一种继电器综测仪的校准装置、系统及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种继电器综测仪的校准装置、系统及方法，该装置包括：逻辑门模块，与一函数/任意波形发生器相连，用于在所述函数/任意波形发生器生成的延时信号的驱动下，生成开关控制信号；开关模块，用于在所述开关控制信号的驱动下导通或截止，以模拟继电器的吸合弹跳时间和释放弹跳时间，从而实现对继电器综测仪吸合弹跳时间和释放弹跳时间的校准。本发明专利技术提供的技术方案，由于函数/任意波形发生器具有外触发延时功能，且校准装置可以模拟各种不同弹跳时间间隔点的继电器的弹跳，所以解决了现有技术不能精确设定要校准的吸合释放弹跳时间间隔点，从而造成所校准的点不能覆盖整个量程范围的难题。

Calibration device, system and method of a relay integrated measuring instrument

【技术实现步骤摘要】
一种继电器综测仪的校准装置、系统及方法
本专利技术涉及测量仪器校准
，具体涉及一种继电器综测仪的校准装置、系统及方法。
技术介绍
继电器综测仪主要由时间测量单元、电压测量单元、电流测量单元、电阻测量单元、线圈电源、测试夹具和计算机等部分组成。继电器综测仪是用于测试继电器的吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、线圈电阻、触头接触电阻、电压、电流等多参数的综合测试仪。吸合弹跳时间指给继电器线圈通电后，从转换触点与常开触点第一次合上开始到最后稳定地合上为止的时间间隔。释放弹跳时间指给继电器线圈断电后，从转换触点与常开触点第一次分开开始到最后稳定地分开为止的时间间隔。继电器综测仪测试继电器吸合弹跳时间和释放弹跳时间的工作原理如说明书附图中的图1所示：左边虚线框为继电器综测仪，右边虚线框为被测继电器。将继电器的转换触点、常闭触点和常开触点分别连接到继电器综测仪对应的转换端、常闭端和常开端，继电器的线圈接到继电器综测仪的线圈电源端。吸合弹跳时间测量方法如下：设置继电器综测仪为吸合弹跳时间测量功能，启动测量。当继电器综本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种继电器综测仪的校准装置，其特征在于，包括：/n逻辑门模块，与一函数/任意波形发生器相连，用于在所述函数/任意波形发生器生成的延时信号的驱动下，生成开关控制信号；/n开关模块，用于在所述开关控制信号的驱动下导通或截止，以模拟继电器的吸合弹跳时间和释放弹跳时间，从而实现对继电器综测仪吸合弹跳时间和释放弹跳时间的校准；/n其中，所述函数/任意波形发生器与待校准的继电器综测仪的线圈电源端相连，用于在所述继电器综测仪的外触发下，生成延时预设时长的延时信号，所述预设时长与待模拟的继电器的吸合时长或者释放时长相等。/n

【技术特征摘要】
1.一种继电器综测仪的校准装置，其特征在于，包括：
逻辑门模块，与一函数/任意波形发生器相连，用于在所述函数/任意波形发生器生成的延时信号的驱动下，生成开关控制信号；
开关模块，用于在所述开关控制信号的驱动下导通或截止，以模拟继电器的吸合弹跳时间和释放弹跳时间，从而实现对继电器综测仪吸合弹跳时间和释放弹跳时间的校准；
其中，所述函数/任意波形发生器与待校准的继电器综测仪的线圈电源端相连，用于在所述继电器综测仪的外触发下，生成延时预设时长的延时信号，所述预设时长与待模拟的继电器的吸合时长或者释放时长相等。


2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
所述逻辑门模块，包括：异或门G1、同或门G2；
所述开关模块，包括：单刀双投开关K1，及PNP型晶体三极管G3；
其中，所述异或门G1的输入端A4与同或门G2的输入端A6相连并引出到接线端A2，所述异或门G1的输入端A5和同或门G2的输入端A7相连并引出到接线端A3；所述接线端A2与所述函数/任意波形发生器的输出端相连，所述接线端A3与所述函数/任意波形发生器的同步端相连；
所述异或门G1的输出端A8与单刀双投开关K1的A10端相连，所述同或门G2的输出端A9与单刀双投开关K1的A11端相连；
所述PNP型晶体三极管G3的基极通过电阻R1与单刀双投开关K1的转换端A12相连；所述PNP型晶体三极管G3的发射极引出到接线端A1，所述PNP型晶体三极管G3的集电极接地GND；所述接线端A1与待校准的继电器综测仪的常开端相连。


3.一种继电器综测仪的校准系统，其特征在于，包括：
权利要求1或2所述的校准装置，及，函数/任意波形发生器；
所述函数/任意波形发生器与待校准的继电器综测仪的线圈电源端相连，用于在所述继电器综测仪的外触发下，生成延时预设时长的延时信号，所述预设时长与待模拟的继电器的吸合时长或者释放时长相等；
所述校准装置，用于在所述函数/任意波形发生器生成的延时信号的驱动下，生成开关控制信号，并在所述开关控制信号的驱动下导通或截止，以模拟继电器的吸合弹跳时间和释放弹跳时间，从而实现对继电器综测仪吸合弹跳时间和释放弹跳时间的校准。


4.一种继电器综测仪的校准方法，其特征在于，包括：
继电器综测仪启动后，外触发函数/任意波形发生器生成延时预设时长的延时信号，所述预设时长与待模拟的继电器的吸合时长或者释放时长相等；
校准装置在所述函数/任意波形发生器生成的延时信号的驱动下，生成开关控制信号，并在所述开关控制信号的驱动下导通或截止，以模拟继电器的吸合弹跳时间和释放弹跳时间，从而实现对继电器综测仪吸合弹跳时间和释放弹跳时间的校准。


5.一种继电器综测仪的吸合弹跳时间的校准方法，其特征在于，包括：
设置函数/任意波形发生器及校准装置的校准参数，启动测量；
当继电器综测仪的线圈电源端输出电压V3时，触发函数/任意波形发生器，经延迟时间T1后，从函数/任意波形发生器的输出端输出幅度为V5的N个脉冲串电压信号，加到异或门G1的A4输入端；
从函数/任意波形发生器的同步输出端输出的脉冲幅度为V4、脉冲宽度为NT的脉冲电压信号加到异或门G1的A5输入端；
两信号经异或门G1异或后从输出端A8输出，经单刀双投开关K1的A10端、A12端和电阻R1后加到PNP型晶体三极管G3的基极；
异或门G1输出端A8输出的脉冲电压信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：瞿明生，刘兴，石竹君，郑静，袁文，赵中泽，
申请(专利权)人：贵州航天计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：贵州;52