一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法技术

本发明专利技术属于共聚焦显微镜成像技术领域，一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法，使用matlab软件对得到的原始数据即单量子点的每一个荧光光子的到达时间进行后处理，得到荧光强度轨迹图和荧光强度‑寿命分布图；从荧光强度轨迹图提取“亮态”光子构建时间分辨荧光光谱和二阶关联函数，并由此计算出每脉冲平均光子数；由荧光强度‑寿命分布图拟合得出“亮态”单激子量子产率；结合每脉冲平均光子数，“亮态”单激子量子产率和激光器的重复频率计算出共聚焦显微镜的探测效率。

A method to measure the detection efficiency of confocal microscope based on single quantum dot

【技术实现步骤摘要】
一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法
本专利技术属于共聚焦显微镜成像
，利用单量子点在激光激发下产生的单、双激子发射荧光光子，然后根据共聚焦显微镜探测到的每个光子的到达时间进行后处理计算出探测效率的方法。
技术介绍
共聚焦显微镜是一种利用逐点扫描照明并伴随空间针孔滤波消除样品焦点平面外散射光的光学成像显微镜。尽管该技术相比传统成像方法，能够极大地提高了Z轴的成像分辨率。在日常使用过程中，经常需要对共聚焦显微镜的探测效率进行评估。而目前的评估方法都十分复杂，急需我们提供一种简单易行的测量方法。胶体量子点是一种将激子受限于三维空间中的半导体纳米粒子，具有吸收谱线宽、发射谱线窄以及量子产率高等优点，在荧光成像、新型的光电器件和量子信息等诸多方面具有广阔的应用前景。单量子点在激光激发下有一定概率产生单激子和双激子。单激子会发射单光子荧光，双激子有一定概率发射双光子荧光。每一个荧光都会有一定概率被共聚焦显微镜的探测器所探测。该原因使得测量共聚焦显微镜的探测效率成为可能。这里我们将给出一种基于单个量子点探测共聚焦显微镜探测效率的方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法，其特征在于：按照如下的步骤进行/n（a）使用matlab软件对得到的原始数据即单量子点的每一个荧光光子的到达时间进行后处理，得到荧光强度轨迹图和荧光强度-寿命分布图；/n（b）从荧光强度轨迹图提取“亮态”光子构建时间分辨荧光光谱和二阶关联函数，并由此计算出每脉冲平均光子数；/n（c）由荧光强度-寿命分布图拟合得出“亮态”单激子量子产率；/n（d）结合每脉冲平均光子数，“亮态”单激子量子产率和激光器的重复频率计算出共聚焦显微镜的探测效率。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法，其特征在于：按照如下的步骤进行
（a）使用matlab软件对得到的原始数据即单量子点的每一个荧光光子的到达时间进行后处理，得到荧光强度轨迹图和荧光强度-寿命分布图；
（b）从荧光强度轨迹图提取“亮态”光子构建时间分辨荧光光谱和二阶关联函数，并由此计算出每脉冲平均光子数；
（c）由荧光强度-寿命分布图拟合得出“亮态”单激子量子...

【专利技术属性】
技术研发人员：张国峰，李斌，陈瑞云，秦成兵，胡建勇，肖连团，贾锁堂，
申请(专利权)人：山西大学，
类型：发明
国别省市：山西;14