一种SFP光模块调试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种串行吉比特介质无关接口(SGMII)调试方法及系统，所述方法包括步骤：MCU内置比较器连接测试时钟及内部时钟；MCU将测试时钟与内部时钟进行同步，时钟同步后对SFP光模块进行调试；调试结束时，修改所述比较器引脚状态。本发明专利技术通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试，并在调试结束时将修改比较器引脚状态，避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。

A debugging method and system for the optical module of SFP

【技术实现步骤摘要】
一种SFP光模块调试方法及系统
本专利技术涉及SFP光模块调试领域，特别涉及一种SFP光模块调试方法及系统。
技术介绍
SFP(SmallFormfactorPluggableModule，小型可插拔模块)光模块是专为100BASE-FX应用的、且建立在支持SGMII(SerialGigabitMediaIndependentInterface，串行吉比特介质无关接口)接口的PHY器件。现有技术在对SFP光模块进行生产调试时，测试板、金手指、测试电阻及SFP光模块依次连接；由测试板提供一个触发时钟至示波器，同时测试板通过金手指PIN7脚发送测试时钟，并通过测试电阻将测试时钟与SFP光模块中PHY芯片的XTAL1脚发出的内部时钟同步，然后示波器开始测试SFP光模块的眼图参数，并对参数进行调试；生产调试完成后需拆除PIN7脚的测试电阻出货。但是，如果电阻未拆除，出货到客户某些交换机使用会出现无法传输的严重隐患。因而现有技术还有待改进和提高。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足之处，本专利技术的目的在于提供一种SFP光模块调试方法及系统，通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试，并在调试结束时将修改比较器引脚状态，避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。为了达到上述目的，本专利技术采取了以下技术方案：一种SFP光模块调试方法，包括步骤：MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟；MCU将接收的测试时钟与内部时钟进行同步；时钟同步后对SFP光模块进行调试；调试结束时，修改所述比较器引脚状态。所述MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟的步骤具体包括：测试板从金手指接入，并向MCU内置比较器发送测试时钟；所述比较器同时接收SFP光模块中的PHY芯片发出的内部时钟。所述时钟同步后开始对SFP光模块进行调试的步骤具体包括：测试时钟和内部时钟同步后，检测得到眼图；并获取消光比，将消光比的值调整至预设参数范围，生成新的眼图；判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求。所述判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求的步骤具体包括：若所述新的眼图的形状不满足预设要求，则继续调整消光比，直至满足预设要求；若所述新的眼图满足预设要求，则结束调试。所述调试结束时，修改所述比较器引脚状态的步骤具体包括：调试结束时，MCU将所述内置比较器以及金手指之间互相连接的引脚设置为高阻态，且为输入端。一种SFP光模块调试系统，包括：测试模块，用于发送测试时钟；接口模块，用于接收测试时钟，并进行传递；SFP光模块，用于将测试时钟和内部时钟进行同步，并在调试结束后对接口模块及自身的引脚状态进行修改；所述测试模块与接口模块连接，所述SFP光模块与接口模块连接。所述测试模块包括测试板，所述测试板与接口模块连接，并通过测试板发送测试时钟。所述接口模块包括金手指，所述金手指将测试板接入，并传递测试板发出的测试时钟至主控模块。所述SFP光模块包括MCU和PHY芯片，所述MCU中设置有内置比较器，所述内置比较器与金手指及PHY芯片连接，并接收金手指传来的测试时钟及PHY芯片传来的内部时钟；接收测试时钟和内部时钟后，所述MCU将测试时钟和内部时钟进行同步，然后通过示波器检测SFP光模块的眼图，再从所述示波器中获取消光比，并调节消光比的值至预设参数范围，直至眼图满足预设要求，则结束调试。在调试结束时，MCU将所述内置比较器以及金手指之间互相连接的引脚设置为高阻态，且为输入端。相较于现有技术，本专利技术提供的SFP光模块调试方法及系统，所述方法包括步骤：MCU内置比较器连接测试时钟及内部时钟；MCU将测试时钟与内部时钟进行同步，时钟同步后对SFP光模块进行调试；调试结束时，修改所述比较器引脚状态。本专利技术通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试，并在调试结束时将修改比较器引脚状态，避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。