抗干扰的测试方法及测试系统技术方案

技术编号:23286861 阅读:51 留言:0更新日期:2020-02-08 17:16
本申请提供了一种抗干扰的测试方法及测试系统,该测试方法包括:采用板卡控制交流接触器的通断电;控制板卡和交流接触器之间的距离小于或者等于预定距离,使得交流接触器产生的电磁干扰对板卡进行干扰;检测板卡是否正常工作。上述抗干扰的测试方法中,首先采用板卡控制交流接触器的通断电,然后通过控制板卡和交流接触器之间的距离小于或者等于预定距离,使得交流接触器产生的电磁干扰对板卡进行干扰,最后检测板卡是否正常工作,从而实现对板卡的抗干扰能力的测试。该测试方法通过板卡控制交流接触器的通断电,不需要额外的控制设备来控制交流接触器的通断电,从而减少了设备制作成本和维护成本。

Anti interference test method and system

【技术实现步骤摘要】
抗干扰的测试方法及测试系统
本申请涉及抗干扰测试
,具体而言,涉及一种抗干扰的测试方法及测试系统。
技术介绍
交流接触器线圈一般采用交流电源供电,在通断电的过程会产生很强的电磁干扰,通过对交流接触器的快速通断电来不断产生强电磁干扰,并让交流接触器靠近板卡以此来验证板卡的抗电磁干扰的能力。现有的技术方案往往是外接一个定时装置进行交流接触器的快速通断电,但这需要额外的控制设备,从而需要额外制作设备和维护设备,增加设备成本。在
技术介绍
部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的
技术介绍
的理解,因此,
技术介绍
中可能包含某些信息,这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。
技术实现思路
本申请的主要目的在于提供一种抗干扰的测试方法及测试系统,以解决现有技术中板卡的抗干扰测试需要额外的控制设备的问题。为了实现上述目的,根据本申请的一个方面,提供了一种抗干扰的测试方法,所述测试方法包括:采用板卡控制交流接触器的通断电;控制所述板卡和所述交流接触器之间的距离小于或者等于预定距离,使得所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种抗干扰的测试方法,其特征在于,所述测试方法包括:/n采用板卡控制交流接触器的通断电;/n控制所述板卡和所述交流接触器之间的距离小于或者等于预定距离,使得所述交流接触器产生的电磁干扰对所述板卡进行干扰;/n检测所述板卡是否正常工作。/n

【技术特征摘要】
1.一种抗干扰的测试方法,其特征在于,所述测试方法包括:
采用板卡控制交流接触器的通断电;
控制所述板卡和所述交流接触器之间的距离小于或者等于预定距离,使得所述交流接触器产生的电磁干扰对所述板卡进行干扰;
检测所述板卡是否正常工作。


2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述板卡包括单片机和继电器,采用板卡控制交流接触器的通断电,包括:
采用所述单片机控制所述继电器的通断电;
通过所述继电器控制所述交流接触器的通断电。


3.根据权利要求2所述的测试方法,其特征在于,所述板卡包括板载LED,检测所述板卡是否正常工作,包括:
检测所述板载LED的亮灭状态;
根据所述板载LED的亮灭状态判断所述板卡是否正常工作。


4.根据权利要求2所述的测试方法,其特征在于,所述测试方法还包括:
在所述板卡处于非正常工作的情况下,控制所述单片机复位。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试方法,其特征在于,采用板卡...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱杰标
申请(专利权)人:广州视源电子科技股份有限公司广州视琨电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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