存储阵列管理方法及装置制造方法及图纸

技术编号:23190607 阅读:59 留言:0更新日期:2020-01-24 16:09
本发明专利技术实施例涉及一种存储阵列管理方法及装置。包括:获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据;所述存储阵列中至少包括一个存储模块;根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据,确定各存储模块所属的分区类别,其中,不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据。由此,可以更合理的使用存储阵列中的各个存储模块。

【技术实现步骤摘要】
存储阵列管理方法及装置
本专利技术涉及数据信息存储
,尤其涉及一种存储阵列管理方法及装置。
技术介绍
虽然,随着存储技术的不断发展,存储成本也在不断下降,但是,读写速度快的存储模块的价格依然是相对昂贵的,为了能够更有效的利用这些价格昂贵的存储速度快的存储模块,存储阵列的技术也在逐渐的普及。目前,常用的存储速度较快的两种Flash介质如下。SLC(Single-LevelCell,单层单元):是单层单元,特点是成本高、容量小、速度快;SLC闪存的优点是复写次数高达100000次,比MLC闪存高10倍。MLC(Multi-LevelCell,多层单元):是多层单元,MLC的每个单元是2bit的,相对SLC来说整整多了一倍。容量大成本低,但是由于每个MLC存储单元中存放的资料较多,结构相对复杂,出错的几率会增加,必须进行错误修正,所以存储速度相对SLC慢很多。基于大家公认的SLC和MLC特点和性能差异,现有技术一般默认将最热数据、可靠性要求最高的数据放置在SLC,MLC次之。图1示出了现有技术中一种包含SLC和MLC的存储阵列。如图1所示,数据需要被写入到存储阵列中时,首先将其存储在介质为SLC的硬盘1上,当数据活跃度逐渐降低时,它们被迁移到介质为MLC的硬盘2中,当数据的活跃度降到更低时,再将其放入到机械硬盘中。但是,在实际应用中,由于厂家生产的SLC和MLC标准不一,很多低端的SLC性能和可靠性尚不如MLC,所以用于存储活跃度较高的存储分区的性能尚且没有用于存储活跃度较低的存储分区的性能好。总而言之,现有技术中提供的存储阵列不能够更合理有效的利用各个存储模块,所以迫切需要本领域技术人员解决的技术问题就在于,如何更合理的使用存储阵列中的各个存储模块。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种存储阵列管理方法及装置,可以根据各存储模块的性能测试参数,更合理的使用存储阵列中的各个存储模块。第一方面,提供了一种存储阵列管理方法,包括:获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据;所述存储阵列中至少包括一个存储模块;根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据,确定各存储模块所属的分区类别,其中,不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据。结合第一方面,在第一方面的第一种实现方式中,所述根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据,确定各存储模块所属的分区类别,包括:根据各存储模块的性能测试数据确定各存储模块的性能得分;根据所述得分对各存储模块进行排序;根据排序结果确定各存储模块所属的分区类别。结合第一方面,在第一方面的第二种实现方式中,确定出各存储模块所属的分区类别后还包括:将存储模块的标识信息添加到对应分区类别的模块标识列表中。结合第一方面,在第一方面的第三种实现方式中,所述方法还包括:预先对所述存储模块进行性能测试得到性能测试数据,将所述性能测试数据存储在存储模块特定位置处;所述获取存储阵列中的存储模块的性能测试数据包括:获取存储在所述存储模块特定位置处的性能测试数据。结合第一方面的第三种实现方式中,在第一方面的第四种实现方式中,还包括:判断所述特定位置处存储的性能测试数据信息的准确性;如果不准确,则根据预置场景分别对各个所述存储模块进行性能测试,分别得到各个所述存储模块的性能测试数据。结合第一方面的第四种实现方式中,在第一方面的第五种实现方式中,还包括:根据所述测试得到的性能测试数据,更新所述存储模块上的特定位置处存储的性能测试数据。结合第一方面,在第一方面的第六种实现方式中,所述获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据包括:在设定的时间间隔和/或系统空闲时,根据预制场景,对个所述存储模块进行读写测试;所述预制场景包括,顺序读、写,随机读、写,或者读写混合;根据测试结果分别确定各个所述存储模块的性能测试数据;所述性能测试数据包括,每秒进行读、写(I/O)操作的次数,读、写带宽,读、写延时中的至少一项。结合第一方面或者第一方面的第一到六任意一种实现方式中,在第一方面的第七种实现方式中,所述存储阵列为全闪存阵列,所述存储模块的介质类型包括SLC介质以及MLC介质,所述不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据包括:判断属于各分区类别的存储模块的介质类型;若由性能测试数据较优的存储模块构成的分区中包括MLC介质的存储模块,则将所述MLC介质的存储模块用于存储活跃度较高的数据;若由性能测试数据较差的存储模块构成的分区中包括SLC介质的存储模块,则将所述SLC介质的存储模块用于存储活跃度较低的数据。第二方面,提供了一种存储阵列管理装置,包括:获取单元,用于获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据;所述存储阵列中至少包括一个存储模块;分区单元,用于根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据,确定各存储模块所属的分区类别,其中,不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据。结合第二方面,在第二方面的第一种实现方式中,所述分区单元包括:得分确定子单元,用于根据各存储模块的性能测试数据确定各存储模块的性能得分;排序子单元,用于根据所述得分对各存储模块进行排序;分区子单元,用于根据排序结果确定各存储模块所属的分区类别。结合第二方面,在第二方面的第二种实现方式中,还包括:标识单元,用于将存储模块的标识信息添加到对应分区类别的模块标识列表中。结合第二方面,在第二方面的第三种实现方式中,所述装置还包括:测试单元,用于预先对所述存储模块进行性能测试得到性能测试数据,将所述性能测试数据存储在存储模块特定位置处;所述获取单元,具体用于获取存储在所述存储模块特定位置处的性能测试数据。结合第二方面的第三种实现方式中,在第二方面的第四种实现方式中,还包括:判断单元,用于判断所述特定位置处存储的性能测试数据信息的准确性;所述测试单元还用于,如果不准确,则根据预置场景分别对各个所述存储模块进行性能测试,分别得到各个所述存储模块的性能测试数据。结合第二方面的第四种实现方式中,在第二方面的第五种实现方式中,还包括:更新单元,用于根据所述测试得到的性能测试数据,更新所述存储模块上的特定位置处存储的性能测试数据。结合第二方面,在第二方面的第六种实现方式中,所述获取单元包括:读写测试子单元,用于在设定的时间间隔和/或系统空闲时,根据预制场景,对个所述存储模块进行读写测试;所述预制场景包括,顺序读、写,随机读、写,或者读写混合;数据确定子单元,用于根据测试结果分别确定各个所述存储模块的性能测试数据;所述性能测试数据包括,每秒进行读、写(I/O)操作的次数,读、写带宽,读、写延时中的至少一项。结合第二方面或者第一方面的第一到六任意一种实现方式中,在第二方面的第七种实现方式中,所述存储本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种存储阵列管理方法,其特征在于,所述方法包括:/n获取所述存储阵列中各个模块的性能数据,所述存储阵列包括多个存储模块,所述存储模块的存储介质类型包括第一存储介质、第二存储介质和第三存储介质中至少一种;/n根据所述存储阵列中各个存储模块的性能数据,将所述存储阵列划分为第一分区和第二分区,其中,不同分区用于存储不同活跃度的数据,所述第一分区类别存储的数据活跃度高于第二分区类别;/n根据数据的活跃度将第一类数据存储至第一分区,将第二类数据存储至第二分区。/n

