一种监测电离辐射剂量的热释光剂量计测量方法技术

本发明专利技术提供一种监测电离辐射剂量的热释光剂量计测量方法，实施步骤如下：S1.通过在每次不同的标准辐照剂量测量后增加一相同剂量的试验剂量并测量，根据测量结果，计算出热释光剂量计的标准释光生长曲线；S2.完成热释光待测剂量计的热释光测量结果，并根据S1中计算的标准释光生长曲线，实现热释光剂量计电离辐射剂量测量。本发明专利技术设计了一种新的热释光剂量计电离辐射剂量测量方法，该方法可忽略各热释光剂量计之间辐射响应不同的缺陷，对热释光剂量计自身辐射响应不敏感，从而实现了热释光剂量计无需均匀性筛选即可用于电离辐射剂量监测，降低了个人和环境的热释光剂量监测成本。

A method of measuring the dose of ionizing radiation by TLD

【技术实现步骤摘要】
一种监测电离辐射剂量的热释光剂量计测量方法
本专利
属于电离辐射的测量
，尤其涉及一种监测电离辐射剂量的热释光剂量计测量方法。
技术介绍
热释光材料的发光原理可基于能带理论解释，能带理论是根据量子力学来研究物体内部电子运动情况的一种理论。组成固态物质的能带可分为导带、价带和禁带等，导带与价带之间的空隙称之为能隙。如图1所示，1为电离辐射；2为电离激发；3为电子-空穴俘获；4为热激发；5为电子-空穴重新结合；6为热释光材料发射荧光；(a)、(b)分别为电子陷阱和空穴陷阱，热释光材料受电离辐射作用时，热释光材料中价带的电子受激跃迁至导带，留下空穴在价带。受激跃迁至导带的电子可以在晶格中自由移动，自由电子将动能消耗后会和价带空穴或被电子陷阱和空穴陷阱(复合中心)俘获。其中，电子陷阱中俘获电子的浓度与受激导带电子数量成正比，即能反映热释光材料所受电离辐射的总剂量的大小。使用一定温度对热释光材料进行加热，电子陷阱中的电子受热逃离，与空穴陷阱中的空穴重新结合，退激并释放出特定波长的光子。通过测量释放出光子的数量就可以确定热释光材料所受到电离辐射本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种监测电离辐射剂量的热释光剂量计测量方法，其特征在于，步骤如下：/nS1.计算出热释光剂量计的标准释光生长曲线/n步骤1.将从待使用的一批热释光剂量计中选取一部分放入退火炉，以清除热释光剂量计中原有的剂量信息；/n步骤2.将退火后的热释光剂量计放入标准辐照场中，辐照相同的标准剂量，称为再生剂量R

【技术特征摘要】
1.一种监测电离辐射剂量的热释光剂量计测量方法，其特征在于，步骤如下：
S1.计算出热释光剂量计的标准释光生长曲线
步骤1.将从待使用的一批热释光剂量计中选取一部分放入退火炉，以清除热释光剂量计中原有的剂量信息；
步骤2.将退火后的热释光剂量计放入标准辐照场中，辐照相同的标准剂量，称为再生剂量R1；
步骤3.完成辐照再生剂量R1剂量后，热释光剂量计使用热释光测量仪进行热释光测量，并记录热释光计数，记作L1；
步骤4.将释光后的热释光剂量计放入退火炉中，以清除之前标准剂量的残余部分；
步骤5.将退火后的热释光剂量计放入标准辐照场中，辐照相同的标准剂量，称为试验剂量，记作DT；
步骤6.将辐照试验剂量后的热释光剂量计使用热释光测量仪进行热释光测量，并记录热释光计数，记作T1；
步骤7.重复步骤2-6，循环i次，每次循环测量热释光剂量计辐照不同的再生剂量，依次记为R2、R3、……、Ri，并记录下相应的热释光计数L2、L3、……、Li，试验剂量DT保持不变，并记录下每次测量的热释光计数T2、T3、……、Ti；；
步骤8.分别计算出每个再生剂量的热释光剂量计的L/T，将计算出的L/T及与之对应的再生剂量R投影到以L/T为纵坐标，再生剂量R为横坐标的坐标系中，并使用最小二乘法拟合出该批次热释光剂量计的标准释光生长曲线；
S2.用步骤1中测量出的标准释光生长曲线进行热释光剂量计电离辐射剂量测量
步骤1.将所有热释光剂量计放入退火炉退火处理后，即可放置于需要电离辐射剂量监测的区域或个体...

【专利技术属性】
技术研发人员：谷懿，王猛，葛良全，张庆贤，林文钊，
申请(专利权)人：成都理工大学，
类型：发明
国别省市：四川;51