品质分析装置及品质分析方法制造方法及图纸

数据汇集部(1)取得品质数据和装置信息数据。条件设定部(3)针对通过数据汇集部(1)取得的品质数据和装置信息数据，设定成为合计对象的数据项目、表示成为品质分析对象的基础条件的基准条件、和表示作为品质分析对象的条件的比较条件。分布差异计算部(4)从通过数据汇集部(1)取得的品质数据和装置信息数据提取满足通过条件设定部(3)设定出的数据项目的基准条件的数据和满足比较条件的数据，针对每个数据项目计算频数分布，输出表示基准条件的频数分布和比较条件的频数分布之间的乖离度的数据。

Quality analysis device and quality analysis method

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】品质分析装置及品质分析方法
本专利技术涉及一种能够对产品的制造工序、试验工序中的趋势变化的要因、产品的不良状况的发生要因进行推定的品质分析装置及品质分析方法。
技术介绍
制造现场的不良状况(品质的波动、成品率的恶化、生产节拍时间的恶化、不合格品的增加、装置的故障等)发生的要因大多通过制造现场的见解、经验来判明。存在如下问题，即，在基于制造现场的见解、经验提取了不良状况的要因候选时，并不明确该不良状况的要因候选是否是真正的不良状况的要因。在提取不良状况的要因时，将从制造现场的制造装置、试验装置所具有的传感器得到的产品的制造条件、试验条件、试验结果这样的信息作为表示产品状态的品质数据而灵活运用是有效的。制造现场的装置由许多传感器构成，通过各个传感器取得电流、温度等与传感器相对应的值作为品质数据。这里，将电流、温度等与传感器对应的品质数据的种类称为数据项目。以往，作为基于上述这样的来自传感器的信息对产品的品质进行分析的装置，存在如下的装置，即，针对每个数据项目，将发生不良状况的产品的品质数据和未发生不良状况的产品的品质数据作为频数分布进行可视化而比较(例如，参照专利文献1)。作业者以往使用这样的装置而确认比较结果，在存在差异变大的数据项目的情况下，将其判断为不良状况的要因候选。专利文献1：日本特开2008-181341号公报
技术实现思路
以往，使用上述专利文献1所记载那样的品质分析装置，将存在不良状况的品质数据的频数分布和没有不良状况的品质数据的频数分布进行比较，由此确定显现出不良状况的特征的数据项目，提取出制造现场的不良状况的候选。但是，在以往的品质分析装置中，是以不良状况的发生为前提的，难以提取虽然未发生不良状况，但逐渐地变化的品质数据。即使发生了不良状况，但由于通过频数分布的比较进行的不良状况要因的提取依赖于对频数分布进行确认的分析者，因此伴随数据项目的增加，确认的负荷也会变高。另外，即使在频数分布中产生了某些差异，但产生差异的原因的推定大多也是根据作业者的经验而定性地进行判断的，难以确定不良状况的要因。本专利技术就是为了解决上述问题而提出的，其目的在于提供一种能够迅速地提取不良状况要因的候补、容易地推测不良状况的发生的品质分析装置以及品质分析方法。本专利技术涉及的品质分析装置具有：数据汇集部，其取得表示品质分析对象物的状态的品质数据和表示对品质分析对象物进行处理的装置的信息的装置信息数据；条件设定部，其针对通过数据汇集部取得的品质数据和装置信息数据，设定成为合计对象的数据项目、表示成为品质分析对象的基础条件的基准条件、和表示作为品质分析对象的条件的比较条件；以及分布差异计算部，其从通过数据汇集部取得的品质数据和装置信息数据提取满足通过条件设定部设定出的数据项目的基准条件的数据和满足比较条件的数据，针对每个数据项目计算频数分布，输出表示基准条件的频数分布与比较条件的频数分布之间的乖离度的数据。专利技术的效果本专利技术涉及的品质分析装置设定成为品质解析对象的数据项目、基准条件和比较条件，针对每个数据项目输出表示基准条件与比较条件之间的乖离度的数据。由此，能够迅速地提取不良状况要因的候选，并且能够容易地推测不良状况的发生。附图说明图1是表示本专利技术的实施方式1的品质分析装置的结构图。图2是本专利技术的实施方式1的品质分析装置的硬件结构图。图3是表示本专利技术的实施方式1的品质分析装置的品质数据的一个例子的说明图。图4是表示本专利技术的实施方式1的品质分析装置的装置信息数据的一个例子的说明图。图5是表示通过本专利技术的实施方式1的品质分析装置的数据种类分类部进行了分类的数据的一个例子的说明图。图6是表示本专利技术的实施方式1的品质分析装置中的条件设定部和分布差异计算部的动作的流程图。图7是表示本专利技术的实施方式1的品质分析装置中的进行了条件设定的画面的说明图。图8是表示本专利技术的实施方式1的品质分析装置中的分布差异计算部的输出数据的说明图。图9是表示本专利技术的实施方式2的品质分析装置的结构图。图10是表示本专利技术的实施方式2的品质分析装置的事件数据的说明图。图11是表示本专利技术的实施方式2的品质分析装置的事件影响解析部的动作的流程图。