【技术特征摘要】
1.一种存储阵列管理方法,其特征在于,所述方法包括:
获取所述存储阵列中各个模块的性能数据,所述存储阵列包括多个存储模块,所述存储模块的存储介质类型包括第一存储介质、第二存储介质和第三存储介质中至少一种;
根据所述存储阵列中各个存储模块的性能数据,将所述存储阵列划分为第一分区和第二分区,其中,不同分区用于存储不同活跃度的数据,所述第一分区类别存储的数据活跃度高于第二分区类别;
根据数据的活跃度将第一类数据存储至第一分区,将第二类数据存储至第二分区。


2.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述第一存储介质为单层单元SLC,第二存储介质为多层单元MLC,所述第三存储介质为机械硬盘HDD。


3.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述第一类数据为热数据,所述第二类数据为冷数据,所述热数据为活跃度稿的数据,所述冷数据为活跃度低的数据。


4.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述根据所述存储阵列中各个存储模块的性能数据,将所述存储阵列划分为第一分区和第二分区,包括:
根据不同活跃度的数据在读写时对存储模块性能的要求,确定各个类别的分区的性能测试数据的阈值区间;
根据各个类别的分区的性能测试数据的阈值区间来确定属于该类别的存储模块。


5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能信息,确定各存储模块所属的分区类别,包括:
根据各存储模块的性能测试数据确定各存储模块的性能得分;
根据所述得分对各存储模块进行排序;
根据排序结果确定各存储模块所属的分区类别。


6.根据权利要求1-5任意一项所述的存储阵列管理方法,其特征在于,所述存储阵列为全闪存阵列,所述存储模块的介质类型包括SLC介质以及MLC介质,所述不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据包括:
判断属于各分区类别的存储模块的介质类型;
若由性能测试数据较优的存储模块构成的分区中包括MLC介质的存储模块,则将所述MLC介质的存储模块用于存储活跃度较高的数据;
若由性能测试数据较差的存储模块构成的分区中包括SLC介质的存储模块,则将所述SLC介质的存储模块...

【专利技术属性】
技术研发人员:邱鑫许利霞刘通良
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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