【技术实现步骤摘要】
一种集成电路IO特性智能测试仪
本技术涉及集成电路测试
，尤其是一种通过控制继电器通断检测集成电路各IO特性的智能测试仪。
技术介绍
集成电路中，随着工艺尺寸的不断减小，芯片工作速度的增加，芯片的引脚越来越多，其间距越来越小。各引脚的信号连续性，电路的电源完整性等设计水平直接影响系统的整体性能。静电放电是造成所有元器件或集成电路系统造成过度电应力破坏的主要原因，同时由于器件的减小，PN结结深变浅，硅化物的引入，使得ESD静电击穿极易发生。应对ESD静电现象除测试时屏蔽静电，改变硬件布局外，芯片制造时一般会在芯片引脚内部设置二极管。集成电路无论测试电源完整性、信号连续性、二极管是否工作正常，均需要通过测试IO特性曲线来评测性能。测试IO曲线一般采用点触式接触测量，随着集成电路越来越复杂的工艺发展，对于一些封装后引脚不易测量以及对一些引脚较多的芯片，人工点触式测量往往工作量巨大，难度上升，且容易疏漏，测试存在误差等。另外ESD二极管导通电压较小，需要两端加0-1V可变电源进行测量IV特性曲线。现有技术的可调电源无法...
【技术保护点】
1.一种集成电路IO特性智能测试仪，其特征在于该测试仪由单片机、可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块组成，将待检测芯片串接在继电器模块和电流检测模块之间，对待检测芯片的ESD二极管进行性能检测，所述单片机各引脚分别与可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块连接；所述电流检测模块与可调电源模块连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种集成电路IO特性智能测试仪，其特征在于该测试仪由单片机、可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块组成，将待检测芯片串接在继电器模块和电流检测模块之间，对待检测芯片的ESD二极管进行性能检测，所述单片机各引脚分别与可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块连接；...
【专利技术属性】
技术研发人员：高源，刘一清，毛雨阳，周家辉，
申请(专利权)人：华东师范大学，
类型：新型
国别省市：上海;31
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