【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于集成电路的预测性维护的方法和系统
本专利技术一般涉及电子系统和电路，尤其是集成电路、诸如专用集成电路（ASIC）和现场可编程门阵列（FPGA）的领域。特别是，本专利技术涉及一种用于电子器件的预测性维护的方法，该电子器件被实施为集成电路，尤其实施为ASIC或FPGA。该电子器件在至少一个位置具有传感器，在该电子器件运行期间，由这些传感器来确定在该至少一个位置上的系统参数和信号渡越时间。此外，本专利技术也涉及一种所属的用于电子器件的预测性维护的系统。
技术介绍
在很多复杂的系统、诸如用于机器和设施的控制和调节系统、计算机系统、生产设施、车辆和飞机、推进装置等等中，尤其是在安全关键的应用的情况下，总系统的可靠性是重要因素。总系统的系统可靠性尤其可能受到各个系统组件或者部件或所基于的电子器件的使用寿命的强烈影响，其中通常如下时间被称作系统组件或电子器件的使用寿命，在该时间内，该系统组件或电子器件可以在不更换或没有完全失灵的情况下使用。为了提高系统的系统可靠性或功能安全性，通常冗余地构造关键的系统组件或部件。也就是说，除了...
【技术保护点】
1.一种用于电子器件（BE）的预测性维护的方法，所述电子器件实施为集成电路，尤其是实施为专用集成电路或实施为所谓的现场可编程门阵列，而且其中所述电子器件（BE）在至少一个位置（P1、P2）上具有传感器（T1、U1、LZ1、T2、U2、LZ2），所述传感器在运行期间确定在所述至少一个位置（P1、P2）上的系统参数以及信号渡越时间的当前值，其特征在于，安装在所述电子器件（BE）中的中央监控单元（UW）询问（1）所述系统参数和所述信号渡越时间的当前由所述传感器（T1、U1、LZ1、T2、U2、LZ2）在所述至少一个位置（P1、P2）上确定的值；依据所述系统参数的当前所确定的值来确...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170719 EP 17182034.31.一种用于电子器件（BE）的预测性维护的方法，所述电子器件实施为集成电路，尤其是实施为专用集成电路或实施为所谓的现场可编程门阵列，而且其中所述电子器件（BE）在至少一个位置（P1、P2）上具有传感器（T1、U1、LZ1、T2、U2、LZ2），所述传感器在运行期间确定在所述至少一个位置（P1、P2）上的系统参数以及信号渡越时间的当前值，其特征在于，安装在所述电子器件（BE）中的中央监控单元（UW）询问（1）所述系统参数和所述信号渡越时间的当前由所述传感器（T1、U1、LZ1、T2、U2、LZ2）在所述至少一个位置（P1、P2）上确定的值；依据所述系统参数的当前所确定的值来确定（2）对于在所述至少一个位置（P1、P2）上的信号渡越时间来说相应有效的极限值；而且在所述至少一个位置（P1、P2）上的信号渡越时间的当前所确定的值超过所述相应有效的极限值时将报告发送（3）给上级层（GS）。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述电子器件（BE）中安装在所述至少一个位置（P1、P2、P3）上的传感器（T1、U1、LZ1、T2、U2、LZ2、T3、U3、LZ3）被组合成至少一个监控元件（UE1、UE2、UE3）。
3.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，确定对于在所述至少一个位置（P1、P2）上的信号渡越时间来说相应有效的极限值，使得分别确定的有效的极限值低于（2）对于在所述至少一个位置（P1、P2）上的信号渡越时间来说关键的值。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，在运行期间，所述中央监控单元（UW）持续地或在预先给定的周期性的自测试阶段期间询问（1）所述系统参数和所述信号渡越时间的当前由所述传感器（T1、U1、LZ1、T2、U2、LZ2）在所述至少一个位置（P1、P2）上确定的值。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，为了确定在所述至少一个位置（P1、P2）上的系统参数和信号渡越时间，使用如下传感器（T1、U1、LZ1、T2、U2、LZ2），所述传感器被用于损耗功率最小化（1）。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：M马特施尼格，F艾彭斯泰纳，B菲舍尔，M嘉米施路，T欣特斯托赛尔，H陶赫尔，
申请(专利权)人：西门子股份公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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