嵌入式设备数据存储与修复方法、装置和嵌入式设备制造方法及图纸

技术编号:23314922 阅读:39 留言:0更新日期:2020-02-11 17:44
本发明专利技术提供的嵌入式设备数据存储与修复方法,涉及嵌入式设备数据存储与修复领域,应用于一嵌入式设备的存储介质,存储介质存有参数和至少一份备份参数,所述方法包括:嵌入式设备每次运行时,判断参数是否异常,每个参数匹配有唯一的id;若是,则根据异常参数id和存储介质中的数据索引表读取所异常参数的备份参数,以对异常参数进行修复,数据索引表包括异常参数id与备份参数的映射关系。由于数据索引表存储在存储介质内部,根据异常参数id直接从存储介质内部获取备份参数,无需从外部数据库或外部存储器中获取备份参数,避免了硬/软件资源浪费,占用资源少,稳定可靠、成本低。

Embedded device data storage and repair methods, devices and embedded devices

【技术实现步骤摘要】
嵌入式设备数据存储与修复方法、装置和嵌入式设备
本专利技术涉及嵌入式设备数据存储与修复领域,具体而言,涉及一种嵌入式设备数据存储与修复方法、装置和嵌入式设备。
技术介绍
嵌入式设备在运行过程中,会产生大量的数据,包括参数数据和运行数据;其中参数数据是设备能否正常运行,执行相应功能的关键。当前嵌入式设备广泛使用了大容量闪存(flash)作为非易失存储介质。在嵌入式设备运行时,由于软件的设计缺陷,存放在flash中的参数数据往往容易被篡改;而且,众所周知的是:flash在长期读写后容易产生坏块,进而损坏存储在其中的数据。目前,嵌入式设备中数据存储与修复的方法主要有两种,一是使用数据库对数据进行管理;采用数据库可以非常方便地执行数据的存储、检索等功能,但缺点是大部分数据库比较臃肿,而嵌入式设备硬件、软件资源都有限。二是在flash参数区的头部建立索引区,索引区内存储了每个参数数据的位置及大小,利用该索引区可以将参数数据移动至U盘或者带电可擦可编程只读存储器(ElectricallyErasableProgrammablereadonlymem本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种嵌入式设备数据存储与修复方法,应用于一嵌入式设备的存储介质,所述存储介质存有参数和至少一份备份参数,其特征在于,/n所述嵌入式设备每次运行时,判断所述参数是否异常;每个所述参数匹配有唯一的id;/n若是,则根据异常参数id和所述存储介质中的数据索引表读取所述异常参数的备份参数,以对所述异常参数进行修复;所述数据索引表包括所述id与所述备份参数的映射关系。/n

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式设备数据存储与修复方法,应用于一嵌入式设备的存储介质,所述存储介质存有参数和至少一份备份参数,其特征在于,
所述嵌入式设备每次运行时,判断所述参数是否异常;每个所述参数匹配有唯一的id;
若是,则根据异常参数id和所述存储介质中的数据索引表读取所述异常参数的备份参数,以对所述异常参数进行修复;所述数据索引表包括所述id与所述备份参数的映射关系。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述存储介质分为保留区和管理区,所述保留区用于存储备份参数,所述管理区用于存储所述数据索引表,所述数据索引表包括每个参数的id、偏移地址和数据单元长度;
根据异常参数的id和所述存储介质中的数据索引表读取所述异常参数的备份参数的步骤,包括:
从所述数据索引表中查找到所述异常参数id;
依据所述异常参数id对应的所述偏移地址和所述数据单元长度从所述保留区读取所述异常参数的备份参数。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述保留区包括日常参数备份区和出厂参数备份区,所述日常参数备份区用于自动定期备份参数,所述出厂参数备份区用于执行外部命令备份参数;
所述依据所述异常参数id对应的所述偏移地址和所述数据单元长度从所述保留区读取所述异常参数的备份参数的步骤,包括:
获取所述日常参数备份区的第一起始地址;
依据所述第一起始地址、所述偏移地址和所述数据单元长度从所述日常参数备份区读取第一参数;
若所述第一参数正常,则将所述第一参数作为所述备份参数。


4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述依据所述异常参数id对应的所述偏移地址和所述数据单元长度从所述保留区读取所述异常参数的备份参数的步骤,还包括:
若所述第一参数异常,则获取所述出厂参数备份区的第二起始地址;
依据所述第二起始地址、所述偏移地址和所述数据单元长度从所述出厂参数备份区读取第二参数;
若所述第二参数正常,则将所述第二参数作为所述备份参数;
若所述第二参数异常,则将程序默认参数作为所述备份参数。


5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每个所述参数匹配有唯一的预存储校验码,所述判断所述参数是否异常的步骤,包括:
对所述参数进行循环冗余校验得到一个校验码;
将所述校验码与所述预存储校验码进行比对;
若一致,则所述参数正常;
若不一致,则所述参数异常。

【专利技术属性】
技术研发人员:黄旺苟孟生李文玉
申请(专利权)人:宁波三星医疗电气股份有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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