一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统，包括：根据每个产品的图案分别制作其线路模板图；获得产品A对应的输入图像X的特征点，获取输入图像X的特征图M；获得产品A对应的线路模板图B的特征点，基于提取的特征点，获取线路模板图B的特征图N；匹配特征图M和特征图N，基于匹配结果获得M在N中的位置，基于特征图M与特征图N的相对位置，获得输入图像X中所有线路的位置。本方法通过准确判断图像线路位置，结合图片缺陷位置，实现了线路的短路和断路的准确判定，提高了缺陷发现的准确率及效率，降低了缺陷进入下一个环节的风险，提升产线的产品良率，节约了判图的人力成本。

【技术实现步骤摘要】
一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统
本专利技术涉及图像处理领域，具体地，涉及一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统。
技术介绍
液晶面板制造的前段Array制程是液晶面板制造过程中极其重要的制程之一，包括薄膜、黄光、蚀刻、剥膜四部分。目前液晶面板的array制程会出现大量的缺陷，其中最重要也影响最大的两类缺陷是相交缺陷和断线缺陷，相交缺陷是指特定材质的缺陷(如金属残留等)落在了两条线路之间，导致线路短路；断线缺陷是指特定类型的缺陷(如破洞等)落在线路上，导致线路断路。这两类缺陷将直接导致产品报废，此类缺陷的准确检测可有效避免系统漏检导致报废产品流入下一个制程。现有的产线AOI检测系统由于无法判断图像的线路位置而不能计算缺陷是否导致了线路相交或者断线，只能通过人工方式判断，效率低下且出错率高。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提出了一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统，能够自动计算AOI检测设备拍摄到的产品图像中各种线路的准确位置，结合AOI设备的缺陷检测结果，自动计算相交或断线缺陷，提高了缺陷发现的准确率，极大缩短了缺陷发现的周期，降低了缺陷产品进入下一个制程环节的风险，提升产线的产品良率，同时也减少了产线人员判图的工作量。为实现上述专利技术目的，本专利技术一方面提供了一种液晶面板array图像的线路提取方法，所述方法包括：根据每个产品的图案分别制作其线路模板图；获得产品A对应的AOI设备的输入图像X，提取输入图像X的特征点，基于提取的特征点获取输入图像X的特征图M；获得产品A对应的线路模板图B，提取线路模板图B的特征点，基于提取的特征点获取线路模板图B的特征图N；基于特征图M和特征图N的匹配结果得到特征图M在特征图N中的位置；基于特征图M与特征图N的相对位置，获得输入图像X中所有线路的位置。优选的，所述方法还包括：从AOI设备获取输入图像X中缺陷的类型和缺陷坐标，基于缺陷的坐标位置与线路位置的运算结果判断缺陷是否引起线路相交或线路断线。优选的，缺陷的坐标位置与线路位置的运算包括：步骤1：由输入图像X的缺陷位置坐标P＝(xi,yi),i＝1,2,...n，获得X的缺陷位置掩码图：其中n为图像X的宽度，m为图像X的高度，ajk∈{0,1}，对于M′中的每一个ajk，对应的坐标如果在P组成的多边形内，则设置为1，否则置为0；步骤2：基于输入图像X在N中的位置及线路模板图得到线路位置掩码图{Ni,i∈1,2,...,n}；步骤3：对缺陷位置掩码图M′和线路位置掩码图{Ni,i∈1,2,...,n}，执行下列运算：计算M′与Ni的像素与掩码图Ri，Ri＝M′&Ni即对每一个ajk∈M′，njk∈Ni，rjk∈Ri，执行rjk＝ajk&njk；步骤4：根据{Ri,i∈1,2,...,n}和M′判断线路是否相交或断线：a)判断Ri与M′是否相交构造F＝{fi,i∈1,2,...,n}，如果Ri中存在像素为1的点，则fi设置为1，否则为0；计算f：如果f≥2，则判断线路相交；b)判断Ri与M′是否断线构造C＝{ci≥2,i∈1,2,...,n}，其中ci为Ri中连通区域的个数；计算c：如果c≥1，则判断线路断线。优选的，产品的线路模板图制作方式为：采集产品对应的AOI设备产生的图片作为模板制作的参考图；扩展参考图获得模板图。优选的，模板图的特征图获得方式为：基于模板图中线路的位置，获得模板图的线路二值图；基于模板图的线路二值图，获得模板图的特征信息；基于模板图的特征信息，获得模板图的特征图。另一方面，本专利技术还提供了一种液晶面板array图像的线路提取系统，所述系统包括：线路模板图制作单元，用于根据每个产品的图案分别制作其线路模板图；输入图像特征图获得单元，用于获得产品A对应的AOI设备的输入图像X，提取输入图像X的特征点，基于提取的特征点获取输入图像X的特征图M；线路模板图特征图获得单元，用于获得产品A对应的线路模板图B，提取线路模板图B的特征点，基于提取的特征点获取线路模板图B的特征图N；线路位置获得单元，用于基于特征图M和特征图N的匹配结果得到特征图M在特征图N中的位置；基于特征图M与特征图N的相对位置，获得输入图像X中所有线路的位置。优选的，所述系统还包括：运算与判断单元，用于从AOI设备获取输入图像X中缺陷的类型和缺陷坐标，基于缺陷的坐标位置与线路位置的运算结果判断缺陷是否引起线路相交或线路断线。优选的，缺陷的坐标位置与线路位置的运算包括：步骤1：由输入图像X的缺陷位置坐标P＝(xi,yi),i＝1,2,...n，获得X的缺陷位置掩码图：其中n为图像X的宽度，m为图像X的高度，ajk∈{0,1}，对于M′中的每一个ajk，对应的坐标如果在P组成的多边形内，则设置为1，否则置为0；步骤2：基于输入图像X在N中的位置及线路模板图得到线路位置掩码图{Ni,i∈1,2,...,n}；步骤3：对缺陷位置掩码图M′和线路位置掩码图{Ni,i∈1,2,...,n}，执行下列运算：计算M′与Ni的像素与掩码图Ri，Ri＝M′&Ni即对每一个ajk∈M′，njk∈Ni，rjk∈Ri，执行rjk＝ajk&njk；步骤4：根据{Ri,i∈1,2,...,n}和M′判断线路是否相交或断线：a)判断Ri与M′是否相交构造F＝{fi,i∈1,2,...,n}，如果Ri中存在像素为1的点，则fi设置为1，否则为0；计算f：如果f≥2，则判断线路相交；b)判断Ri与M′是否断线构造C＝{ci≥2,i∈1,2,...,n}，其中ci为Ri中连通区域的个数；计算c：如果c≥1，则判断线路断线。优选的，产品的线路模板图制作方式为：采集产品对应的AOI设备产生的图片作为模板制作的参考图；扩展参考图获得模板图。优选的，模板图的特征图获得方式为：基于模板图中线路的位置，获得模板图的线路二值图；基于模板图的线路二值图，获得模板图的特征信息；基于模板图的特征信息，获得模板图的特征图。本专利技术提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：(1)本方法及系统能够根据AOI设备输出的图像以及缺陷信息，自动判定缺陷是否引起了线路的相交(短路)和断线(断路)。(2)本方法及系统提高了判定相交和断线缺陷的准确率和效率，其中准确率可以达到95％以上，计算速度达到一张图片20ms以内，极大的提高了生产效率。(3)本方法及系统极大的减少了产线判图员的工作量，节约了人力成本。附图说明此处所说明的附图用来提供本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种液晶面板array图像的线路提取方法，其特征在于，所述方法包括：/n根据每个产品的图案分别制作其线路模板图；/n获得产品A对应的AOI设备的输入图像X，提取输入图像X的特征点，基于提取的特征点获取输入图像X的特征图M；/n获得产品A对应的线路模板图B，提取线路模板图B的特征点，基于提取的特征点获取线路模板图B的特征图N；/n基于特征图M与特征图N的匹配结果得到特征图M在特征图N中的位置；基于特征图M与特征图N的相对位置，获得输入图像X中所有线路的位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种液晶面板array图像的线路提取方法，其特征在于，所述方法包括：
根据每个产品的图案分别制作其线路模板图；
获得产品A对应的AOI设备的输入图像X，提取输入图像X的特征点，基于提取的特征点获取输入图像X的特征图M；
获得产品A对应的线路模板图B，提取线路模板图B的特征点，基于提取的特征点获取线路模板图B的特征图N；
基于特征图M与特征图N的匹配结果得到特征图M在特征图N中的位置；基于特征图M与特征图N的相对位置，获得输入图像X中所有线路的位置。