图12是表示本专利技术的实施方式2的品质分析装置中的要因候选的趋势波形中的要因候选的值的一个例子的说明图。图13是表示本专利技术的实施方式2的品质分析装置中的基于图12的值而得到的趋势波形的说明图。图14是表示本专利技术的实施方式2的品质分析装置中的将趋势波形与事件数据以最接近的日期进行了关联的例子的说明图。图15是本专利技术的实施方式2的品质分析装置中的将图14的值作为波形示出的说明图。具体实施方式下面，为了更详细地说明本专利技术，按照附图说明用于实施本专利技术的方式。实施方式1.图1是本实施方式所涉及的品质分析装置的结构图。本实施方式所涉及的品质分析装置具有：数据汇集部1、数据种类分类部2、条件设定部3、分布差异计算部4。数据汇集部1是取得品质数据和装置信息数据的处理部。数据种类分类部2是通过所设定出的规定的规则对通过数据汇集部1取得的品质数据和装置信息数据进行分类的处理部。条件设定部3是针对通过数据汇集部1取得的数据或者通过数据种类分类部2分类后的数据，对成为合计对象的数据项目、表示成为品质分析的基础条件的基准条件、和表示成为品质分析对象的条件的比较条件进行设定的处理部。分布差异计算部4是从通过数据汇集部1取得的数据或者通过数据种类分类部2分类后的数据提取满足通过条件设定部3设定的条件的数据，针对每个数据项目计算频数分布，输出表示基准条件的数据和比较条件的数据之间的乖离度的数据的处理部。图2是实施方式1的品质分析装置的硬件结构图。图示的品质分析装置使用计算机而构成，具有：处理器101、辅助存储装置102、存储器103、输入接口(输入I/F)104、显示器接口(显示器I/F)105、输入装置106、显示器107、信号线108、线缆109、110。处理器101经由信号线108与其他硬件连接。输入I/F104经由线缆109与输入装置106连接。显示器I/F105经由线缆110与显示器107连接。品质分析装置中的各功能部的功能通过软件、固件、或者软件和固件的组合而实现。软件或者固件被记述为程序，存储于辅助存储装置102。该程序使计算机执行各功能部的流程或者方法。处理器101通过读出、执行辅助存储装置102所存储的程序，从而实现图1中的数据汇集部1～分布差异计算部4的功能。另外，时序数据也存储于辅助存储装置102。并且，频数分布等输出数据也可以存储于辅助存储装置102。辅助存储装置102所存储的程序、品质数据以及装置信息数据被载入至存储器103，处理器101读入该程序、品质数据以及装置信息数据而实现各功能，并且执行各自的处理。执行结果被写入至存储器103，作为输出数据存储于辅助存储装置102，或者经本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种品质分析装置，其特征在于，具有：/n数据汇集部，其取得表示品质分析对象物的状态的品质数据和表示对所述品质分析对象物进行处理的装置的信息的装置信息数据；/n条件设定部，其针对通过所述数据汇集部取得的所述品质数据和所述装置信息数据，设定成为合计对象的数据项目、表示成为品质分析对象的基础条件的基准条件、和表示作为品质分析对象的条件的比较条件；以及/n分布差异计算部，其从通过所述数据汇集部取得的所述品质数据和所述装置信息数据提取满足通过所述条件设定部设定出的所述数据项目的所述基准条件的数据和满足所述比较条件的数据，针对每个所述数据项目计算频数分布，输出表示所述基准条件的所述频数分布与所述比较条件的所述频数分布之间的乖离度的数据。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种品质分析装置，其特征在于，具有：
数据汇集部，其取得表示品质分析对象物的状态的品质数据和表示对所述品质分析对象物进行处理的装置的信息的装置信息数据；
条件设定部，其针对通过所述数据汇集部取得的所述品质数据和所述装置信息数据，设定成为合计对象的数据项目、表示成为品质分析对象的基础条件的基准条件、和表示作为品质分析对象的条件的比较条件；以及
分布差异计算部，其从通过所述数据汇集部取得的所述品质数据和所述装置信息数据提取满足通过所述条件设定部设定出的所述数据项目的所述基准条件的数据和满足所述比较条件的数据，针对每个所述数据项目计算频数分布，输出表示所述基准条件的所述频数分布与所述比较条件的所述频数分布之间的乖离度的数据。


2.根据权利要求1所述的品质分析装置，其特征在于，
具有数据种类分类部，该数据种类分类部将通过所述数据汇集部取得的所述品质数据和所述装置信息数据按所设定的每个种类进行分类，
所述分布差异计算部使用通过所述数据种类分类部分类后的数据而取代通过所述数据汇集部取得的所述品质数据和所述装置信息数据。


3.根据权利要求1或2所述的品质分析装置，其特征在于，
所述条件设定部根据从外部指示的数据项目、基准条件和比较条件，设定所述数...

【专利技术属性】
技术研发人员：上田宜史，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP