转接支架上的精测立方镜上。


8.根据权利要求1所述的一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备，其特征在于：精测转接支架与被遮挡电子设备安装到舱体上，通过电子经纬仪以舱体基准坐标系测量精测支架上的精测立方镜，得到三个方向角度数据；然后，通过精测立方镜的数据转换至被遮挡电子设备上，比对指标要求，调整电子设备的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王正华，陈刚，陈登海，黄剑，张仲寅，刘明芳，
申请(专利权)人：上海航天设备制造总厂有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31