一种基于STM32的多通道低频漏磁信号无线采集系统技术方案

技术编号:23227440 阅读:26 留言:0更新日期:2020-02-01 03:02
本实用新型专利技术公开了一种基于STM32的多通道低频漏磁信号无线采集系统,由载具、SD卡模块、STM32单片机模块、WiFi模块、C型磁芯、线圈、滑动滚轮、铜箔屏蔽层、霍尔元件阵列模块、信号调理模块、电源模块、上位机组成。STM32单片机产生交流激励信号,产生交变电磁场;交变电磁场遇到铁磁性材料缺陷时形成漏磁场;当漏磁场作用于霍尔元件阵列时,霍尔元件产生多路输出电信号;电信号经过调理后,单片机模块对电信号进行多通道串行扫描采样,采样数据实时发送至WiFi模块并传输至上位机,同时将其发送至SD卡模块进行存储。由于低频漏磁检测技术、检测探头阵列以及无线传输的优势,该发明专利技术具有检测效率高,漏检现象少,探伤能力好等优点,具有很好的使用价值与应用前景。

A multi-channel low frequency magnetic flux leakage signal wireless acquisition system based on stm32

【技术实现步骤摘要】
一种基于STM32的多通道低频漏磁信号无线采集系统
本专利技术属于低频漏磁信号采集系统与设备领域,具体涉及一种基于STM32的多通道低频漏磁信号无线采集系统。
技术介绍
1933年,Zuschlug初次指出采用磁敏传感器探测漏磁场的概念;1947年Hanstings研制出第一代缺陷漏磁探伤系统,然后社会开始认识到漏磁检测技术的价值。1980年,Yariv教授首次提出利用磁致伸缩效应测量微弱磁场的研究思想,并且通过一定的演算与实验预测最小探可测磁场能够达到1.6×10-12T。在这之后,光纤微弱磁场传感器进入了高速发展的黄金时期,大量相关研究相继见报。低频漏磁检测的原理是:外接激励源的激励线圈在空间激发较低频率的电磁场。磁场穿透承压设备中铁磁性材料,从一侧传导到另一侧。在没有壁厚减薄和缺陷的位置,铁磁性试件表面磁场较弱;在存在壁厚减薄和缺陷的位置,磁力线受到缺陷阻碍,磁场发生变异,部分磁力线溢出铁磁性试件,产生漏磁场。此时可以通过对漏磁场信号的强度变化来判断缺陷的存在位置。低频漏磁信号检测技术应用十分广阔,主要应用方向有锅本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于STM32的多通道低频漏磁信号无线采集系统,由载具(1),SD卡模块(2),STM32单片机模块(3),WiFi模块(4),C型磁芯(5),线圈(6),滑动滚轮(7),铜箔屏蔽层(8),霍尔元件阵列模块(9),信号调理模块(10),电源模块(11),上位机(12);其特征在于:载具(1)通过滑动滚轮(7)在被测的铁磁性试件上移动; STM32单片机模块(3)由电源模块(11)提供工作电压;霍尔元件阵列模块(9)通过导线与信号调理模块(10)相连接,经过调理的电信号通过导线传输到STM32单片机模块(3),由STM32单片机模块(3)进行多通道串行扫描采样;STM32单片机模块(3)...

【技术特征摘要】
1.一种基于STM32的多通道低频漏磁信号无线采集系统,由载具(1),SD卡模块(2),STM32单片机模块(3),WiFi模块(4),C型磁芯(5),线圈(6),滑动滚轮(7),铜箔屏蔽层(8),霍尔元件阵列模块(9),信号调理模块(10),电源模块(11),上位机(12);其特征在于:载具(1)通过滑动滚轮(7)在被测的铁磁性试件上移动;STM32单片机模块(3)由电源模块(11)提供工作电压;霍尔元件阵列模块(9)通过导线与信号调理模块(10)相连接,经过调...

【专利技术属性】
技术研发人员:方泽昊沈常宇徐玮鑫刘泽旭李光海朱周洪
申请(专利权)人:中国计量大学
类型:新型
国别省市:浙江;33

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