显示母板、显示面板及电子泄漏的测试方法技术

技术编号:23471716 阅读:19 留言:0更新日期:2020-03-06 13:23
本发明专利技术实施例提供一种显示母板、显示面板及电子泄漏的测试方法,显示母板具有多个显示面板和位于显示面板之间连接区,显示母板包括设置于连接区或者显示面板的非显示区的测试组件,测试组件包括:单基色测试单元,单基色测试单元包括至少一个第一子像素,第一子像素包括依次层叠设置的第一像素电极、第一发光结构和第一公共电极;高压输入端,连接于至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极;低压输入端,连接于除与高压输入端连接的单基色测试单元以外的、其他颜色中至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极。本发明专利技术实施例的显示母板能够用于检测是否发生横向电子泄漏。

Test method for leakage of display motherboard, display panel and electronic

【技术实现步骤摘要】
显示母板、显示面板及电子泄漏的测试方法
本专利技术涉及显示设备
,尤其涉及一种显示母板、显示面板及电子泄漏的测试方法。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLightEmittingDisplay,OLED)显示装置作为平面显示装置,因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点,而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品,成为显示装置中的主流。在OLED显示装置的生产过程中,如果能够准确测试OLED发光元件的特性,对掌握OLED显示装置的使用寿命、判断OLED显示装置是否存在缺陷等方面将会存在积极作用。因此,亟需一种能够检测显示面板是否存在缺陷的显示母板、显示面板及电子泄漏的测试方法。
技术实现思路
本专利技术的专利技术目的在于能够检测显示面板是否发生横向电子泄漏。一方面,本专利技术实施例提供了一种显示母板,显示母板具有多个显示面板和位于显示面板之间连接区,显示面板具有显示区和非显示区,显示母板包括设置于连接区和/或非显示区的测试组件,测试组件包括:对应于不用基色的两个以上单基色测试单元,单基色测试单元包括至少一个第一子像素,第一子像素包括依次层叠设置的第一像素电极、第一发光结构和第一公共电极;高压输入端,连接于至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极;低压输入端,连接于除与高压输入端连接的单基色测试单元以外的、其他颜色中至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极。根据本专利技术一方面的实施方式,单基色测试单元中第一子像素的个数为多个,且单基色测试单元中至少两个第一子像素的第一像素电极相互连接,高压输入端和/或低压输入端连接于相互连接的第一像素电极。根据本专利技术一方面前述任一实施方式,第一像素电极背离第一发光结构的一侧设置有导电引线,单基色测试单元中至少两个第一子像素的第一像素电极通过导电引线相互连接。根据本专利技术一方面前述任一实施方式,高压输入端连接于第一子像素的第一像素电极,或者高压输入端连接于导电引线。根据本专利技术一方面前述任一实施方式,低压输入端连接于第一子像素的第一像素电极,或者低压输入端连接于导电引线。根据本专利技术一方面前述任一实施方式,测试组件包括三种不同的基色;三种不同基色的单基色测试单元中的二者连接于高压输入端,另一者连接于低压输入端;或者,三种不同基色的单基色测试单元中的二者连接于低压输入端,另一者连接于高压输入端。根据本专利技术一方面前述任一实施方式,测试组中的多个第一子像素按照预设规律排布;单基色测试单元由按照预设规律排布形成的多个第一子像素中相同颜色的第一子像素构成。根据本专利技术一方面前述任一实施方式,显示区内设置有多个第二子像素,多个第一子像素的排布规律和多个第二子像素的排布规律相同。另一方面,本专利技术实施例还提供了一种显示面板,显示面板具有显示区和非显示区,非显示区域设置有测试组件,测试组件包括:单基色测试单元,单基色测试单元包括至少一个第一子像素,第一子像素包括依次层叠设置的第一像素电极、第一发光结构和第一公共电极;高压输入端,连接于至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极;低压输入端,连接于除与高压输入端连接的单基色测试单元以外的、其他颜色中至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极。又一方面,本专利技术实施例还提供了一种电子泄漏的测试方法,用于测试上述的显示母板和/或显示面板,方法包括:向高压输入端施加第一电压,向低压输入端施加第二电压,且第一电压大于第二电压;获取高压输入端和低压输入端之间的电流值和/或电阻值;根据电流值和/或电阻值确定连接于高压输入端的单基色测试单元和连接于低压输入端的单基色测试单元之间是否发生电子泄漏。在本专利技术实施例的显示母板中,显示母板包括测试组件,测试组件包括单基色测试单元、高压输入端和低压输入端。高压输入端连接于至少一种颜色的单基色测试单元的第一像素电极,低压输入端连接于另外一种颜色的单基色测试单元的第一像素电极,高压输入端和低压输入端连接于不同颜色的单基色测试单元的第一像素电极。