【技术实现步骤摘要】
一种使用RF测试设备来测量PCB走线阻抗的方法
本专利技术涉及PCB测试领域,尤其是一种使用RF测试设备来测量PCB走线阻抗的方法。
技术介绍
现在的PCB设计中,信号的频率越来越高,对于PCB的阻抗要求业更加严格,但如何判断PCB板厂是否能够按照PCB设计生产出满足阻抗需求的PCB,当前业界内具有2种解决方案:(1)只能根据PCB板厂提供的测试报告来判断,PCB板使用者无法实际测试,无法判断PCB板厂出厂的PCB是否满足阻抗需求;(2)采用专业的网络分析仪来进行测试,然而专业的网络分析仪的价格较贵。
技术实现思路
为了解决上述问题,本专利技术提出一种使用RF测试设备来测量PCB走线阻抗的方法,该方法可以有效判断PCB板厂出厂的PCB是否满足阻抗需求的、操作简单方便、且测试成本低。本专利技术通过以下技术方案实现的:本专利技术提出一种使用RF测试设备来测量PCB走线阻抗的方法,包括如下步骤:(1)选定DUT(被测设备),DUT(被测设备)包括RF发射模块、RF接收模块、及连接RF发射模块和RF接收模块的走线,走线的预设阻抗为MΩ;(2)使用RF测试设备测量出DUT(被测设备)的RF的发射功率,并记为AdBm;(3)使用RF测试设备测量出DUT(被测设备)的RF的接收功率,并记为BdBm;(4)计算A-B的值,若A-B的值小于或等于1dBm,则走线阻抗为MΩ;若A-B的值大于1dBm,则走线阻抗不是MΩ。进一步的,在步骤(1)中,走线的预设阻抗为 ...
【技术保护点】
1.一种使用RF测试设备来测量PCB走线阻抗的方法,其特征在于,包括如下步骤:/n(1)选定DUT(被测设备),DUT(被测设备)包括RF发射模块、RF接收模块、及连接RF发射模块和RF接收模块的走线,走线的预设阻抗为MΩ;/n(2)使用RF测试设备测量出DUT(被测设备)的RF的发射功率,并记为AdBm;/n(3)使用RF测试设备测量出DUT(被测设备)的RF的接收功率,并记为BdBm;/n(4)计算A-B的值,若A-B的值小于或等于1dBm,则走线阻抗为MΩ;若A-B的值大于1dBm,则走线阻抗不是MΩ。/n
【技术特征摘要】
1.一种使用RF测试设备来测量PCB走线阻抗的方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)选定DUT(被测设备),DUT(被测设备)包括RF发射模块、RF接收模块、及连接RF发射模块和RF接收模块的走线,走线的预设阻抗为MΩ;
(2)使用RF测试设备测量出DUT(被测设备)的RF的发射功率,并记为AdBm;
(3)使用RF测试设备测量出DUT(被测设备)的RF的接收功率,并记为BdBm;
(4)计算A-B的值,若A-B的值小于或等于1dBm,则走线阻抗为MΩ;若A-B的值大于1dBm,则走线阻抗不是MΩ。
2.根据权利要求1所述的使用RF测试设备来测量PCB走线阻抗的方法,其特征在于,在步骤(1)中,走线的预设阻抗为50Ω。
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【专利技术属性】
技术研发人员:黄德华,李远远,方宏飞,冯杰,张坤,
申请(专利权)人:晶晨半导体深圳有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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