测绘尺制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测绘尺，属于测绘工具技术领域。解决了现有技术中的测绘尺易磨损、暗光难读取的技术问题，提高测绘尺的功能性。本实用新型专利技术的测绘尺，包括本体、第一放大镜、第二放大镜、荧光层、磁铁层和两个连接片。该测绘尺功能齐全，可绘制直线、平行线、圆形，测量角度、长度，放大等；设有荧光层，暗光可见；设有磁铁层，可吸附在磁性物质上，携带方便。

graphometric square

【技术实现步骤摘要】
测绘尺
本技术属于测绘工具
，具体涉及一种测绘尺。
技术介绍
测绘尺是测绘使用的工具。在实际的测绘工作中，需要直线、平行线、圆环、圆形、角度、水平等诸多项目的测量和绘制。因此工作人员往往需要多种工具进行测绘，但携带多种测绘工具根本不够方便。且现有技术中的测绘尺，一般采用塑料主体，在其背面设置刻度线，但在长期使用中，背面刻度线经常与被测面摩擦，容易被磨损，造成刻度不清晰。另外，在日光或灯光不足的时候，测绘尺上的刻度很难分辨，需要补充额外强光。
技术实现思路
本技术为了解决现有技术中的测绘尺易磨损、暗光难读取的技术问题，提高测绘尺的功能性，提供一种测绘尺。本技术解决上述技术问题采取的技术方案如下。本技术的测绘尺，包括测绘尺本体、第一放大镜、第二放大镜、荧光层、磁铁层和两个连接片；所述测绘尺本体为长方形，测绘尺本体的上边缘和左边缘均设有长度刻度，且以交汇处为零刻度，测绘尺本体的右侧上部设有第一通孔，第一通孔为矩形孔，长度方向与测绘尺本体的长度方向平行，第一通孔的上边缘按照从右至左从小至大设置长度刻度，测绘尺本体的右侧下部设有多个直径不同的圆形通孔，测绘尺本体的左侧设有第六通孔，第六通孔为半圆环形孔，半圆环形孔的两端均与测绘尺本体的下边缘重合，第六通孔内边缘的内侧和外边缘的外侧均设有角度刻度，且内边缘的内侧的角度刻度按照从右至左从小至大设置，外边缘的外侧的角度刻度按照从左至右从小至设置；测绘尺本体的材料为塑料；所述连接片为片状，下边缘与测绘尺本体的下边缘对齐，上边缘与下边缘平行，一个连接片的左右边缘分别与第六通孔的内外边缘固定连接，另一个连接片的左右边缘分别与第六通孔的外内边缘固定连接，连接片的材料与测绘尺本体相同，且连接片与测绘尺本体一体成型；所述第一放大镜和第二放大镜均为四分之一圆形，分别有一条直角边与测绘尺本体的右边缘固定连接，另一条直角边彼此固定连接，第一放大镜的放大倍率为第二放大镜的2-3倍；所述荧光层覆盖在测绘尺本体的后表面上，荧光层的材料为聚乙烯荧光胶水；所述磁铁层覆盖在荧光层的背面，磁铁层的材料为磁粉。进一步的，所述磁粉为氧化铁磁粉。进一步的，所述连接片上下边缘的垂直距离不超过第六通孔的外边缘外的5度的角度刻度线距测绘尺本体的下边缘的垂直距离与现有技术相比，本技术的有益效果为：本技术的测绘尺功能齐全，可绘制直线、平行线、圆形，测量角度、长度，放大等。本技术的测绘尺设有荧光层，暗光可见。本技术的测绘尺设有磁铁层，可吸附在磁性物质上，携带方便。附图说明图1为本技术的测绘尺的结构示意图；图2为本技术的测绘尺的层结构示意图；图中，1、测绘尺本体，1-1、第一通孔，1-2、第二通孔，1-3、第三通孔，1-4、第四通孔，1-5、第五通孔，1-6、第六通孔，2、第一放大镜，3、第二放大镜，4、荧光层，5、磁铁层，6、连接片。具体实施方式以下结合附图进一步说明本技术。如图1-2所示，本技术的测绘尺，包括测绘尺本体1、第一放大镜2、第二放大镜3、荧光层4、磁铁层5和两个连接片6。测绘尺本体1为长方形。测绘尺本体1的上边缘和左边缘均设有长度刻度，且以交汇处为零刻度，测绘尺本体1的上边缘和左边缘可用于直线的测量绘制以及垂直的测量绘制。测绘尺本体1的右侧上部设有第一通孔1-1，第一通孔1-1为矩形孔，长度方向与测绘尺本体1的长度方向平行，第一通孔1-1的上边缘按照从右至左从小至大设置长度刻度。第一通孔1-1可用于绘制平行线，标定平行线，并可用于双向测量长度。测绘尺本体1的右侧下部设有多个直径不同的圆形通孔，如第二通孔1-2、第三通孔1-3、第四通孔1-4和第五通孔1-5。多个直径不同的圆形通孔可直接用于绘制不同直径的圆。测绘尺本体1的左侧设有第六通孔1-6，第六通孔1-6为半圆环形孔，半圆环形孔的两端均与测绘尺本体1的下边缘重合。第六通孔1-6内边缘的内侧和外边缘的外侧均设有角度刻度，且内边缘内侧的角度刻度按照从右至左从小至大设置，外边缘外侧的角度刻度按照从左至右从小至设置，第六通孔1-6的设置可用于角度的测量和绘制。测绘尺本体1的材料为塑料。连接片6为片状，连接片6下边缘与测绘尺本体1的下边缘对齐，连接片6上边缘与连接片6下边缘平行，连接片6上下边缘的垂直距离不超过第六通孔1-6的外边缘外的5度的角度刻度线距测绘尺本体1的下边缘的垂直距离，一个连接片6的左右边缘分别与第六通孔1-6的内外边缘固定连接，另一个连接片6的左右边缘分别与第六通孔1-6的外内边缘固定连接。连接片6的材料与测绘尺本体1相同，且连接片6与测绘尺本体1一体成型。第一放大镜2和第二放大镜3均为四分之一圆形，分别有一条直角边与测绘尺本体1的右边缘固定连接，另一条直角边彼此固定连接。第一放大镜2的放大倍率为第二放大镜3的2-3倍。荧光层4覆盖在测绘尺本体1的后表面上，不覆盖各通孔。荧光层4的材料为聚乙烯荧光胶水。磁铁层5覆盖在荧光层4的背面，磁铁层5的材料为磁粉，如氧化铁磁粉。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.测绘尺，其特征在于，包括测绘尺本体(1)、第一放大镜(2)、第二放大镜(3)、荧光层(4)、磁铁层(5)和两个连接片(6)；/n所述测绘尺本体(1)为长方形，测绘尺本体(1)的上边缘和左边缘均设有长度刻度，且以交汇处为零刻度，测绘尺本体(1)的右侧上部设有第一通孔(1-1)，第一通孔(1-1)为矩形孔，长度方向与测绘尺本体(1)的长度方向平行，第一通孔(1-1)的上边缘按照从右至左从小至大设置长度刻度，测绘尺本体(1)的右侧下部设有多个直径不同的圆形通孔，测绘尺本体(1)的左侧设有第六通孔(1-6)，第六通孔(1-6)为半圆环形孔，半圆环形孔的两端均与测绘尺本体(1)的下边缘重合，第六通孔(1-6)内边缘的内侧和外边缘的外侧均设有角度刻度，且内边缘的内侧的角度刻度按照从右至左从小至大设置，外边缘的外侧的角度刻度按照从左至右从小至设置；测绘尺本体(1)的材料为塑料；/n所述连接片(6)为片状，下边缘与测绘尺本体(1)的下边缘对齐，上边缘与下边缘平行，一个连接片(6)的左右边缘分别与第六通孔(1-6)的内外边缘固定连接，另一个连接片(6)的左右边缘分别与第六通孔(1-6)的外内边缘固定连接，连接片(6)的材料与测绘尺本体(1)相同，且连接片(6)与测绘尺本体(1)一体成型；/n所述第一放大镜(2)和第二放大镜(3)均为四分之一圆形，分别有一条直角边与测绘尺本体(1)的右边缘固定连接，另一条直角边彼此固定连接，第一放大镜(2)的放大倍率为第二放大镜(3)的2-3倍；/n所述荧光层(4)覆盖在测绘尺本体(1)的后表面上，荧光层(4)的材料为聚乙烯荧光胶水；/n所述磁铁层(5)覆盖在荧光层(4)的背面，磁铁层(5)的材料为磁粉。/n...

