一种多维视角量测治具制造技术

本发明专利技术提供一种多维视角量测治具，包括检测探头和支撑单元；所述检测探头通过支撑单元中的伸缩部件实现垂直方向上检测视角的变化，通过支撑单元中的滑块配合导轨实现水平方向上检测角度的变化，伸缩部件与滑块相配合实现治具的多维视角量测功能，治具各部分可拆卸，携带方便，检测探头可依需更换，能满足不同结构和尺寸的检测要求。

A multi-dimensional measuring tool

【技术实现步骤摘要】
一种多维视角量测治具
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种多维视角量测治具。
技术介绍
在显示技术快速发展的今天，液晶显示装置和OLED显示装置作为显示产品中的主流产品被得到广泛应用，各种电子产品中都有其身影。由于在不同视角下观看显示面板会出现亮度、色度等参数变化的问题，影响视觉体验，显示面板在进入市场前都需经过一系列测试及量测，以保证显示面板的品质。在液晶显示面板中，不同视角下的色度信息和亮度信息较最佳视角下的色度信息与亮度信息变化较大，为解析液晶显示面板的暗态视角或暗态色点问题，需要对面板在不同视野角度下的亮度信息和色度信息进行准确的测量。在OLED显示面板中，显示面板的色度与亮度由各子像素的输出组合决定，但由于生产差异的存在，各像素之间的亮度也会存在差异，由此又会导致色彩精度降低，显示面板上出现色彩不均的问题。相较液晶显示面板来说，OLED显示面板在不同视角下的色度和亮度变化较小，但相对最佳视角下的显示色度与显示亮度仍存在轻微变化，所以也需对面板在不同视野角度下的亮度信息和色度信息进行准确测量。在量子点(QD)偏光片项目中，为改善大视角偏黄的问题，会在量子点体系中分散扩散粒子，以用来扩大蓝光视角，这就需要测试扩散粒子分散至量子点体系后在不同视角下的亮度信息。目前的检测装置难以满足上述需求，无法测试出不同视角与不同维度下的显示面板或量子点的光信息。
技术实现思路
本专利技术提供一种多维视角量测治具，能够实现显示面板不同视角下的光信息的检测，以解决现有的检测治具检测角度单一，无法实现多维视角检测的问题。为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：本专利技术提供一种多维视角量测治具，包括：检测探头和支撑单元；所述支撑单元包括设置有透光区和导轨的底座、与导轨配合使用的滑块以及垂直方向上可伸缩的伸缩部件，所述伸缩部件底端与所述滑块连接，所述伸缩部件顶端设置有探头固定结构，所述探头固定结构用于支撑所述检测探头；所述检测探头通过弹性软管与所述底座相连。其中，所述检测探头通过所述伸缩部件、所述滑块配合所述导轨实现多维检测视角的转换，实现对显示面板及量子点的光信息的多维视角检测。根据本专利技术一优选实施例，所述检测探头可以为CA310、CA410或者其他具有较高测量精度的探头的其中一种，以满足不同显示面板或量子点偏光片项目的要求。根据本专利技术一优选实施例，所述透光区为圆形通孔，设置于所述底座的中心处，所述检测探头的光采集区与所述通孔相对，以便被测光可以最短距离通过所述透光区进入所述检测探头内部；所述透光区的顶部可高于所述底座顶部，也可与所述底座顶部平齐。若所述透光区顶部高于所述底座顶部，即所述通孔上设置有筒体，所述通孔与所述筒体共同组成透光区；所述透光区的内缘为圆形，尺寸与所述检测探头尺寸相匹配；所述透光区的外缘可为圆形或多边形的一种或组合；所述外缘与内缘之间的距离需能够容纳所述光采集区底部的一端与所述筒体顶部相接触的部分，以便为所述检测探头在垂直方向提供一个固定支撑点。若所述透光区顶部与所述底座顶部平齐，所述透光区的内缘仍为圆形，尺寸与所述检测探头尺寸相匹配；所述透光区的外缘与所述底座融为一体；所述光采集区底部的一端与所述底座相接触的部分落于所述底座上，也即所述底座为所述检测探头在竖直方向提供一个固定支撑点。根据本专利技术一优选实施例，所述导轨为以所述底座中心为圆心的圆形，设置在所述透光区的外侧，所述导轨至少包含两条轨道，所述两条轨道间隔一定距离布置于所述底座上；所述导轨可为凹槽结构或凸起结构。所述滑块底部设置有与所述导轨相配合的嵌合结构，即若所述导轨为凹槽结构时，所述滑块底部设置凸起结构；若所述导轨为凸起结构时，所述滑块底部设置凹槽结构；所述凸起结构的高度与所述凹槽结构的深度相等，以保证所述滑块未设置嵌合结构的部分与所述底座相接触，增大接触面，保证滑块在底座上的稳定性。根据本专利技术一优选实施例，所述伸缩部件与所述滑块可一体设置，也可分成两部分设置。所述伸缩部件至少包含两节伸缩件；所述伸缩件的横向尺寸随所述伸缩部件的伸展方向略有减小。