一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置制造方法及图纸

技术编号:23636984 阅读:86 留言:0更新日期:2020-04-01 01:57
本实用新型专利技术公开了一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置,包括尺身、定位卡脚、V型缺口定位块以及关于尺身中心线成对对称设置的制动螺钉、游标、尺框、主尺、活动卡脚、微动螺母和微动装置,所述定位卡脚设于尺身中心线位置正上方,所述V型缺口定位块设于尺身中心线位置正下方,所述定位卡脚和V型缺口定位块中心线与尺身中心线重合,两套主尺和游标的刻度线关于尺身中心线对称设置,且零刻度线靠近尺身中心线一侧,所述对中测量装置形成关于尺身中心线为轴的对称结构。本实用新型专利技术具有操作简便,能够精准定位缺口的对称面为测量距离的起点即零点,可同时测得缺口对称面与试样端面的距离,减少了常规测量过程中的无关变量,省时、省力。

A V-notch centering measuring device for impact specimen

【技术实现步骤摘要】
一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置
本技术涉及材料冲击性能测试领域,特别提供一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置。
技术介绍
材料冲击载荷的能力称为材料的冲击性能。冲击载荷是指以较高的速度施加到零件上的载荷。当零件在承受冲击载荷时,瞬间冲击所引起的应力和变形比静载荷时要大得多。因此,在制造这类零件时,就必须考虑到材料的冲击性能。冲击试验是利用能量守恒原理,将具有一定形状和尺寸的带有V型或U型缺口的试样,在冲击载荷作用下冲断,以测定其吸收能量的一种试验方法。冲击试验是试样在冲击试验力的作用下的一种动态力学性能试验。冲击试验对材料的缺陷很敏感,它能灵敏地反映出材料的宏观缺陷、显微组织的微小变化和材料质量。因此,冲击试验是生产上用来检验冶炼、热加工、热处理工艺质量的有效方法。在测试过程中,V型缺口的对中状态严重影响材料的力学性能,因此在进行冲击试验前需要对试样的V型缺口对中状态进行控制。尤其针对自动定位试验机,缺口对称面与端部的距离偏差要求更严格,因此,能否准确测出缺口对称面与端部的距离,对于冲击测试结果至关重要。由于V本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置,包括尺身(1)、制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10),其特征在于,所述制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10)均关于尺身(1)中心线成对对称设置;所述对中测量装置还包括定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8),所述定位卡脚(7)设于尺身(1)中心线位置正上方,所述V型缺口定位块(8)设于尺身(1)中心线位置正下方,所述定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8)中心线与尺身(1)中心线重合,两套主尺(5)和游标(3)的刻度线关于尺身(1)中...

【技术特征摘要】
1.一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置,包括尺身(1)、制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10),其特征在于,所述制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10)均关于尺身(1)中心线成对对称设置;所述对中测量装置还包括定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8),所述定位卡脚(7)设于尺身(1)中心线位置正上方,所述V型缺口定位块(8)设于尺身(1)中心线位置正下方,所述定位卡脚(7)和V型...

【专利技术属性】
技术研发人员:张宏阳王景丽蔡静王健张重远
申请(专利权)人:中国科学院金属研究所
类型:新型
国别省市:辽宁;21

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