【技术实现步骤摘要】
微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法
本专利技术涉及一种微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法。
技术介绍
纯银具有较高的电导率和热导率，常用作于断路器、接触器、开关、连接器和电气接插元件等元器件重要环节的电接触触点材料，给电路系统提供良好的电连接。触头材料腐蚀失效是电路系统出现故障的常见原因之一，尤其是纯银材质的触点材料，即使出现较小程度的腐蚀都足以导致触点静态接触电阻增大，引起电接触失效。一般工业环境中，为避免受到环境中污染物或腐蚀性气体的影响，通常会对一些关键核心的电接触部位采取防护措施，如密封隔离、控制温度或通风除湿等，但往往因防护效果不理想，使得纯银触点材料仍会处于一种微腐蚀环境中，这种影响极易被忽略。对于一些精密的电子元器件，即使微弱程度的腐蚀，微量的腐蚀产物都足以引起连接器电接触失效，从而引起电路从短暂故障演变至功能完全丧失。针对上述情况，有必要对关键核心区域具有纯银触点材料的电子元器件和设备的可靠性进行预测，以预防故障的发生。为对纯银触点材料在微腐蚀服役环境下的可靠性进行预测，需对其进行...
【技术保护点】
1.一种微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法，其特征在于，该方法步骤如下：/n通过现场暴露试验，确定纯银触点材料样品腐蚀产物膜厚与腐蚀时间和静态接触电阻之间的关系，根据该关系预测纯银触点材料失效现象的出现时间。/n
【技术特征摘要】
1.一种微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法，其特征在于，该方法步骤如下：
通过现场暴露试验，确定纯银触点材料样品腐蚀产物膜厚与腐蚀时间和静态接触电阻之间的关系，根据该关系预测纯银触点材料失效现象的出现时间。
2.根据权利要求1所述的预测方法，其特征在于，所述根据该关系预测纯银触点材料失效现象的出现时间，具体是指，根据纯银触点材料电接触失效时静态接触电阻增量指标，预测纯银触点材料失效现象的出现时间。
3.根据权利要求2所述的预测方法，其特征在于，其具体步骤如下：
S1)选用与现场使用的纯银触点材料完全相同的纯银材料进行制样处理；
S2)样品现场放置前，分别对每个样品的初始静态接触电阻Rc进行测量；
S3)在核心区域放置样品，让样品分别经历i个不同周期，每个周期至少一个样品，n≥4，i∈{1,2，…,n}；
S4)现场暴露试验结束后，测量每个样品的静态接触电阻得到R’ci，R’ci表示经历相应周期暴露试验的样品的静态接触电阻平均值；
S5)测量每个样品的腐蚀产物膜厚得到ti，ti表示经历相应周期暴露试验的样品的腐蚀产物膜厚平均值；
S6)建立腐蚀产物膜厚t与试验周期T对应的函数关系，相关系数需达0.95以上；
S7)将不同试验周期前后样品的静态接触电阻差值ΔRci＝(R’ci-Rci)与对应周期的腐蚀产物膜厚的结果进行拟合分析，建立静态电阻差值与腐蚀产物膜厚之间的对应关系，相关系数需达0.95以上，Rci表示经历i个周期暴露试验的样品初始静态接触电阻平均值；<...
【专利技术属性】
技术研发人员：易亚文，李志祥，朱海，邓勇，王涛，陈自然，张其俊，杨阳，陈川，揭敢新，王俊，
申请(专利权)人：中国长江电力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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