一种用于测试振实体积电阻率的装置制造方法及图纸

一种用于测试振实体积电阻率的装置，属于电阻测量技术领域。其包括导电粉体收集绝缘体，导电粉体收集绝缘体中设有导电粉体收集腔，导电粉体收集腔容纳导电粉体，导电粉体收集绝缘体上端通过导电体盖密封连接，导电粉体收集绝缘体下端通过导电体座密封连接，导电体盖和导电体座之间通过导电线材连接电阻仪，导电体座固定于振实密度仪。本实用新型专利技术导电粉体收集绝缘体中的导电粉体经过振实密度仪振实后，导电粉体分别与导电体盖和导电体座接触，实现可直接对导电粉体电阻的测定。另外，由于导电粉体收集绝缘体内腔横截面为定值，导电粉体高度可以直接读出，这样便能方便快速得到导电粉体的体积电阻率。

A device for measuring the volume resistivity of vibration

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试振实体积电阻率的装置
本技术属于电阻测量
，具体涉及一种用于测试振实体积电阻率的装置。
技术介绍
作为电磁屏蔽材料，屏蔽层的电阻值越小屏蔽性能越好，屏蔽层电阻与导电粉体振实体积电阻率成正比，因此，为获得更好的屏蔽性能，需测定屏蔽材料填充导电粉体的振实体积电阻率。现有测试方法，在不同的密度下，需将导电粉体制成不同密度的长条，然后测试其电阻，再根据：ρv＝Rv·S/L来计算试样的体积电阻率，ρv表示试样的体积电阻率(Ω·cm)，Rv表示试样的电阻(Ω)，S表示试样的横截面面积(cm2)，L表示试样的长度(cm)，步骤繁琐，且耗费时间。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本技术的目的在于设计提供一种用于测试振实体积电阻率的装置的技术方案。所述的一种用于测试振实体积电阻率的装置，其特征在于包括导电粉体收集绝缘体，所述导电粉体收集绝缘体中设有导电粉体收集腔，所述导电粉体收集腔容纳导电粉体，所述导电粉体收集绝缘体上端通过导电体盖密封连接，所述导电粉体收集绝缘体下端通过导电体座密封连接，所述导电体盖和导电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试振实体积电阻率的装置，其特征在于包括导电粉体收集绝缘体（2），所述导电粉体收集绝缘体（2）中设有导电粉体收集腔，所述导电粉体收集腔容纳导电粉体（7），所述导电粉体收集绝缘体（2）上端通过导电体盖（1）密封连接，所述导电粉体收集绝缘体（2）下端通过导电体座（4）密封连接，所述导电体盖（1）和导电体座（4）之间通过导电线材（5）连接电阻仪（6），所述导电体座（4）固定于振实密度仪（8），所述导电粉体（7）经振实密度仪（8）振实后，所述导电粉体（7）分别与导电体盖（1）和导电体座（4）接触，通过电阻仪（6）测得导电粉体（7）的电阻。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于测试振实体积电阻率的装置，其特征在于包括导电粉体收集绝缘体（2），所述导电粉体收集绝缘体（2）中设有导电粉体收集腔，所述导电粉体收集腔容纳导电粉体（7），所述导电粉体收集绝缘体（2）上端通过导电体盖（1）密封连接，所述导电粉体收集绝缘体（2）下端通过导电体座（4）密封连接，所述导电体盖（1）和导电体座（4）之间通过导电线材（5）连接电阻仪（6），所述导电体座（4）固定于振实密度仪（8），所述导电粉体（7）经振实密度仪（8）振实后，所述导电粉体（7）分别与导电体盖（1）和导电体座（4）接触，通过电阻仪（6）测得导电粉体（7）的电阻。


2.如权利要求1所述的一种用于测试振实体积电阻率的装置，其特征在于所述导电粉体收集绝缘体（2）由透明绝缘材料制成。


3.如权利要求1所述的一种用于测试振实体...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄伟，
申请(专利权)人：平湖阿莱德实业有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33