一种薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法技术

技术编号:23603563 阅读:32 留言:0更新日期:2020-03-28 04:58
本发明专利技术公开了一种薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法,包括以下步骤1)对目的层段的砂组展布特征进行描述;2)将得到的叠置砂组进行靶区砂体分期次剥离,得到各小层靶区砂体;3)计算各小层靶区砂体储层关键参数并优选开发靶区;4)利用深度域轨迹控制技术确定各开发靶区真实地质产状并设计水平井轨迹;5)结合钻井测录井信息,开展随钻递进反演,进一步提高靶区信息精度,调整水平井轨迹。本方法提高了水平井深度、地层产状及薄砂体预测的精度,提高了砂体和储层钻遇率,降低钻井风险,实现了河道砂岩气藏的高效开发。

A method of trajectory optimization design and control of horizontal well in thin layer superimposed channel

【技术实现步骤摘要】
一种薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法
本专利技术涉及石油与天然气勘探开发领域,具体涉及一种薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法。
技术介绍
中江气田沙溪庙组气藏三角洲平原—前缘分流河道沉积为主,属于低渗致密气藏,近年来,随着长水平段水平井在该气藏的大规模应用,带动了该气藏产能的突破并显示出良好的经济效益。中江气田沙溪庙组气藏埋深2500~3000m,具有河道窄长(宽度:100~800m,长度:10~35km)、多期叠置(复合相位内有3~4期),储层厚度薄(5~30m)、非均质性强等特点,该类型气藏高效开发的关键在于能够精准刻画窄河道薄砂体储层内幕、精准预测靶区砂体地质真实产状以及有效控制水平井长穿优质砂体储层,确保水平井钻井成功率。水平井轨迹设计和控制是窄河道长水平井高储层钻遇率的两大关键因素,首先河道砂体内幕的刻画是水平井轨迹设计的前提,近些年针对河道砂体内幕主要以运动学、动力学为基础的地震属性,波阻抗属性及分频能量属性,这些方法技术在解决川西中浅层宽度较大(800m以上)、厚度较大的(25m以上)单层河道的砂体边缘检测和储层内幕刻画等,且复合相位内多期次刻画能力有限(1~2期);其次,前期水平井的轨迹地质控制主要在时间域上完成的,该技术缺点深度预测误差较大,轨迹实时调整反应不敏感,地层高陡地区(构造复杂)预测产状精度较低,从而影响了水平井储层钻遇率。
技术实现思路
本专利技术目的在于:针对在具有河道窄长、多期叠置、储层厚度薄及非均质性强的河道砂岩气藏开发时,现有的水平井轨迹设计及控制技术存在深度预测误差大、轨迹控制精度低的问题,提供一种薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法,该方法提高了水平井深度、地层产状及薄砂体预测的精度,提高了砂体和储层钻遇率,降低钻井风险,实现了河道砂岩气藏的高效开发。为了实现上述目的,本专利技术采用的技术方案为:一种薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法,包括以下步骤:a、对目的层段的砂组展布特征进行描述;b、将得到的叠置砂组进行靶区砂体分期次剥离,得到各小层靶区砂体;c、计算各小层靶区砂体储层关键参数并优选开发靶区;d、利用深度域轨迹控制技术确定各开发靶区真实地质产状并设计水平井轨迹;e、结合钻井测录井信息,开展随钻递进反演,进一步提高靶区信息精度,调整水平井轨迹。本专利技术通过对目的层段的砂组展布特征进行描述,得到目的层段砂组的地震相、地质异常边界、河道空间展布特征;采用多期次靶区砂体剥离技术,将砂组多期次河道进行剥离,得到各小层靶区砂体空间展布特征及相关的储层关键参数;利用深度域轨迹控制技术调整提高每个靶区砂体的真实地质产状,得到各小层靶区深度域地质产状及高精度的水平段轨迹;结合钻井测录井信息,开展随钻递进反演,提供更准确的储层物性等相关信息,指导实钻轨迹;该方法提高了水平井深度、地层产状及薄砂体预测的精度,提高了砂体和储层钻遇率,降低钻井风险,实现了河道砂岩气藏的高效开发。作为本专利技术的优选方案,所述步骤a中利用地震多属性分析、分频技术、样本聚类地震相分析和三维相干技术进行地震数据体扫描,得到目的层段的砂组展布特征。通过采用上述分析技术对目的层段的砂组展布特征进行描述,得到目的层段砂组的地震相、地质异常边界、河道空间展布特征等信息。作为本专利技术的优选方案,所述步骤a中分为以下两种情况处理:a1、对于水上约束型河道,即河道外形清楚的情况;a2、对于水下非约束型河道,即河道外形不清楚的情况。作为本专利技术的优选方案,对于a1情况时,采用样本聚类地震相分析技术,把代表同一类沉积相的地震反射波分为一类,并以此来代表同一沉积微相,在一定时窗分析目标波形与参考波形的相似程度,以Manhattan距离代表波形样点之间的采样差异值总和,即:其中M为Manhattan距离,A为A子波,B为B子波,N为子波采样数。作为本专利技术的优选方案,对于a2情况时,采用像素去噪处理,在去噪后的地震数据体上利用小波变换把地震反射成分中的各频率对应的调谐能量识别出来而形成对应频率的能量异常体,赋予每一单频体一种颜色,单频体内不同采样点处依据能量差异赋予此点同种颜色不同的亮度和饱和度,将各单频体同一点处不同颜色的亮度和强度按照RGB混合方式得到对应的颜色值,融合形成属性体。作为本专利技术的优选方案,所述步骤b中在高分辨目标处理基础上,在小层追踪对比线的控制下,利用三维可视化子体追踪技术自动进行河道砂岩的三维空间识别和追踪,并对满足条件的样点进行识别,不同河道赋予不同颜色,不同河道埋深赋予不同颜色。采用多期次靶区砂体剥离技术,将砂组多期次河道进行剥离,实现了复合相位内叠置河道分期次精细刻画,得到各小层靶区砂体空间展布特征信息。作为本专利技术的优选方案,所述步骤c中以波阻抗反演储层参数为例计算如下:OBJFUN=Σ|ri|p+λq(di-si)q+a2Σ(ti-zi)2式中:OBJFUN为目标函数;ri为反射系数;di为地震数据;si为合成地震数据;a为趋势匹配系数;ti为用户定义的趋势;zi为用户定义的控制范围内的阻抗值。作为本专利技术的优选方案,所述步骤d中对于某一道地震数据时深转换公式如下:Di(t)=Vit式中:Di为第i个目的层的深度,i为目的层数,Vi为第i层的地震层速度,t为地震层位双层旅行时。通过深度域轨迹控制技术调整提高每个靶区砂体的真实地质产状,得到各小层靶区深度域地质产状及高精度的水平段轨迹,确保水平段储层深度预测误差控制在5米以内,提高了井轨迹控制精度。综上所述,由于采用了上述技术方案,本专利技术的有益效果是:本专利技术通过对目的层段的砂组展布特征进行描述,得到目的层段砂组的地震相、地质异常边界、河道空间展布特征;采用多期次靶区砂体剥离技术,将砂组多期次河道进行剥离,得到各小层靶区砂体空间展布特征及相关的储层关键参数;利用深度域轨迹控制技术调整提高每个靶区砂体的真实地质产状,得到各小层靶区深度域地质产状及高精度的水平段轨迹;结合钻井测录井信息,开展随钻递进反演,提供更准确的储层物性等相关信息,指导实钻轨迹;该方法提高了水平井深度、地层产状及薄砂体预测的精度,提高了砂体和储层钻遇率,降低钻井风险,实现了河道砂岩气藏的高效开发。附图说明图1为本专利技术中的方法流程图。图2为水上约束型河道实际处理图。图3为水下非约束型河道实际处理前后对比图。图4为对目的层段砂组展布特征描述在四川地区某气藏层系的应用效果图。图5为砂组内纵向叠置和横向频繁迁移的多河道剖面分期次剥离的前后对比图。图6为时间域剖面及深度域轨迹控制剖面图。具体实施方式下面结合附图,对本专利技术作详细的说明。为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法,其特征在于,包括以下步骤:/na、对目的层段的砂组展布特征进行描述;/nb、将得到的叠置砂组进行靶区砂体分期次剥离,得到各小层靶区砂体;/nc、计算各小层靶区砂体储层关键参数并优选开发靶区;/nd、利用深度域轨迹控制技术确定各开发靶区真实地质产状并设计水平井轨迹;/ne、结合钻井测录井信息,开展随钻递进反演,进一步提高靶区信息精度,调整水平井轨迹。/n