在对显示模板进行测试时,向高压输入端输入低电压,并向低压输入端输入低电压,通过检测高压输入端和低压输入端之间的电流值和/或电阻值能够判断该两种颜色不同的单基色测试单元之间是否发生电子泄漏。因此,本专利技术实施例的显示母板能够用于检测是否发生横向电子泄漏。附图说明通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述,本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显,其中,相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。图1是本专利技术实施例提供的一种显示母板的结构示意图;图2是本专利技术实施例提供的一种测试组件的结构示意图;图3为图2的局部剖视图;图4为图1的局部剖视图;图5为本专利技术实施例提供的一种电子泄漏的检测方法的流程示意图。附图标记说明:100、显示面板;100a、显示区;100b、非显示区;110、第二子像素;111、第二像素电极;112、第二发光结构;113、第二公共电极;114、驱动阵列层;200、连接区;300、测试组件;300a、单基色测试单元;310、第一子像素;311、第一像素电极;312、第一发光结构;313、第一公共电极;314、辅助层;320、导电引线;330、高压输入端;340、低压输入端。400、衬底;500、盖板;600、光取出层;700、第一盲孔;800、第二盲孔。具体实施方式下面将详细描述本专利技术的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中,提出了许多具体细节,以便提供对本专利技术的全面理解。但是,对于本领域技术人员来说很明显的是,本专利技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本专利技术的示例来提供对本专利技术的更好的理解。在附图和下面的描述中,至少部分的公知结构和技术没有被示出,以便避免对本专利技术造成不必要的模糊;并且,为了清晰,可能夸大了部分结构的尺寸。此外,下文中所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在本专利技术的描述中,需要说明的是,除非另有说明,“多个”的含义是两个以上;术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。下述描述中出现的方位词均为图中示出的方向,并不是对本专利技术的实施例的具体结构进行限定。在本专利技术的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示母板,其特征在于,所述显示母板具有多个显示面板和位于所述显示面板之间连接区,所述显示面板具有显示区和非显示区,所述显示母板包括设置于所述连接区和/或所述非显示区的测试组件,所述测试组件包括:/n对应于不同基色的两个以上单基色测试单元,所述单基色测试单元包括至少一个第一子像素,所述第一子像素包括依次层叠设置的第一像素电极、第一发光结构和第一公共电极;/n高压输入端,连接于至少一种颜色的所述单基色测试单元中所述第一子像素的所述第一像素电极;/n低压输入端,连接于除与所述高压输入端连接的所述单基色测试单元以外的、其他颜色中至少一种颜色的所述单基色测试单元中所述第一子像素的所述第一像素电极。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示母板,其特征在于,所述显示母板具有多个显示面板和位于所述显示面板之间连接区,所述显示面板具有显示区和非显示区,所述显示母板包括设置于所述连接区和/或所述非显示区的测试组件,所述测试组件包括:
对应于不同基色的两个以上单基色测试单元,所述单基色测试单元包括至少一个第一子像素,所述第一子像素包括依次层叠设置的第一像素电极、第一发光结构和第一公共电极;
高压输入端,连接于至少一种颜色的所述单基色测试单元中所述第一子像素的所述第一像素电极;
低压输入端,连接于除与所述高压输入端连接的所述单基色测试单元以外的、其他颜色中至少一种颜色的所述单基色测试单元中所述第一子像素的所述第一像素电极。


2.根据权利要求1所述的显示母板,其特征在于,所述单基色测试单元中所述第一子像素的个数为多个,且所述单基色测试单元中至少两个所述第一子像素的所述第一像素电极相互连接,所述高压输入端和/或所述低压输入端连接于相互连接的所述第一像素电极。


3.根据权利要求2所述的显示母板,其特征在于,所述第一像素电极背离所述第一发光结构的一侧设置有导电引线,所述单基色测试单元中至少两个所述第一子像素的所述第一像素电极通过所述导电引线相互连接。


4.根据权利要求3所述的显示母板,其特征在于,所述高压输入端连接于所述第一子像素的所述第一像素电极,或者所述高压输入端连接于所述导电引线。


5.根据权利要求3所述的显示母板,其特征在于,所述低压输入端连接于所述第一子像素的所述第一像素电极,或者所述低压输入端连接于所述导电引线。


6.根据权利要求1所述的显示母板,其特征在于,所述测试组件包括三种不同基色;
三种不同基色的所述单基色测...

【专利技术属性】
技术研发人员:范文志刘小朋刘明星张九占蔡伟民朱超朱翩吴蕴泽董正逵鲍奇
申请(专利权)人:合肥维信诺科技有限公司
类型:发明
国别省市:安徽;34

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