【技术特征摘要】
1.测绘尺，其特征在于，包括测绘尺本体(1)、第一放大镜(2)、第二放大镜(3)、荧光层(4)、磁铁层(5)和两个连接片(6)；
所述测绘尺本体(1)为长方形，测绘尺本体(1)的上边缘和左边缘均设有长度刻度，且以交汇处为零刻度，测绘尺本体(1)的右侧上部设有第一通孔(1-1)，第一通孔(1-1)为矩形孔，长度方向与测绘尺本体(1)的长度方向平行，第一通孔(1-1)的上边缘按照从右至左从小至大设置长度刻度，测绘尺本体(1)的右侧下部设有多个直径不同的圆形通孔，测绘尺本体(1)的左侧设有第六通孔(1-6)，第六通孔(1-6)为半圆环形孔，半圆环形孔的两端均与测绘尺本体(1)的下边缘重合，第六通孔(1-6)内边缘的内侧和外边缘的外侧均设有角度刻度，且内边缘的内侧的角度刻度按照从右至左从小至大设置，外边缘的外侧的角度刻度按照从左至右从小至设置；测绘尺本体(1)的材料为塑料；
所述连接片(6)为片状，下边缘与测绘尺本体(1)的下边缘对齐，上边缘与下边缘平行，一...

【专利技术属性】
技术研发人员：白月明，李勇震，李玉强，吕国龙，
申请(专利权)人：吉林省星图测绘科技有限公司，
类型：新型
国别省市：吉林;22