一种集成吸收电容的压接型IGBT半桥器件制造技术

技术编号:23403999 阅读:31 留言:0更新日期:2020-02-22 15:56
本发明专利技术涉及一种集成吸收电容的压接型IGBT半桥器件,其特征在于,所述压接型IGBT半桥器件包括第一金属电极、第二金属电极、第三金属电极、第一IGBT单元、第二IGBT单元和电容器组;所述第一金属电极、第一IGBT单元、第三金属电极、第二IGBT单元、第二金属电极依次连接;所述电容器组的两端分别连接第一金属电极和第二金属电极。本发明专利技术提供的技术方案采用新型的IGBT半桥器件封装方式,与传统的IGBT半桥模块相比减少了缓冲电路额外造成的寄生电感,有效减少换流回路电压过冲。

A compression type IGBT half bridge device with integrated absorption capacitor

【技术实现步骤摘要】
一种集成吸收电容的压接型IGBT半桥器件
本专利技术属于功率半导体领域,具体涉及一种集成吸收电容的压接型IGBT半桥器件。
技术介绍
20世纪80年代以来,随着电力电子技术的飞速发展,各种电力电子装置在工业中的应用越来越广泛。随着需求的增加,电力电子装置趋于大容量、高功率密度,开关器件的电压、电流等级也随之增大。以现在广泛使用的开关器件绝缘门极双极性晶体管(insulatedgatebipolartransistor,IGBT)为例,1700~6500V,2000~3600A的大功率IGBT模块已得到广泛的使用,压接型封装的IGBT器件凭借其容量大、结构紧凑、双面散热、失效短路模式等优点,已成为一种适用于电力系统高压大功率电力电子器件。IGBT开关速度较快,开通及关断时间达到微秒级别。然而由于线路杂散电感的存在,IGBT在开关过程中将产生很高的电流上升速率,过高的电流上升速率将会导致在开关过程中产生很高的电压尖峰,该电压尖峰有可能损坏开关器件,同时增加开关损耗和电磁干扰噪声。为了抑制开关管的电压尖峰,需要尽可能的减小线路杂散电感本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成吸收电容的压接型IGBT半桥器件,其特征在于,所述压接型IGBT半桥器件包括第一金属电极、第二金属电极、第三金属电极、第一IGBT单元、第二IGBT单元和电容器组;/n所述第一金属电极、第一IGBT单元、第三金属电极、第二IGBT单元、第二金属电极依次连接;/n所述电容器组的两端分别连接第一金属电极和第二金属电极。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成吸收电容的压接型IGBT半桥器件,其特征在于,所述压接型IGBT半桥器件包括第一金属电极、第二金属电极、第三金属电极、第一IGBT单元、第二IGBT单元和电容器组;
所述第一金属电极、第一IGBT单元、第三金属电极、第二IGBT单元、第二金属电极依次连接;
所述电容器组的两端分别连接第一金属电极和第二金属电极。


2.如权利要求1所述的压接型IGBT半桥器件,其特征在于,所述第一IGBT单元为单个IGBT模块或多个IGBT模块并联组成的IGBT模块组;
所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈中圆张西子孙帅李翠陈艳芳李金元
申请(专利权)人:全球能源互联网研究院有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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