一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备，涉及数字图像处理技术领域；该检测方法包括：获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测，记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标；比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标，若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值，则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素；本发明专利技术通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测，再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较，通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选，大大提高了坏点检测的准确性。

A method, device and electronic equipment for detecting bad points of image sensor

【技术实现步骤摘要】
一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备
本专利技术属于数字图像处理
，更具体地，涉及一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备。
技术介绍
图像传感器是利用光电器件的光电转换功能，将感光面上的光像转换为与光像成相应比例关系的电信号。与光敏二极管，光敏三极管等“点”光源的光敏元件相比，图像传感器是将其受光面上的光像，分成许多小单元，将其转换成可用的电信号的一种功能器件。图像传感器被广泛地应用在数码相机和其他电子光学设备中，主要包括CCD传感器和CMOS传感器；由于制造工艺和材料差异，目前图像传感器中可能会存在坏点像素，导致相机采集的图像中的像素值不准确；因此，相机在出厂前，生产厂商会对相机图像传感器中的坏点像素进行检测并将坏点像素坐标存储到相机中；在使用该相机拍摄图像时，可直接调用该坏点坐标对采集图像中的坏点进行矫正；但由于坏点检测标准不同，实际工业检测中，采集相机存储的坏点坐标进行校正后仍不足以满足检测要求，影响检测精度和生产效率；并且相机在高温环境下长时间工作后，坏点像素也会越来越多，从而破坏了其采集图像的清晰度和完整性。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像传感器坏点检测方法，其特征在于，包括：/n获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测，记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标；/n比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标，若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值，则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素。/n

【技术特征摘要】
1.一种图像传感器坏点检测方法，其特征在于，包括：
获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测，记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标；
比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标，若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值，则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素。


2.如权利要求1所述的图像传感器坏点检测方法，其特征在于，所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像均包括多帧图像，对外部图像进行坏点检测具体为：
计算每个曝光时间下多帧图像的灰度值的平均值，得到不同曝光时间下对应的平均图像并对所述平均图像进行坏点检测。


3.如权利要求1所述的图像传感器坏点检测方法，其特征在于，所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括暗场图像，对所述暗场图像进行坏点检测具体为：
获取暗场图像中各像素点的灰度值并将其与预设的亮点灰度阈值进行比较，确认灰度值大于所述亮点灰度阈值的像素点为备选坏点。


4.如权利要求1或3所述的图像传感器坏点检测方法，其特征在于，所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括亮场图像，对所述亮场图像进行坏点检测具体为：
将亮场图像划分为多个相同大小的掩膜块并分别计算每个所述掩膜块中的各像素点的灰度范围；利用根据各掩膜块对应的所述灰度范围确定的全局阈值计算亮场图像中的连通区域，并根据预设的形状和/或大小特征从所述连通区域中筛选出备选暗点。


5.如权利要求4所述的图像传感器坏点检测方法，其特征在于，在进行暗点检测之前还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：余梦露，洪志坤，郑增强，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42