【技术特征摘要】
1.一种薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法,其特征在于,包括以下步骤:
a、对目的层段的砂组展布特征进行描述;
b、将得到的叠置砂组进行靶区砂体分期次剥离,得到各小层靶区砂体;
c、计算各小层靶区砂体储层关键参数并优选开发靶区;
d、利用深度域轨迹控制技术确定各开发靶区真实地质产状并设计水平井轨迹;
e、结合钻井测录井信息,开展随钻递进反演,进一步提高靶区信息精度,调整水平井轨迹。


2.根据权利要求1所述的薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法,其特征在于,所述步骤a中利用地震多属性分析、分频技术、样本聚类地震相分析和三维相干技术进行地震数据体扫描,得到目的层段的砂组展布特征。


3.根据权利要求2所述的薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法,其特征在于,所述步骤a中分为以下两种情况处理:
a1、对于水上约束型河道,即河道外形清楚的情况;
a2、对于水下非约束型河道,即河道外形不清楚的情况。


4.根据权利要求3所述的薄层叠置河道水平井轨迹优化设计及控制的方法,其特征在于,对于a1情况时,采用样本聚类地震相分析技术,把代表同一类沉积相的地震反射波分为一类,并以此来代表同一沉积微相,在一定时窗分析目标波形与参考波形的相似程度,以Manhattan距离代表波形样点之间的采样差异值总和,即:



其中M为Manhattan距离,A为A子波,B为B子波,N为子波采样数。


5.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵爽丁蔚楠段永明王荐毕有益于丹谢雄光冯佳陈俊严焕榕彭鑫邓伟飞冯英
申请(专利权)人:中国石油化工股份有限公司中国石油化工股份有限公司西南油气分公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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