一种低辐射复合薄膜的性能研究方法技术

本发明专利技术公开了一种低辐射复合薄膜的性能研究方法，包括以下步骤：S1：光学性能测试:利用Lambda950型紫外/可见/红外光谱仪测定薄膜的近红外透过率；S2：可见光光学性能测试；S3：方块电阻的测试:用双电测四探针测试仪检测银膜的方块电阻；S4：显微硬度测试:显微硬度计对薄膜进行硬度测试；S5：薄膜厚度测试:采用多波长型椭圆偏振仪进行单晶硅基片上氮化锆薄膜的椭偏光谱测量；S6：低辐射薄膜的耐湿实验；S7：镀膜样品的理化性能测试。本发明专利技术主要针对一种低辐射复合薄膜的性能研究方法，本发明专利技术方便使用者后期对照片进行对比和观察，能够对知晓项目的短板，从而能够使工作人员明确薄膜的后续研究和发展。

A study method of properties of low radiation composite films

【技术实现步骤摘要】
一种低辐射复合薄膜的性能研究方法
本专利技术涉及复合薄膜
，具体为一种低辐射复合薄膜的性能研究方法。
技术介绍
低辐射薄膜是在大面积玻璃镀膜发展进程中发展起来的，1941至1945年二战期间，为消除雷达屏幕上影响搜索效率的静电，美国匹兹堡平板玻璃公司(PPG)和梅隆研究所联合开发了表面镀膜玻璃，即"NESA"玻璃；1950年，英国皮尔金顿公司取得了浮法玻璃的生产设计专利，并迅速推广1960年，美国PPG公司采用高温热解法生产出具有光和热反射功能的镀膜玻璃，同时，法国圣戈班公司采用真空蒸发间歇沉积镀膜玻璃"LOF公司采用电子束蒸发技术建立了世界上第一条半连续镀膜生产线，蒸镀金属铝，并以Si0，为保护膜1971年，美国Airco公司专利技术了高效磁控溅射平面靶，所有这些玻璃镀膜技术的发展为开发低辐射镀膜玻璃技术创造了条件。由于1973年石油禁运引起了能源危机，西方世界由此开展了一场直到今天仍然持续的节能运动，从而大批节能设备，节能方法应运而生，低辐射玻璃即是一种，1975年前后欧洲市场上已经流行一种金膜层低辐射玻璃，但是金的价格昂贵，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低辐射复合薄膜的性能研究方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：光学性能测试:利用Lambda950型紫外/可见/红外光谱仪测定薄膜的近红外透过率，得到380～2500nm波长范围内的可见/近红外透射和反射光谱曲线；/nS2：可见光光学性能测试:紫外-可见分光分度计来检测薄膜的可见透过率，进而得到380-800nm波长范围内的可见透射谱；/nS3：方块电阻的测试:用双电测四探针测试仪检测银膜的方块电阻，采用显微镜观测薄膜表面情况，拍摄照片记录，并对应到项目步骤；/nS4：显微硬度测试:显微硬度计对薄膜进行硬度测试，所加荷载为10g，显微镜放大倍数为400倍，采用显微镜观测薄膜表面情况...

【技术特征摘要】
1.一种低辐射复合薄膜的性能研究方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：光学性能测试:利用Lambda950型紫外/可见/红外光谱仪测定薄膜的近红外透过率，得到380～2500nm波长范围内的可见/近红外透射和反射光谱曲线；
S2：可见光光学性能测试:紫外-可见分光分度计来检测薄膜的可见透过率，进而得到380-800nm波长范围内的可见透射谱；
S3：方块电阻的测试:用双电测四探针测试仪检测银膜的方块电阻，采用显微镜观测薄膜表面情况，拍摄照片记录，并对应到项目步骤；
S4：显微硬度测试:显微硬度计对薄膜进行硬度测试，所加荷载为10g，显微镜放大倍数为400倍，采用显微镜观测薄膜表面情况，拍摄照片记录，并对应项目步骤；
S5：薄膜厚度测试:采用多波长型椭圆偏振仪进行单晶硅基片上氮化锆薄膜的椭偏光谱测量，分析波长范围245～1000mm的紫外到可见区，入射角度70度，测量误差0.3A，光束直径为2mm；
S6：低辐射薄膜的耐湿实验，将样品垂直置于密闭的容器中历时336h，容器中的温度保持在50℃±2℃，相对湿度为95％±4％，采用显微镜观测薄膜表面的腐蚀情况，拍摄照片记录，并对应到项目步骤；
S7：镀膜样品的理化性能测试为以下步骤：
a：薄膜牢固度测试:将透明胶纸粘在样品上，连续循环撕下、粘贴在薄膜上，定性表征薄膜与基体的附着力好坏，拍摄照片记录薄膜表面情况，并对应到项目步骤；
b：耐酸测试:配制适量0.001molL的HNO溶液，浸泡24小时，取出来清洗好后，晾干，观测复合膜外观的变化，然后测定其可见光透过率，采用显微镜观测薄膜表面情况，拍摄照片记录，并对应到项目步骤；
c：耐碱测试:配制适量1molL的NaOH溶液，...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄丽莎，姜菊美，
申请(专利权)人：江苏奥蓝工程玻璃有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32