【技术实现步骤摘要】
一种基于日志的消息分类显示结构及其显示方法
本专利技术涉及半导体自动试验设备(AutomaticTestEquipment,简称ATE)领域,尤其涉及一种上位机软件的架构设计,具体涉及一种基于日志的消息分类显示结构及其显示方法。
技术介绍
自动试验设备ATE在半导体产业意指集成电路(IntegratedCircuits)的自动测试机,用于检测集成电路功能的完整性,为集成电路生产制造的最后流程,以确保集成电路生产制造的品质。自动试验设备ATE通常包括两大部分:一是核心测试构造,其承袭于传统的测试技术,二是计算机控制构造,其处理的速度和能力取决于当时的计算机能力。计算机技术离不开日志,自动试验设备ATE在运作时都会产生一个叫log的事件记录,每一行日志都记载着日期、时间、使用者及动作等相关操作的描述。自动试验设备ATE的日志单元由日志数据输入模块、日志数据存储模块和日志数据输出模块组成,常规的实现方案是单一的数据存储源,即使用一个关系数据库存储所有数据;日志数据输出模块是通过数据呈现端主动拉取的方式来实现日志数据
【技术保护点】
1.一种基于日志的消息分类显示结构,用于自动试验设备中,包括日志数据输入模块、日志数据存储模块和日志数据输出模块;其特征在于,/n所述日志数据存储模块包括两个或以上的数据存储单元,每一个所述数据存储单元包括一个日志表格和M个日志索引表格;其中,所述日志过滤条件表格的种类为N个,M为一个或多个;/n所述日志输入模块由日志服务统一收集一个或多个业务单元的日志数据,并按指定数据结构记录至不同的所述数据存储单元;其中,所述日志表格用于存储所述日志数据;/n所述数据输出模块包括X个轮询单元和X个界面,所述X个轮询单元和所述X个界面呈一一对应关系,所述日志索引表格将位于同一所述数据存储 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于日志的消息分类显示结构,用于自动试验设备中,包括日志数据输入模块、日志数据存储模块和日志数据输出模块;其特征在于,
所述日志数据存储模块包括两个或以上的数据存储单元,每一个所述数据存储单元包括一个日志表格和M个日志索引表格;其中,所述日志过滤条件表格的种类为N个,M为一个或多个;
所述日志输入模块由日志服务统一收集一个或多个业务单元的日志数据,并按指定数据结构记录至不同的所述数据存储单元;其中,所述日志表格用于存储所述日志数据;
所述数据输出模块包括X个轮询单元和X个界面,所述X个轮询单元和所述X个界面呈一一对应关系,所述日志索引表格将位于同一所述数据存储单元中的日志数据,通过相对应的所述轮询单元显示到不同的所述界面。
2.根据权利要求1所述的基于日志的消息分类显示结构,其特征在于,每一个所述数据存储单元还包括日志过滤条件表格,所述日志过滤条件表格用于实现数据输出模块的自定义过滤日志数据,所述日志输出模块根据设置的过滤条件即时显示所述日志数据。
3.根据权利要求2所述的基于日志的消息分类显示结构,其特征在于,所述日志输出模块中的轮询单元根据所述日志过滤条件表格中的过滤条件,通过轮询检测相应的所述数据存储单元日志索引表格来实现刷新所述界面上显示的所述日志数据。
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【专利技术属性】
技术研发人员:徐波银,
申请(专利权)人:上海御渡半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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