【技术实现步骤摘要】
一种测量晶振元件DLD的装置
本专利技术涉及一种测量DLD的装置，具体为一种测量晶振元件DLD的装置，属于压电晶体元件应用
技术介绍
晶振元件作为一类基础电子元器件被广泛使用在各类模拟或数字电路中，为电子电路提供高稳定度的时钟信号；晶振元件的DLD特性对晶振元件在使用过程中的稳定性至关重要，它揭示了晶体元件谐振电阻随激励电平变化的特性以及激励电平信赖性。晶振元件在进行测量时，晶振元件的引脚需要与测量装置进行接触，构成回路，在进行晶振元件上料时，一般通过手动进行，一个晶振元件测量后，需要取下然后更换新的晶振元件，测量时可能需要人工反复拿取晶振本体进行上下料，工作人员的劳动强度较大，测量效率可能较低；在进行晶振元件的测量时，引脚上可能会粘覆灰尘，可能会影响晶振元件DLD测量的准确性。因此，针对上述问题提出一种测量晶振元件DLD的装置。
技术实现思路
本专利技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种测量晶振元件DLD的装置。本专利技术通过以下技术方案来实现上述目的，一种测量晶振元件DL...
【技术保护点】
1.一种测量晶振元件DLD的装置，其特征在于：包括底板（1）、样品条（17）、第一连接线（21）、第二连接线（26）、水平驱动结构以及夹紧结构，所述底板（1）通过支撑杆（2）固接有顶板（3）；/n所述水平驱动结构包括固定安装在底板（1）顶部的敞口壳体（4）以及滑块（9），所述敞口壳体（4）底部嵌合安装有导轨（5），所述导轨（5）与滑块（9）滑动连接，所述敞口壳体（4）的内侧壁转动连接有螺杆（7），所述螺杆（7）表面螺纹连接有滚珠螺母（8），且滚珠螺母（8）的底部与滑块（9）顶部固接，所述敞口壳体（4）的一侧外壁固定安装有伺服电机（6），所述伺服电机（6）的输出轴与螺杆（7）...
【技术特征摘要】
1.一种测量晶振元件DLD的装置，其特征在于：包括底板（1）、样品条（17）、第一连接线（21）、第二连接线（26）、水平驱动结构以及夹紧结构，所述底板（1）通过支撑杆（2）固接有顶板（3）；
所述水平驱动结构包括固定安装在底板（1）顶部的敞口壳体（4）以及滑块（9），所述敞口壳体（4）底部嵌合安装有导轨（5），所述导轨（5）与滑块（9）滑动连接，所述敞口壳体（4）的内侧壁转动连接有螺杆（7），所述螺杆（7）表面螺纹连接有滚珠螺母（8），且滚珠螺母（8）的底部与滑块（9）顶部固接，所述敞口壳体（4）的一侧外壁固定安装有伺服电机（6），所述伺服电机（6）的输出轴与螺杆（7）的一端固接，所述滚珠螺母（8）的顶部通过连接条（10）固接有U型条（11），所述U型条（11）的一侧通过连接块（12）固定安装有羊毛刷（13），所述U型条（11）的顶部内侧开有凹孔，所述凹孔内部通过弹簧（23）弹性连接有接触头（22），所述接触头（22）数目为两个，且两个接触头（22）分别与样品条（17）的正面和背面接触，所述第一连接线（21）和第二连接线（26）均由塑料胶套（2101）和两个导线（2102）组成，所述塑料胶套（2101）包裹在两个导线（2102）表面，所述第一连接线（21）内部的导线（2102）一端与接触头（22）表面焊接；
所述夹紧结构包括固定安装在顶板（3）底部的电动推杆（14）以及设置在样品条（17）两侧的压块（16），所述电动推杆（14）数目为两个，且两个电动推杆（14）之间对称设置，所述电动推杆（14）的输出端固接有连接杆（15），所述连接杆（15）的末端与压块（16）一侧固接；
所述样品条（17）顶部固定安装有若干个等间距分布的橡胶块（18），且相邻的两个橡胶块（18）之间放置晶振本体（19）；
所述顶板（3）的顶部固定安装有固定箱（27），且固定箱（27）内部固定安装有电路板（2701），所述固定箱（27）的正面嵌合安装有任意波形发生器（28）、数字示波器（29）、输出接口（30）、高频无感可调电阻（31）和数显功率计（32），所述数显功率计（32）和输出接口（30）均与嵌合安装在电路板（2701）表面的单片机（37）电性连接，所述数字示波器（29）通过任意波形发生器（28）与单片机（37）电性连接，所述高频无感可调电阻（31）嵌合安装在电路板（2701）表面，所述第一连接线（21）的末端与第二连接线（26）的一端连接，且第二连接线（26）的末端与电路板（2701）表面焊接；
所述固定箱（27）的两侧的开口处分别固定安装有风...
【专利技术属性】
技术研发人员：何龙，施小罗，
申请(专利权)人：湖南嘉业达电子有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南;43
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