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触摸面板制造技术

技术编号:23604186 阅读:33 留言:0更新日期:2020-03-28 05:24
本发明专利技术提供容易地抑制电阻体整体的阻值的触摸面板,具备:电阻体,从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有规定值以下的阻值;检测配线部,配置为沿电阻体延伸;多个电阻体电极部,配置为从电阻体向检测配线部延伸;多个检测电极部,配置为在多个电阻体电极部之间从检测配线部向电阻体延伸;触摸电极部,通过另一方的基材被触摸而将与触摸位置对应的电阻体电极部连接于检测电极部,低电阻区域配置于电阻体中与多个电阻体电极部对应的部分,并且形成为相对于多个电阻体电极部仅向电阻体的一端部侧和另一端部侧中的任意一方延伸。

Touch panel

【技术实现步骤摘要】
触摸面板
本专利技术涉及触摸面板,尤其涉及一种通过电阻方式检测触摸位置的触摸面板。
技术介绍
近年来,提出了在通过电阻方式检测对表面进行触摸的触摸位置的触摸面板中使用三线式的触摸面板。一般来说,在三线式的触摸面板中,相互对置地配置有一对基材,在一方的基材以线状延伸的方式配置有电阻体,并且以沿电阻体延伸的方式配置有检测配线部,在另一方的基材配置有触摸电极部。由此,当另一方的基体被触摸时,电阻体中与触摸位置对应的部分通过触摸电极部而被连接到检测配线部,基于该电阻体的电位来检测触摸位置。在此,在三线式的触摸面板中基于与触摸位置对应的电阻体的电位来检测触摸位置,因此如果电阻体全长的阻值大,则触摸位置的运算变得困难。例如,在触摸面板的两点被触摸的情况下,基于测量到的电位和电阻体的阻值算出两点的触摸位置,因此,如果电阻体的全长的阻值大,则存在两点的检测识别降低,精度降低的问题。因此,作为抑制电阻体的整体的阻值的技术,例如专利文献1中提出了一种LED显示装置,其能减少印刷于有限面积的导电涂料的电阻的影响,实现高密度安装。该LED显示装置在使用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触摸面板,其特征在于,具备:/n一对基材,相互对置配置;/n电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有所述规定值以下的阻值;/n检测配线部,配置为沿所述电阻体延伸;/n多个电阻体电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为相互隔有间隔地分别从所述电阻体向所述检测配线部以线状延伸;/n多个检测电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为在所述多个电阻体电极部之间分别从所述检测配线部向所述电阻体以线状延...

【技术特征摘要】
20180920 JP 2018-1757691.一种触摸面板,其特征在于,具备:
一对基材,相互对置配置;
电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有所述规定值以下的阻值;
检测配线部,配置为沿所述电阻体延伸;
多个电阻体电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为相互隔有间隔地分别从所述电阻体向所述检测配线部以线状延伸;
多个检测电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为在所述多个电阻体电极部之间分别从所述检测配线部向所述电阻体以线状延伸;以及
触摸电极部,以覆盖所述多个电阻体电极部和所述多个检测电极部的方式配置于另一方的基材,通过所述另一方的基材被触摸而将与触摸位置对应的电阻体电极部连接于所述检测电极部,将所述电阻体中与触摸位置对应的部分连接于所述检测配线部,
所述低电阻区域配置于所述电阻体中与所述多个电阻体电极部对应的部分,并且形成为相对于所述多个电阻体电极部仅向所述电阻体的一端部侧和另一端部侧中的任一方延伸,
所述触摸面板测量通过所述触摸电极部而连接于所述检测配线部的所述电阻体的电位,由此检测所述触摸位置。


2.一种触摸面板,其特征在于,具备:
一对基材,相互对置配置;
电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有所述规定值以下的阻值;
检测配线部,配置为沿所述电阻体延伸;
多个电阻体电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为相互隔有间隔地分别从所述电阻体向所述检测配线部以线状延伸;
多个检测电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为在所述多个电阻体电极部之间分别从所述检测配线部向所述电阻体线状延伸;以及
触摸电极部,以覆盖所述多个电阻体电极部和所述多个...

【专利技术属性】
技术研发人员:冈村量
申请(专利权)人:SMK株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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