一种仪器调平装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及调平仪器技术领域，尤其涉及一种仪器调平装置，包括载物平台、支撑层、支撑螺杆、升降控制螺旋、底座；所述底座可放置在显微镜的载物台上，与升降控制螺旋轴心垂直；所述支撑层与底座轴心共线；所述升降控制螺旋与支撑螺杆轴心共线，且限制孔与支撑螺杆尾部匹配，升降控制螺旋的上、下限位台阶分别于支撑层、底座限位孔匹配，并被限制，所属支撑螺杆上螺纹与支撑层上螺纹孔径匹配。本实用新型专利技术的有益效果是实现了在显微镜载物台不支持调平时，可便携式的放置在载物台上，并将需观察样品放置在调平装置的载物平台上，对样品进行调平使需要观察的面与显微镜镜头垂直，从而得到好的观察效果。

An instrument leveling device

【技术实现步骤摘要】
一种仪器调平装置
本技术涉及调平仪器
，尤其涉及一种仪器调平装置。
技术介绍
光学显微镜是实验室中一种重要的设备。光学显微镜只能聚焦到一个平面。当显微镜下的样品需要观察的面与显微镜镜头不垂直时，样品需要观察的面不在同一焦距上，从而得不到好的观察效果。载物台是承载样品的平台，一般与显微镜镜头垂直。但部分样品上下平面并不平行，此时调整载物台让样品上表面与镜头垂直，就能得到较好的观察效果。但具有调平功能的载物台并不普及，且载物台均固定在显微镜架上，不易拆卸。同时由于各型号显微镜的差异，载物台并不通用。
技术实现思路
针对上述问题，本技术的目的是提供一种仪器调平装置，本包括：承载装置，调节装置，限位装置，使在显微镜在观察时对物体进行角度调节，是物体需观察的面与显微镜垂直。本技术的技术方案如下：包括：载物平台、支撑层、支撑螺杆、升降控制螺旋、底座；所述底座可放置在显微镜的载物台上，与升降控制螺旋轴心垂直；所述支撑层与底座轴心共线；所述升降控制螺旋与支撑螺杆轴心共线，且限制孔与支撑螺杆尾部匹配，升降控制螺旋的上、下限位台阶分别于支撑层、底座限位孔匹配，并被限制；所述支撑螺杆上螺纹与支撑层上螺纹孔径匹配，且与支撑层螺纹孔、升降控制螺旋、底座限位孔轴心共线；所述载物平台被三根支撑螺杆支撑，用于在上放置需要在显微镜下观察的样品；所述三根支撑螺杆采用无机非金属材料制成；所述无机非金属材料为纳米陶瓷材料。进一步地，所述底座上有三个限位孔，用于限制升降控制螺旋下限位台阶；所述下限位台阶高度为大于5mm。进一步地，所述支撑层上有三个螺纹孔，用于限制升降控制螺旋上限位台阶；所述上限位台阶高度小于100cm。进一步地，所述支撑螺杆螺纹柱与支撑层螺纹孔匹配，旋转支撑螺杆可实现相对支撑层的升降;所述支撑层螺纹孔的直径大于5mm;所述支撑层螺纹孔为规则内螺旋结构。进一步地，所述升降控制螺旋有限位孔，用于限制支撑螺杆尾部限位块，使支撑螺杆相对升降控制螺旋仅能进行上下位移；所述升降控制螺旋限位孔、所述升降控制螺旋上限位台阶、所述升降控制螺旋下限位台阶采用一体成型工艺；所述升降控制螺旋限位孔、所述升降控制螺旋上限位台阶、所述升降控制螺旋下限位台阶采用无机非金属材料制成；所述无机非金属材料为纳米陶瓷材料。本技术便携式的载物台上调平装置，实现了在显微镜载物台不支持调平时，可便携式的放置在载物台上，并将需观察样品放置在调平装置的载物平台上，对样品进行调平使需要观察的面与显微镜镜头垂直，从而得到好的观察效果。附图说明本技术的上述内容与其它目的、特性及优点将结合下面的附图进行详细说明，其中相同组件用相同符号来表示。图1为本技术的结构示意图。图2为本技术分解结构示意图。图3为本技术升降控制组件结构示意图。图4为本技术支撑螺杆升降控制组件工作原理示意图。图中1表示载物平台、2表示支撑螺杆、3表示支撑层、4表示升降控制螺旋、5表示底座、21表示支撑螺杆螺纹柱、22表示支撑螺杆尾部限位块、31表示支撑层螺纹孔、41表示升降控制螺旋限位孔、42表示升降控制螺旋上限位台阶、43表示升降控制螺旋下限位台阶、51表示底座限位孔。