【技术实现步骤摘要】
测试系统、用于测试系统的测试方法以及测试载具
本专利技术是有关于一种用以对功率模块进行测试的测试系统、测试方法以及测试载具，且特别是有关于一种可缩短测试时程的测试系统、测试方法以及测试载具。
技术介绍
目前用于功率模块的测试平台大多是依据不同的测试项目而分门别类地进行设立，以量测功率模块对此测试项目的电性规格的耐受度或运行情况。这些测试项目例如是静态(static)测试、动态(dynamic)测试以及电容测试等。然而，如果要让测试平台符合另一个测试项目以检验另一电性规格时，则需要对测试平台进行大幅度的调整。理由是每个测试项目所需的电压、电流、甚至测试平台所需的测试验证路径都不完全相同。因此，在测试多种电性规格的功率模块，必须要对测试平台进行对应地调整，也就是客制化调整。此外，目前的测试平台并没有将不同测试项目(如，对静态测试的装置、动态测试以及电容测试)的测试平台进行整合，因此功率模块的研发人员仍需耗费大量的测试时间来得知这些功率模块的电性规格，才能对功率模块进行针对性地改良，这将大幅延长对功率模块的研发时间。
【技术保护点】
1.一种测试系统，用以对功率模块进行测试，并提供测试后的判定结果，该测试系统包括：/n电源供应电路，具有电源供应开关群，经由该电源供应开关群接收多个电源；/n控制端电路，具有控制端开关群，经由该控制端开关群接收多个控制信号；以及/n控制器，耦接至该电源供应电路以及该控制端电路，用以控制该电源供应开关群以及该控制端开关群，使该电源供应电路反应于该控制器的控制提供多个电源路径，并且使该控制端电路反应于该控制器的控制提供多个控制路径，藉以对该功率模块进行测试，/n其中该测试系统藉由该电源供应电路所提供的该些电源路径的至少一个第一电源路径以及该控制端电路所提供的该些控制路径的至少一...
【技术特征摘要】
20190403 TW 108111971;20180925 US 62/735,8651.一种测试系统，用以对功率模块进行测试，并提供测试后的判定结果，该测试系统包括：
电源供应电路，具有电源供应开关群，经由该电源供应开关群接收多个电源；
控制端电路，具有控制端开关群，经由该控制端开关群接收多个控制信号；以及
控制器，耦接至该电源供应电路以及该控制端电路，用以控制该电源供应开关群以及该控制端开关群，使该电源供应电路反应于该控制器的控制提供多个电源路径，并且使该控制端电路反应于该控制器的控制提供多个控制路径，藉以对该功率模块进行测试，
其中该测试系统藉由该电源供应电路所提供的该些电源路径的至少一个第一电源路径以及该控制端电路所提供的该些控制路径的至少一个第一控制路径对该功率模块进行第一测试项目，并提供对应于该第一测试项目的判定结果。
2.如权利要求1所述的测试系统，其中该功率模块包括上臂晶体管以及下臂晶体管，该测试系统藉由该至少一个电源路径以及该至少一个第一控制路径对该上臂晶体管以及该下臂晶体管进行该第一测试项目。
3.如权利要求2所述的测试系统，其中：
该控制端开关群包括第一开关，
该电源供应开关群包括第二开关以及第三开关，
该上臂晶体管具有第一端、第二端以及控制端，
在对该上臂晶体管进行该第一测试项目时，该第一开关的第一端耦接至该上臂晶体管的控制端，该第一开关的第二端耦接至该上臂晶体管的第二端，该第二开关的第一端耦接至该上臂晶体管的第一端，该第二开关的第二端耦接至第一电压源，该第三开关的第一端耦接至该上臂晶体管的第一端，该第三开关的第二端耦接至参考电源。
4.如权利要求1所述的测试系统，其中该功率模块包括上臂晶体管以及下臂晶体管，
其中该控制端电路还用以反应于该控制器的控制提供该些控制路径的至少一个第二控制路径，
其中该测试系统藉由该控制端电路所提供的该至少一个第二控制路径对该功率模块进行第二测试项目。
5.如权利要求4所述的测试系统，其中：
该控制端开关群还包括第四开关、第五开关以及第六开关，
该第四开关的第一端耦接至电感电容电阻测试仪的第一端，该第四开关的第二端耦接至该上臂晶体管的第二端，
该第五开关的第一端耦接至该电感电容电阻测试仪的第二端，该第五开关的第二端用以耦接至该上臂晶体管的控制端，
该第六开关的第一端耦接至该上臂晶体管的控制端，该第六开关的第二端耦接至该上臂晶体管的第一端，
