普朗克常数测定仪制造技术

本实用新型专利技术公开了普朗克常数测定仪，包括Q9座，Q9座一侧固定连接有光电管暗盒，光电管暗盒上相对于Q9座的另一侧固定连接有聚光系统，光电管暗盒上方连接有滤色片旋转拨盘，滤色片旋转拨盘上的光电管暗盒一侧连接有光阑旋转拨盘，光电管暗盒上相对于滤色片旋转拨盘的另一侧连接有直线轴承滑座，直线轴承滑座滑动连接在高精度双轨滑动轨道上，高精度双轨滑动轨道固定安装在测试台底座上，有益效果是：本装置因设置的高精密双轨滑动轨道有一定的重量，从而使测量台底座稳定，因直线轴承滑座定位效果好，使光轴及机械轴满足共轴要求，通过移动光电暗盒装置而稳定改变测量距离，从而达到每次测量时重复性好。

Planck constant tester

【技术实现步骤摘要】
普朗克常数测定仪
本技术涉及一种测定仪，特别涉及普朗克常数测定仪，属于物理光电实验教学仪器

技术介绍
现有技术中，现一些学校所使用的普朗克常数实验仪多数是在很单一的简易工作台上实验，光轴及机械轴中心不易同轴，仪器也不稳定，测量的重复性较差，因此本技术提出普朗克常数测定仪。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供普朗克常数测定仪，本装置因设置的高精密双轨滑动轨道有一定的重量，从而使测量台底座稳定，因直线轴承滑座定位效果好，使光轴及机械轴满足共轴要求，通过移动光电暗盒装置而稳定改变测量距离，从而达到每次测量时重复性好。为了解决上述技术问题，本技术提供了如下的技术方案：本技术普朗克常数测定仪，包括Q9座，所述Q9座一侧固定连接有光电管暗盒，所述光电管暗盒上相对于Q9座的另一侧固定连接有聚光系统，所述光电管暗盒上方连接有滤色片旋转拨盘，所述光电管暗盒上相对于滤色片旋转拨盘的另一侧连接有直线轴承滑座，所述直线轴承滑座滑动连接在高精度双轨滑动轨道上，所述高精度双轨滑动轨道固定安装在测试台底座上，所述测试台底座一侧固定连接有标尺，所述测试台底座上设置有汞灯盒，所述汞灯盒一侧连接有汞灯电源盒。作为本技术的一种优选技术方案，所述滤色片旋转拨盘上的光电管暗盒一侧连接有光阑旋转拨盘。作为本技术的一种优选技术方案，所述测试台底座两侧下方均连接有调平底脚。作为本技术的一种优选技术方案，所述汞灯电源盒与Q9座均通过导线与电箱电性连接。本技术所达到的有益效果是：本装置因设置的高精密双轨滑动轨道有一定的重量，从而使测量台底座稳定，因直线轴承滑座定位效果好，使光轴及机械轴满足共轴要求，通过移动光电暗盒装置而稳定改变测量距离，从而达到每次测量时重复性好。附图说明附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：图1是本技术的结构示意图；图2是本技术电箱的外观结构示意图；图3是本技术高精度双轨滑动轨道和直线轴承滑座的连接结构示意图；图4是本技术测量结果结构示意图；图5是本技术光电管暗盒的伏安特性曲线图；图6是本技术使用状态的示意图。图中：1、Q9座；2、光电管暗盒；3、滤色片旋转拔盘；4、光阑旋转拔盘；5、聚光系统；6、高精度双轨滑动轨道；7、汞灯盒；8、汞灯电源盒；9、标尺；10、直线轴承滑座；11、测式台底座；12、调平底脚；13、电箱。具体实施方式以下结合附图对本技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本技术，并不用于限定本技术。实施例1如图1-6所示，普朗克常数测定仪，包括Q9座1，Q9座1一侧固定连接有光电管暗盒2，光电管暗盒2上相对于Q9座1的另一侧固定连接有聚光系统5，光电管暗盒2上方连接有滤色片旋转拨盘3，光电管暗盒2上相对于滤色片旋转拨盘3的另一侧连接有直线轴承化作，直线轴承滑座10滑动连接在高精度双轨滑动轨道6上，高精度双轨滑动轨道6固定安装在测试台底座11上，测试台底座11一侧固定连接有标尺9，测试台底座11上设置有汞灯盒7，汞灯盒7一侧连接有汞灯电源盒8。滤色片旋转拨盘3上的光电管暗盒2一侧连接有光阑旋转拨盘4，测试台底座11两侧下方均连接有调平底脚12，汞灯电源盒8与Q9座1均通过导线与电箱13电性连接。具体的，(1)实验前准备工作：将电箱13与电源线联接，两只Q9座1，用Q9线联接与电箱13相连，将电源线与汞灯电源盒8相连，打开电源开关，光源射出预热20分钟，调整光电暗盒2内光电管与汞灯盒7内汞灯的距离为40cm并保持不变，将电箱13电压调节开关调到电压显示在-2V～+2V之间，使用电流量和选择开关，选择所需量程在10-12，调节调零旋钮进行测试前调零。