劳厄衍射图谱的标定方法技术

本发明专利技术公开了一种劳厄衍射图谱的标定方法，方法包括以下步骤：求解样品在白光X射线光源能量范围内所有的劳厄衍射峰的米勒指数，在劳厄衍射图谱中获得衍射峰及其位置并将获得的衍射峰标记为实验衍射峰，基于探测器坐标系计算所述实验衍射峰的衍射矢量，计算所述实验衍射峰数量大于预定参数n

Calibration method of Laue diffraction pattern

【技术实现步骤摘要】
劳厄衍射图谱的标定方法
本专利技术属于X射线衍射
，特别是一种劳厄衍射图谱的标定方法。
技术介绍
使用白光X射线光源的劳厄衍射是一种较为常见的晶体材料表征方法，通过对所得劳厄图谱的标定和分析，可以获得包括晶体组成相、取向和应力应变等多种信息。且由于劳厄衍射自身的特征，其在实验时无需改变样品、X射线光源和X射线探测器的几何关系，从而实现了对样品的快速表征。同时借助于实验室白光X射线光源和基于同步辐射装置的白光X射线光源的发展，劳厄衍射被越来越广泛地用在晶体材料的研究与表征中。然而，由于使用白光X射线，劳厄衍射图谱的标定明显复杂于其他X射线衍射数据的标定。现有的标定方法，往往通过直接对比所采集衍射图谱上衍射峰的相对位置与理论上各衍射峰位置来实现对衍射图谱的标定。而由于理论衍射峰的数量极大，所需进行的对比次数极多。对于如较为复杂的矿物样品等有较大晶胞尺寸的样品，由于所采集到的衍射峰的数目也很多，整个标定过程的计算量更大。在普通个人计算机上标定这种衍射图谱往往需要数分钟甚至十几分钟时间。随着实验装置的发展，耗时标定过程逐渐成为限制该项技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种劳厄衍射图谱的标定方法，所述方法包括以下步骤：/n第一步骤(S1)中，求解样品在白光X射线光源能量范围内所有的劳厄衍射峰的米勒指数|h

【技术特征摘要】
1.一种劳厄衍射图谱的标定方法，所述方法包括以下步骤：
第一步骤(S1)中，求解样品在白光X射线光源能量范围内所有的劳厄衍射峰的米勒指数|hjkjlj|，其中j＝1，2，3…m，其中m表示所有出现的劳厄衍射峰的数目；
第二步骤(S2)中，在劳厄衍射图谱中获得衍射峰及其位置并将获得的衍射峰标记为实验衍射峰，基于探测器坐标系计算所述实验衍射峰的衍射矢量并以单位矢量表示，其中i＝1，2，3…n，n表示所述实验衍射峰的总数；
第三步骤(S3)中，计算包含所述实验衍射峰数量大于预定参数np的晶带轴Zi′方向，用单位矢量表示其中，i′＝1，2，3…n′n′表示晶带轴的数目；
第四步骤(S4)中，标定晶带轴Zi′得到晶带轴的米勒指数[ui′vi′wi′]，其中i′＝1，2，3…n′，n′表示晶带轴的数目，标定过程中跳过已被标定过的结果，如果所有标定结果都被跳过或没有得到任何标定结果，则直接判定为标定失败，无需进行以下步骤；
第五步骤(S5)中，计算取向变换矩阵T；
第六步骤(S6)中，对比标定的所述实验衍射峰，如果被标定的所述实验衍射峰的数量小于预定参数n1，则返回第四步骤(S4)；
第七步骤(S7)中，通过衍射峰之间的角度差检测被标定的所述实验衍射峰的标定结果的正确性，若标定正确的实验衍射峰的数目大于等于预定参数n1，则完成标定过程，如果标定正确的实验衍射峰的数量小于预定参数n1，则返回第四步骤(S4)。


2.根据权利要求1所述的方法，其中，优选的，第三步骤(S3)中，以所述探测器坐标系的原点为球心建立单位球壳S，得到垂直所述各实验衍射峰的衍射矢量过所述原点的各平面Pi以及平面Pi与单位球壳S相交的圆Ci，其中i＝1，2，3…n，n表示所述实验衍射峰的总数，在单位球壳S的上半球壳求取多于np个圆Ci相交的交点，每个交点相交的各圆Ci所对应的所述实验衍射峰属于与所述交点对应的晶带轴，晶带轴的方向为以所述探测器坐标系的原点为起点，以所述交点为终点的单位矢量其中i′＝1，2，3…n′，n′表示晶带轴的数目。


3.根据权利要求1所述的方法，其中，第五步骤(S5)中，计算取向变换矩阵T时，基于样品的晶格参数a、b、c、α、β、γ构建坐标转换矩阵M...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈凯，寇嘉伟，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61