一种低剖面双极化宽角度扫描平板相控阵天线制造技术

技术编号:23432832 阅读:74 留言:0更新日期:2020-02-25 13:38
本发明专利技术涉及微波天线技术领域,具体涉及一种低剖面双极化宽角度扫描平板相控阵天线,包括自上而下依次设置的介质基板和地板,所述介质基板的上表面均匀设置有多个单元天线,所述单元天线包括由内而外依次设置的圆形贴片、圆环贴片和方环形贴片,所述圆形贴片内设置有圆形贴片加载缝隙,所述圆环贴片内设置有圆环贴片加载缝隙,所述单元天线还包括第一激励探针、第二激励探针、第三激励探针和方环形短路探针阵列。本发明专利技术每个单元天线能够同时激励起圆形贴片的TM

A low profile dual polarization wide angle scanning planar phased array antenna

【技术实现步骤摘要】
一种低剖面双极化宽角度扫描平板相控阵天线
本专利技术涉及微波天线
,具体涉及一种低剖面双极化宽角度扫描平板相控阵天线。
技术介绍
阵列天线能够通过电磁波在空间中的干涉作用形成单元天线所辐射方向图的叠加进而达成高方向性的效果,然而高方向性的代价是波数覆盖范围的减小。为了提升阵列天线的波束覆盖,机械转动辅助扫描的方式早期被采用,这种扫描机制往往受限于机械转动的速度与精度。二十世纪六十年代以来,随着集成电路与半导体技术的发展,相控阵天线逐渐引起研究者们的注意,其能够实现高精度的实时扫描波束切换。平板相控阵天线是一种具有低剖面、低成本以及易于安装集成等优点的相控阵天线,在现代军事与民用应用中具有突出的应用前景。然而限制平板相控阵天线应用的一大难题是其较窄的波束扫描范围,这主要是由于阵列单元天线一般具有较窄的波束宽度所造成的,因此实现宽角扫描平板相控阵天线的关键技术在于扩展单元天线的波束宽度。为了解决这一问题,表面波辅助技术、镜像原理以及方向图可重构技术等方法被引入到阵列单元的设计中以提高其辐射波束宽度,进而实现宽角扫描相控阵天线的设计。其本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低剖面双极化宽角度扫描平板相控阵天线,其特征在于,包括自上而下依次设置的介质基板和地板,所述介质基板的上表面设有多个单元天线,所述单元天线包括由内而外依次设置的圆形贴片、圆环贴片和方环形贴片,所述圆形贴片内设置有圆形贴片加载缝隙,所述圆环贴片内设置有圆环贴片加载缝隙,所述单元天线还包括第一激励探针、第二激励探针、第三激励探针和方环形短路探针阵列,所述第一激励探针、第二激励探针的顶部分别依次穿过地板、介质基板,并与圆形贴片连接,所述第三激励探针的顶部依次穿过地板、介质基板,并与圆环贴片连接,所述方环形短路探针阵列与方环形贴片对应设置,方环形短路探针阵列的两端分别与地板和方环形贴片连接。/...

【技术特征摘要】
1.一种低剖面双极化宽角度扫描平板相控阵天线,其特征在于,包括自上而下依次设置的介质基板和地板,所述介质基板的上表面设有多个单元天线,所述单元天线包括由内而外依次设置的圆形贴片、圆环贴片和方环形贴片,所述圆形贴片内设置有圆形贴片加载缝隙,所述圆环贴片内设置有圆环贴片加载缝隙,所述单元天线还包括第一激励探针、第二激励探针、第三激励探针和方环形短路探针阵列,所述第一激励探针、第二激励探针的顶部分别依次穿过地板、介质基板,并与圆形贴片连接,所述第三激励探针的顶部依次穿过地板、介质基板,并与圆环贴片连接,所述方环形短路探针阵列与方环形贴片对应设置,方环形短路探针阵列的两端分别与地板和方环形贴片连接。


2.根据权利要求1所述的一种低剖面双极化宽角度扫描平板相控阵天线,其特征在于,所述圆形贴片加载缝隙包括多个U型加载缝隙和多个弧形加载缝隙,所述U型加载缝隙、弧形加载缝隙依次交替、首尾相连、闭合成环设置。


3.根据权利要求2所述的一种低剖面双极化宽角度扫描平板相控阵天线,其特征在于,所述弧形加载缝隙位于同一圆周上。


4.根据权利要求2所述的一种低剖面双极化宽角度扫描平板相控阵天线,其特征在于,所述圆形贴片加载缝隙包括四个U型加载缝隙和四个弧形加载缝隙。


5.根据权利要求2所述的一种低剖面双极化宽角度扫描平板相...

【专利技术属性】
技术研发人员:程友峰彭樊廖成
申请(专利权)人:西南交通大学
类型:发明
国别省市:四川;51

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