确定泥页岩有机孔含量和孔径分布的方法技术

技术编号:23602940 阅读:43 留言:0更新日期:2020-03-28 04:32
本发明专利技术提供一种确定泥页岩有机孔含量和孔径分布的方法,包括:1)利用SEM和HIM对泥页岩样品进行扫描成像;2)基于SEM二次电子图像,根据公式

Determination of organic pore content and pore size distribution of shale

【技术实现步骤摘要】
确定泥页岩有机孔含量和孔径分布的方法
本专利技术涉及页岩气勘探领域,具体涉及一种确定泥页岩有机孔含量和孔径分布的方法。
技术介绍
泥页岩中的页岩气是近些年来重点开发的化石能源,与砂岩、碳酸盐岩等常规储层相比,泥页岩的储层非常致密且孔隙非常小,常规储层的油气主要存储在无机孔隙中,而泥页岩的页岩气主要以吸附和游离的方式存储在有机质孔隙(有机孔)中,因此,对于泥页岩有机孔的含量和孔隙结构(孔径分布)的准确评价直接关系到页岩气资源量的评估和页岩气开发甜点的预测。与常规储层的孔隙相比,泥页岩有机孔的孔径非常小,主要以纳米级孔隙为主(一般介于1-1000nm),常规的一些储层孔隙测试方法便不太适用于泥页岩有机孔的测定。通常,测试泥页岩样品中的有机孔的方法可以分为以下三大类:1)测井解释法,主要依靠测井测到的一系列物理参数根据模型来计算有机孔含量和预测有机孔的孔径分布,这种方法需要很多实测点来标定且预测的结果有待商榷;2)间接法或气体吸附法,例如以高压压汞法来表征孔径大于5nm的孔隙、氮气吸附法来表征孔径2-300nm的孔隙、二氧化碳吸附法来表征孔径本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种确定泥页岩有机孔含量和孔径分布的方法,其特征在于,包括如下步骤:/n1)利用扫描电子显微镜和氦离子显微镜对泥页岩样品进行扫描成像,分别获取SEM二次电子图像和HIM二次电子图像;其中,所述HIM二次电子图像的分辨率不大于1nm;/n2)基于所述SEM二次电子图像,获取有机质总面积V

【技术特征摘要】
1.一种确定泥页岩有机孔含量和孔径分布的方法,其特征在于,包括如下步骤:
1)利用扫描电子显微镜和氦离子显微镜对泥页岩样品进行扫描成像,分别获取SEM二次电子图像和HIM二次电子图像;其中,所述HIM二次电子图像的分辨率不大于1nm;
2)基于所述SEM二次电子图像,获取有机质总面积Vos、孔径为i的有机孔的面积Vpsi、有机孔的总面积Vps,根据公式确定孔径为i的有机孔转化率Tsi;
3)基于所述HIM二次电子图像,获取有机质的总面积Voh、孔径为i的有机孔的面积Vphi、有机孔的总面积Vph,根据公式确定孔径为i的有机孔转化率Thi;
4)在同一坐标系中绘制Tsi与i的交会图、Thi与i的交会图;其中,i∈[1,1000];
5)根据所述坐标系中Tsi与Thi的分布趋势,确定有统计意义和成像意义的孔径区段i∈[1,a]、i∈[b,1000],并恢复孔径i∈(a,b)的有机孔转化率Tni,得到有机孔转化率根据公式或确定有机孔总转化率T;
6)获取所述泥页岩样品中有机质的体积占比根据公式确定有机孔的体积含量根据公式或确定有机孔孔径分布


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述HIM二次电子图像的分辨率为0.5-1nm,所述SEM二次电子图像的分辨率为5nm-50...

【专利技术属性】
技术研发人员:郝进杨继进苏娇吴建国
申请(专利权)人:中国科学院地质与地球物理研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

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