2.根据权利要求1所述的一种液晶面板array图像的线路提取方法，其特征在于，所述方法还包括：从AOI设备获取输入图像X中缺陷的类型和缺陷的坐标，基于缺陷的坐标位置与线路位置的运算结果判断缺陷是否引起线路相交或线路断线。


3.根据权利要求2所述的一种液晶面板array图像的线路提取方法，其特征在于，缺陷的坐标位置与线路位置的运算包括：
步骤1：由输入图像X的缺陷位置坐标P＝(xi,yi),i＝1,2,...n，获得X的缺陷位置掩码图：



其中n为图像X的宽度，m为图像X的高度，ajk∈{0,1}，对于M′中的每一个ajk，对应的坐标如果在P组成的多边形内，则设置为1，否则置为0；
步骤2：基于输入图像X在N中的位置及线路模板图得到线路位置掩码图{Ni,i∈1,2,...,n}；
步骤3：对缺陷位置掩码图M′和线路位置掩码图{Ni,i∈1,2,...,n}，执行下列运算：
计算M′与Ni的像素与掩码图Ri，
Ri＝M′&Ni
即对每一个ajk∈M′，njk∈Ni，rjk∈Ri，执行rjk＝ajk&njk；
步骤4：根据{Ri,i∈1,2,...,n}和M′判断线路是否相交或断线：
a)判断Ri与M′是否相交
构造F＝{fi,i∈1,2,...,n}，如果Ri中存在像素为1的点，则fi设置为1，否则为0；
计算f：



如果f≥2，则判断线路相交；
b)判断Ri与M′是否断线
构造C＝{ci≥2,i∈1,2,...,n}，其中ci为Ri中连通区域的个数；
计算c：



如果c≥1，则判断线路断线。


4.根据权利要求1所述的一种液晶面板array图像的线路提取方法，其特征在于，产品的线路模板图制作方式为：
采集产品对应的AOI设备产生的图片作为模板制作的参考图；
扩展参考图获得模板图。


5.根据权利要求1所述的一种液晶面板array图像的线路提取方法，其特征在于，模板图的特征图获得方式为：基于模板图中线路的位置，获得模板图的线路二值图；基于模板图的线路二值图，获得模板图的特征信息；基于模板图的特征信息，获得模板图的特征图。


6.一种液晶面板array图像的线路提取系统，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：成都数之联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51