具体地，与所述滑块接触的第一伸缩件的横向尺寸最大，且该所述第一伸缩件至少有一端设有开孔；位于所述伸缩部件顶端的第三伸缩件的横向尺寸最小，且该第三伸缩部件有一端设置有探头固定结构；位于所述第一伸缩件和所述第三伸缩件之间的伸缩件为第二伸缩件，所述第二伸缩件的横向尺寸随所述伸缩部件的伸展方向依次减小，且所述第二伸缩件至少一端设有开孔，以便位于收缩方向上的所述第二伸缩件和第三伸缩件可被收纳进所述第一伸缩件中。当所述伸缩部件包含两节伸缩件时，可不设置所述第二伸缩件，只设置所述第一伸缩件和所述第三伸缩件即可。根据本专利技术一优选实施例，所述弹性软管采用折叠式软管，所述弹性软管一端与所述底座固定连接，连接点位于所述透光区附近；另一端与所述检测探头以可拆卸、不固定的形式相连，以保证所述检测探头在水平方向转动时软管不发生扭曲。根据本专利技术一优选实施例，所述检测探头在垂直方向上的检测角度由所述伸缩部件决定，理论上所述伸缩部件配合所述检测探头在垂直方向的检测夹角为0°～90°。但对于实际的检测来说，0°的检测是没有意义的，在90°时是可以不用治具或不用多维视角治具就可实现的，所以依据设计的尺寸和结构计算，检测夹角为15°～75°。所述检测探头在0°～15°和75°～90°范围时，所述伸缩部件对所述检测探头的支撑作用减弱，影响所述检测探头的固定，进而可能会对检测精度造成影响。所述检测探头在水平方向上的检测角度由所述伸缩部件配合所述滑块决定，水平方向上的检测夹角为0°～360°。根据本专利技术一优选实施例，待测面板放置于所述底座下方，与所述底座相贴合，所述透光区的位置即测试位置，被测光经所述透光区进入所述检测探头的所述光采集区，实现检测功能。由于所述待测面板与所述底座直接贴合，所述被测光进入所述检测探头的距离较短，所以得到的检测结果的精度较高。根据本专利技术一优选实施例，在量子点偏光片项目中，为实现对量子点的发光测试，需将扩散粒子分散在量子点体系中，然后将其刮涂成膜，贴覆在面板的背光上，检测时将其放置在所述底座下，以完成对量子点的检测。根据本专利技术一优选实施例，所述检测探头、所述伸缩部件以及所述滑块可拆卸，携带方便；所述检测探头可依据不同需求进行更换，能满足不同尺寸面板的检测要求。本专利技术的有益效果为：相较于现有的量测治具，本专利技术的量测治具通过在支撑单元上设置伸缩部件、滑块及导轨，实现量测治具多维视角的检测功能。利用伸缩部件支撑检测探头实现在垂直方向上检测视角的变换，利用滑块配合导轨实现在水平方向上检测视角的变换，利用伸缩部件与滑块相配合，实现量测治具多维视角检测的功能，可解决现有治具检测角度单一的技术问题；量测治具简单轻便，各结构可拆卸，便于携带；检测探头可依据不同检测要求进行更换，能实现不同尺寸面板的精确检测。附图说明为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多维视角量测治具，其特征在于，包括检测探头和支撑单元；/n所述支撑单元至少包括：/n底座，所述底座内设置有透光区和导轨；/n滑块，所述滑块与所述导轨配合设置，使所述滑块在所述底座内做圆周运动；/n伸缩部件，所述伸缩部件底端与所述滑块连接，顶端支撑所述检测探头，所述伸缩部件支撑所述检测探头在垂直方向上实现检测视角的转换；以及，/n弹性软管，连接所述检测探头和所述底座。/n

【技术特征摘要】
1.一种多维视角量测治具，其特征在于，包括检测探头和支撑单元；
所述支撑单元至少包括：
底座，所述底座内设置有透光区和导轨；
滑块，所述滑块与所述导轨配合设置，使所述滑块在所述底座内做圆周运动；
伸缩部件，所述伸缩部件底端与所述滑块连接，顶端支撑所述检测探头，所述伸缩部件支撑所述检测探头在垂直方向上实现检测视角的转换；以及，
弹性软管，连接所述检测探头和所述底座。


2.根据权利要求1所述的多维视角量测治具，其特征在于，检测位置为所述透光区位置，所述透光区为圆形通孔，所述通孔与所述检测探头的光采集区相对设置。


3.根据权利要求1所述的多维视角量测治具，其特征在于，所述透光区还包括位于所述通孔上的筒体，所述检测探头光采集区的一端始终与所述筒体或所述底座相接触，所述筒体与所述底座的接触轨迹为大于所述通孔半径的圆形。


4.根据权利要求1所述的多维视角量测治具，其特征在于，所述导轨为圆形，设置于所述底...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯伟康，宋自航，陈黎暄，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44