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的部件或具有相同或类似功能的部件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例的附图，对本技术实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本技术的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例1如图1图2图3所示，本技术结构示意图。底座5与支撑层3连接。底座5上有三个底座限位孔51，用于限制升降控制螺旋下限位台阶43。支撑层3上有三个支撑层限位孔及螺纹孔31，用于限制升降控制螺旋上限位台阶42及支撑螺杆2，使升降控制螺旋4仅能进行左右旋转。支撑螺杆螺纹柱21与支撑层螺纹孔31匹配，旋转支撑螺杆2可实现相对支撑层3的升降。三个支撑螺杆2支撑载物平台1，根据三点一面，可调整载物平台的倾斜角度。升降控制螺旋限位孔41用于限制支撑螺杆尾部限位块22，使支撑螺杆2相对升降控制螺旋4仅能进行上下位移。本实施案例中，便携的显微镜载物台上调平装置运用于显微镜观察样品时，底座5与支撑层3保持静止不动，转动升降控制螺旋4，使支撑杆2与支撑层螺纹孔31发生相对转动，形成支撑杆2与支撑层3的直线运动，从而调节载物平台1发生角度变化，不断旋转升降控制螺旋用于调整载物平台的倾斜度后，通过锁紧螺母锁住，以使样品需要观察的面与显微镜镜头垂直。实施例2如图4所示，升降控制螺旋2中间开有升降控制螺旋限位孔41，与支撑螺杆尾部限位块22匹配，使支撑螺杆2仅能做相对升降控制螺旋4上下方向的位移。支撑层3上开有支撑层螺纹孔31与支撑螺杆螺纹柱21匹配，当支撑螺杆2相对支撑层3旋转同时会实现上下方向位移。通过对升降控制螺旋4的旋转，带动支撑螺杆2的旋转，从而实现支撑螺杆2相对支撑层3的升降。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。本技术并不受限于上述说明，而是可允许种种修饰及变化，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项技术技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项技术的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种仪器调平装置，其特征是包括：载物平台、支撑层、支撑螺杆、升降控制螺旋、底座；/n所述底座可放置在显微镜的载物台上，与升降控制螺旋轴心垂直；/n所述支撑层与底座轴心共线；/n所述升降控制螺旋与支撑螺杆轴心共线，且限制孔与支撑螺杆尾部匹配，升降控制螺旋的上、下限位台阶分别于支撑层、底座限位孔匹配，并被限制；/n所述支撑螺杆上螺纹与支撑层上螺纹孔径匹配，且与支撑层螺纹孔、升降控制螺旋、底座限位孔轴心共线；/n所述载物平台被三根支撑螺杆支撑，用于在上放置需要在显微镜下观察的样品。/n

【技术特征摘要】
1.一种仪器调平装置，其特征是包括：载物平台、支撑层、支撑螺杆、升降控制螺旋、底座；
所述底座可放置在显微镜的载物台上，与升降控制螺旋轴心垂直；
所述支撑层与底座轴心共线；
所述升降控制螺旋与支撑螺杆轴心共线，且限制孔与支撑螺杆尾部匹配，升降控制螺旋的上、下限位台阶分别于支撑层、底座限位孔匹配，并被限制；
所述支撑螺杆上螺纹与支撑层上螺纹孔径匹配，且与支撑层螺纹孔、升降控制螺旋、底座限位孔轴心共线；
所述载物平台被三根支撑螺杆支撑，用于在上放置需要在显微镜下观察的样品。


2.根据权利要求1所述的一种仪器调平装...

【专利技术属性】
技术研发人员：李雨轩，夏宇，
申请(专利权)人：泓准达电子科技常州有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32