在对该上臂晶体管进行该第二测试项目时，该第四开关、该第五开关以及该第六开关反应于该控制器的控制以提供该些控制路径的多个第二控制路径。
6.如权利要求1所述的测试系统，其中该功率模块包括上臂晶体管以及下臂晶体管，
该电源供应电路还用以反应于该控制器的控制提供该些电源路径的至少一个第二电源路径，
该控制端电路还用以反应于该控制器的控制提供该些控制路径的至少一个第三控制路径，
该测试系统藉由该电源供应电路所提供的该至少一个第二电源路径以及该控制端电路所提供的该至少一个第三控制路径对该功率模块进行第三测试项目。
7.如权利要求6所述的测试系统，其中在进行该第三测试项目时，该测试系统藉由双脉冲测试法对该上臂晶体管以及对该下臂晶体管进行测试。
8.如权利要求6所述的测试系统，其中：
该控制端开关群还包括第七开关以及第八开关，
该第七开关的第一端用以接收第一脉波信号，该第七开关的第二端耦接至该上臂晶体管的控制端，
该第八开关的第一端用以接收第二脉波信号，该第八开关的第二端耦接至该下臂晶体管的控制端。
9.如权利要求8所述的测试系统，其中：
该电源供应开关群还包括第九开关、第十开关、第十一开关、第十二开关、第十三开关、第十四开关、第十五开关以及第十六开关，
该第九开关的第一端耦接至该上臂晶体管的第二端，该第九开关的第二端经由该第十开关耦接至第二电压源，
该第十一开关的第一端耦接至该上臂晶体管的第二端，
该第十二开关的第一端耦接至该上臂晶体管的第一端，该第十二开关的第二端经由电感耦接至该第十一开关的第二端，
该第十三开关的第一端耦接至该第十二开关的第二端，该第十三开关的第二端耦接至该下臂晶体管的第一端，
该第十四开关的第一端耦接至该第十一开关的第二端，该第十四开关的第二端耦接至该下臂晶体管的第二端，
该第十五开关的第一端耦接至该下臂晶体管的第二端，该第十五开关的第二端经由该第十六开关耦接至该参考电压，并且该第十五开关的第二端还经由充电电容以及放电电阻耦接至该第九开关的第二端，
该充电电容与该放电电阻并联耦接。
10.如权利要求9所述的测试系统，其中在该下臂晶体管进行该第三测试项目时，该控制端电路反应于该控制器的控制导通该第八开关以提供该至少一个第二控制路径的其中之一，该电源供应电路反应于该控制器的控制导通该第九开关、该第十开关、该第十一开关以及该第十三开关以提供该至少一个第三电源路径的其中之一，并且导通该第十五开关以及该第十六开关以提供该至少第三电源路径的其中另一。
11.如权利要求1所述的测试系统，其中该功率模块包括多个上臂晶体管、多个下臂晶体管以及多个驱动器，
其中该些驱动器分别用以驱动该些上臂晶体管以及该些下臂晶体管的至少其中之一，
其中该些驱动器的第一驱动器耦接至该些上臂晶体管的第一上臂晶体管的控制端，藉以控制第一上臂晶体管的导通或断开。
12.如权利要求11所述的测试系统，其中：
该控制端开关群包括第十七开关，该电源供应开关群包括第十八开关以及第十九开关，
该第十七开关的第一端耦接至参考电源，该第十七开关的第二端耦接至该第一驱动器的电源输入端，
该第十八开关的第一端耦接至该些上臂晶体管的第一上臂晶体管的第一端，该第十八开关的第二端耦接至第一电压源，
该第十九开关的第一端耦接至该第一上臂晶体管的第二端，该第十九开关的第二端耦接至参考电源，
在进行该第一测试项目时，该控制端电路反应于该控制器的控制导通该第十七开关以提供该至少一个第一控制路径的其中之一，藉以禁能该第一驱动器，该电源供应电路反应于该控制器的控制导通该第十八开关以提供该至少一个第一电源路径的其中之一并且导通该第十九开关以提供该至少一个第一电源路径的其中另一。
13.如权利要求11所述的测试系统，其中：
该电源供应电路还用以反应于该控制器的控制提供该些电源路径的至少一个第二电源路径，
该控制端电路还用以反应于该控制器的控制提...
【专利技术属性】
技术研发人员：李衡，曾志铭，张道智，
申请(专利权)人：财团法人工业技术研究院，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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