【技术实现步骤摘要】
一种基于过渡金属二硫化物侧面异质结的纳米尺度整流器
本专利技术属于纳米尺度电子器件
,具体涉及一种基于过渡金属二硫化物侧面异质结的纳米尺度整流器。
技术介绍
电子器件朝着更快(即反应速度更快)、更冷(即功耗低、发热少)和更小(即结构尺度更小)的微型化趋势发展,甚至越来越接近于分子或原子尺度。纳米尺度电子器件的研发已引起世界范围内的极大兴趣。近几年来,二维层状材料以其新奇的几何和电子结构、力学和光电等性质吸引了物理、化学和材料等众多领域科学家的广泛研究兴趣。例如,石墨烯、硅烯、氮化硼、过渡金属二硫化物、MX烯、磷烯、锡烯、锗烯,以及硼烯等已陆续被制备出来。研究发现诸多二维材料具有优异的力、热、光、电、磁等性质,它们有望成为新一代的高性能纳米器件的关键材料,并已开辟了一个又一个全新的研究和应用领域。过渡金属二硫化物单层主要存在三种相结构,即1T、2H、1T′相[详见:T.Heine,TransitionMetalChalcogenides:UltrathinInorganicMaterialswithTun ...
【技术保护点】
1.一种基于过渡金属二硫化物侧面异质结的纳米尺度整流器,其特征在于:该纳米尺度整流器由具有金属特性的1T相结构的二硫化钒单层与呈现半导体特性的2H相结构的二硫化钼单层组成的单层侧面异质结构成。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于过渡金属二硫化物侧面异质结的纳米尺度整流器,其特征在于:该纳米尺度整流器由具有金属特性的1T相结构的二硫化钒单层与呈现半导体特性的2H相结构的二硫化钼单层组成的单层侧面异质结构成。
2.根据权利要求1所述的基于过渡金属二硫化物侧面异质结的纳米尺度整流器,其特征在于:所述1T相结构的二硫化钒单层和2H相结构的二硫化钼单层沿着它们的锯齿形方向耦合成侧面异质结结构。
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【专利技术属性】
技术研发人员:安义鹏,朱明甫,马传琦,马天里,刘尚鑫,赵永,武大鹏,赵传熙,康军帅,焦照勇,
申请(专利权)人:河南师范大学,
类型:发明
国别省市:河南;41
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