(2)测量光电管的暗电源：测试仪的“倍率”旋钮置10-12用光电管暗盒2上光阑旋转拨调至“盲点”此时光电管上无光线射入，顺时针缓慢旋转“电压调节旋钮，并合适地改变电压量程。仔细记录从不同电压下的相应电流值此时读得的即为光电管的暗电流，(3)进行普朗克常数的测定：1.旋转光电管暗盒2上光阑旋转拨盘4选择光阑为φ5或φ8；2.转动滤色片旋转盘3选择滤色片365，使用电流量程选择开关，选择所需量程一般在10-12；3.使用电压转换开关选择电压在-2V～+2V调节范围；调零前都应处在-2V或小于-2V；4.调节“调零调节：旋钮使“电流显示”窗口显为“00.0”；5.顺时针调节“电压粗调”旋钮，使电压从-2V或小于-2V开始调节电压，直到指示窗口显示为“00.0”记录截止电压U0并记1。6.再转动滤色片旋转盘，依次选择滤色片直到577，分另重复以上步骤并记录相应数据。注意：在上述过程中不可再进行调零。(4)进行光电管福伏安特性的测量，具体步骤为：1.旋转光电管暗盒2上光阑旋转拨盘4选择直径φ5的光阑，转动滤色片旋转盘3，选定所选滤色片；2.选择合适电流量程(一般10-12)调零状态下调节“调零调节”旋钮，使电流指示窗口显示为“00.0”；3.进入测试状态，选择合适电压范围“-2V～+30V”；4.顺时针缓慢调节“电压调节”旋钮，逐步增加电压值；5.记录不同电压下的饱和光电流Ⅰ值并记录表2；6.改变汞灯与光电暗盒间的距离重复以上操作。7.改变不同频率波长的光波重复以上操作。测量完成后，数据处理如下：(1)测普朗克常数h如附图4的实验数据，得出不同频率下的截止电压US描绘在方格纸上，即作出US-υ曲线。如果光电效应遵从爱因斯坦方程，则US＝F(υ)关系曲线应该是一根直线。求出直线的斜率:K＝ΔUS/Δυ代入(5)求出普朗克常数h＝ek。并算出所测量值与公认值之间的误差，与h的公认值h0比较求出相对误差式中e＝1.602×10-19C,h0＝6.626×10-34J·S如附图5(2)测绘光电管的伏安特性曲线输出电压指示应在“-2V～+30V状态。电流量程应在10-9-10-12，并重新调零。测伏安特性曲线测量的最大范围为-2V～+30V仪器功能及使用方法如前所述。a、可观察5条谱线在同一光阑、同一距离下伏安饱和特性曲线。b、可观察某条谱线的不同距离(即不同光通量)、同一距离下的伏安饱和特性曲线。由此可验证光电管饱和光电流与入射光成正比。在UAK为30V测量并记录同一谱线、同一入射距离，光阑分别为5m、8mm时对应的电流值于表三中，验证光电管饱和的光电流与入射光强成正比。也可在UAK为20V测量记录对同一谱线、同一光阑时，光电管与入射光在不同本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.普朗克常数测定仪，其特征在于，包括Q9座(1)，所述Q9座(1)一侧固定连接有光电管暗盒(2)，所述光电管暗盒(2)上相对于Q9座(1)的另一侧固定连接有聚光系统(5)，所述光电管暗盒(2)上方连接有滤色片旋转拨盘(3)，所述光电管暗盒(2)上相对于滤色片旋转拨盘(3)的另一侧连接有直线轴承滑座，所述直线轴承滑座(10)滑动连接在高精度双轨滑动轨道(6)上，所述高精度双轨滑动轨道(6)固定安装在测试台底座(11)上，所述测试台底座(11)一侧固定连接有标尺(9)，所述测试台底座(11)上设置有汞灯盒(7)，所述汞灯盒(7)一侧连接有汞灯电源盒(8)。/n

【技术特征摘要】
1.普朗克常数测定仪，其特征在于，包括Q9座(1)，所述Q9座(1)一侧固定连接有光电管暗盒(2)，所述光电管暗盒(2)上相对于Q9座(1)的另一侧固定连接有聚光系统(5)，所述光电管暗盒(2)上方连接有滤色片旋转拨盘(3)，所述光电管暗盒(2)上相对于滤色片旋转拨盘(3)的另一侧连接有直线轴承滑座，所述直线轴承滑座(10)滑动连接在高精度双轨滑动轨道(6)上，所述高精度双轨滑动轨道(6)固定安装在测试台底座(11)上，所述测试台底座(11)一侧固定连接有标尺(9)，所述测试台底座(11)上...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋海，张振华，于娜，任丽艳，辛寰宇，于海崙，
申请(专利权)人：长春市长城教学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：吉林;22