附图说明图1为本专利技术提供的SFP光模块调试方法的流程图；图2为本专利技术提供的SFP光模块调试方法的步骤S100的流程图；图3为本专利技术提供的SFP光模块调试方法的步骤S300的流程图；图4为本专利技术提供的SFP光模块调试方法的步骤S330的流程图；图5为本专利技术提供的SFP光模块调试方法的步骤S400的流程图；图6为本专利技术提供的SFP光模块调试系统的结构框图；图7为本专利技术提供的SFP光模块调试系统的具体结构图。具体实施方式鉴于现有技术中的问题，本专利技术中提供一种SFP光模块调试方法及系统，通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试，并在调试结束时将修改比较器引脚状态，避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。本专利技术的具体实施方式是为了便于对本专利技术的技术构思、所解决的技术问题、构成技术方案的技术特征和带来的技术效果做更为详细的说明。需要说明的是，对于这些实施方式的解释说明并不构成对本专利技术的保护范围的限定。此外，下文所述的实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间不构成冲突就可以相互组合。由于现有技术中对SFP光模块的调试通过金手指连接一个测试电阻接入测试时钟，再与SFP光模块的PHY芯片连接，以使测试时钟和内部时钟同步，在调试完成后需要拆除所述测试电阻，若由于疏忽忘记拆除则会造成连接某些客户的交换机时无法传输信号的问题，因此亟需一种技术方案能够解决上述问题。综上所述，请参阅图1，本专利技术提供的一种SFP光模块调试方法，包括步骤：S100、MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟；请一并参阅图2，所述S100的步骤具体包括：S101、测试板从金手指接入，并向MCU内置比较器发送测试时钟；S102、所述比较器同时接收SFP光模块中的PHY芯片发出的内部时钟。具体实施时，本实施例中，所述SFP光模块中包括MCU和PHY芯片，所述测试板从金手指接入，所述MCU分别与金手指和PHY芯片连接。测试板发出测试时钟，从金手指传至MCU，MCU同时接收PHY芯片发出的内部时钟。S200、MCU将接收的测试时钟与内部时钟进行同步。具体的，本实施例中，所述测试时钟和内部时钟均通过MCU内置的比较器进行接入，MCU将所述测试时钟和内部时钟进行连接实现同步，输出至示波器。S300、时钟同步后开始对SFP光模块进行调试。本实施例中，测试时钟和内部时钟同步完成后才能够开始调试，调试时通过示波器获取SFP光模块的眼图，并根据眼图进行参数调整。请参阅图3，具体的，所述S300的步骤之后还包括：S310、测试时钟和内部时钟同步后，检测得到眼图；S320、并获取消光比，对消光比的值进行调整至预设参数范围，生成新的眼图；S3本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SFP光模块调试方法，其特征在于，包括步骤：/nMCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟；/nMCU将接收的测试时钟与内部时钟进行同步；/n时钟同步后对SFP光模块进行调试；/n调试结束时，修改所述比较器引脚状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种SFP光模块调试方法，其特征在于，包括步骤：
MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟；
MCU将接收的测试时钟与内部时钟进行同步；
时钟同步后对SFP光模块进行调试；
调试结束时，修改所述比较器引脚状态。


2.根据权利要求1所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟的步骤具体包括：
测试板从金手指接入，并向MCU内置比较器发送测试时钟；
所述比较器同时接收SFP光模块中的PHY芯片发出的内部时钟。


3.根据权利要求1所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述时钟同步后开始SFP光模块进行调试的步骤具体包括：
测试时钟和内部时钟同步后，检测得到眼图；
获取消光比，将消光比的值调整至预设参数范围，生成新的眼图；
判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求。


4.根据权利要求3所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求的步骤具体包括：
若所述新的眼图的形状不满足预设要求，则继续调整消光比，直至满足预设要求；
若所述新的眼图满足预设要求，则结束调试。


5.根据权利要求1所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述调试结束时，修改所述比较器引脚状态的步骤具体包括：
调试结束时，MCU将所述内置比较器以及金手指之间互相连接的引脚设置为高阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹婷，夏京盛，
申请(专利权)人：深圳市欧深特信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44