一种飞针测试设备用摄像头组件及飞针测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种摄像头组件及飞针测试设备。所述飞针测试设备包括探针及用于安装探针的支臂，所述摄像头组件包括设置在所述支臂上方的支架，所述支架上设置有摄像头，至少所述摄像头的镜头可以在水平方向上移动，所述探针上方设置有可将探针下方的图像反射到所述摄像头的镜头的反光镜，所述反光镜安装在所述支架上。本发明专利技术的摄像头组件及包含有这种摄像头组件的飞针测试设备，通过将摄像头横置，并且利用反光镜将待测电路板的图像反射到摄像头，使得摄像头或其镜头可以在水平方向上移动较大距离，从而可以对不同厚度的电路板进行精确对焦，从而可以适用于大厚度差的电板路的测试，并且采集的图像精度高，数据准确。

A camera component and a flying pin test equipment for flying pin test equipment

【技术实现步骤摘要】
一种飞针测试设备用摄像头组件及飞针测试设备
本专利技术涉及飞针测试设备
，具体地说，是一种飞针测试设备用的摄像头组件，以及包括有这种摄像头组件的飞针测试设备。
技术介绍
飞针测试设备是用于对电路板的产品质量进行测试的设备，其是采用安装在支臂上的探针，在支臂带动下移动，以使探针接触待测电路板上的不同触点完成测试。测试时，通常需要由摄像头对电路板进行拍摄，并将图像发送给控制电脑，以由控制电脑识别电路板上的触点，并根据触点坐标控制探针的移动，以使探针准确接触触点。由于触点本身及触点间的距离尺寸都很小，这就要求摄像头必须非常精确地对焦，且控制电脑也必须能获取精确的摄像头与探针之间的相对位置，这对摄像头组件提出了非常高的要求。现有的摄像头组件通常包括摄像头和摄像头支架，摄像头大体位于探针上方并朝向下方拍摄，摄像头支架与探针支臂由同一构件带动在水平方向（X、Y向）上移动，但不随探针在垂直方向（Z向）上移动。这种结构的缺点是，摄像头到待测电路板夹具之间的距离是固定的，而摄像头的对焦范围是很小的，因此在对夹具上的待测电路板进行拍摄时，通常只能适用产品厚度在0.5mm~10mm之间的常规电路板。而随着新技术的应用，出现了一些超常规的产品，即超厚或者超薄的产品。而且PAD的集成度更高，出现又密又小的趋势，此种现有的摄像头组件已无法清晰地分辨出采集处的准确影像，导致无法进行正确识别，造成对位失败，无法进行电气性能的测试。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种飞针测试设备用的摄像头组件，以及包括有这种摄像头组件的飞针测试设备，可以适用多种厚度的电路板，且电路板的厚度差可以很大，并且采集图像的精度高，采集数据准确。为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种飞针测试设备用摄像头组件，所述飞针测试设备包括探针及用于安装探针的支臂，所述摄像头组件包括设置在所述支臂上方的支架，所述支架上设置有摄像头，至少所述摄像头的镜头可以在水平方向上移动，所述探针上方设置有可将探针下方的物体的图像反射到所述摄像头的镜头的反光镜，所述反光镜安装在所述支架上。进一步地，所述摄像头的镜头设置在可在水平方向上滑动的齿条上，与所述齿条配合设置有齿轮，通过齿轮转动带动齿条在水平方向上移动。进一步地，所述支架上设置有水平的滑轨，所述滑轨上设置有滑块，滑块沿滑轨水平滑动，所述摄像头安装固定到所述滑块上。进一步地，所述滑块上设有螺纹孔，一螺杆穿过所述螺纹孔，螺杆上的螺纹与所述螺纹孔内的螺纹相配合，通过旋转螺杆带动滑块在滑轨上滑动。进一步地，所述螺杆的至少一端设置有旋钮，且所述螺杆或旋钮上设置有用于标示螺杆旋转角度的刻度盘。进一步地，所述螺杆通过传动机构连接到步进电机，并由所述步进电机带动转动，所述步进电机与所述飞针测试设备的控制电脑连接。进一步地，所述螺杆一侧设置有用于检测螺杆旋转角度的传感器，所述传感器与所述飞针测试设备的控制电脑连接，用于将检测到的螺杆旋转角度发送给所述控制电脑。进一步地，所述摄像头一侧设置有位置传感器，用于检测摄像头的位置并发送给所述飞针测试设备的控制电脑。进一步地，所述支架和支臂连接到同一移动组件上，且所述支架和支臂的相对位置固定；所述移动组件提供水平方向的移动。本专利技术还提供了一种包含有上述摄像头组件的飞针测试设备。本专利技术的摄像头组件及包含有这种摄像头组件的飞针测试设备，通过将摄像头横置，并且利用反光镜将待测电路板的图像反射到摄像头，使得摄像头或其镜头可以在水平方向上移动较大距离，从而可以对不同厚度的电路板进行精确对焦，从而可以适用于大厚度差的电板路的测试，并且采集的图像精度高，数据准确。附图说明图1是本专利技术的飞针测试设备用的摄像头组件的一实施例的结构示意图。图2是本专利技术的飞针测试设备用的摄像头组件的另一实施例的局部结构示意图。图中：1.支架，2.摄像头，3.齿轮，4.齿条，5.镜头，6.移动组件，7.支臂，8.探针，9.反光镜，10.滑块，11.螺纹孔，12.螺杆，13.滑轨，14.旋钮，15.刻度盘。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本专利技术的限定。本专利技术的飞针测试设备用摄像头组件，所述飞针测试设备包括探针8及用于安装探针8的支臂7，所述摄像头组件包括设置在所述支臂上方的支架1，所述支架1上设置有摄像头2，至少所述摄像头2的镜头5可以在水平方向上移动，所述探针8上方设置有可将探针8下方的物体的图像反射到所述摄像头2的镜头5的反光镜9，所述反光镜9安装在所述支架1上。反光镜9的反光面与水平面的夹角一般为45度。本专利技术通过将摄像头2横置，并且利用反光镜9将待测电路板的图像反射到摄像头2，使得摄像头2或其镜头5可以在水平方向上移动较大距离，从而可以对不同厚度的电路板进行精确对焦，以适用于大厚度差的电板路的测试，并且采集的图像精度高，数据准确。如图1所示，在该实施例中，摄像头2的成像元件（通常为CCD（Charge-coupledDevice，电荷耦合元件）或CMOS（ComplementaryMetalOxideSemiconductor，互补金属氧化物半导体））的位置不变，而是将摄像头2的镜头5设置在可在水平方向上滑动的齿条4上，与所述齿条4配合设置有齿轮3，通过齿轮3转动带动齿条4在水平方向上移动，进而带动镜头5接近或远离摄像头的成像元件，同时远离或接近反光镜，使物镜距离能在一定范围内调整，从而使成像质量更加清晰，影像对位准确，提高测试精度。镜头移动的范围优选在10mm，从而将相对应的待测试产品板厚的范围扩大到0.1mm~15mm，能应用目前绝大多数的产品测试。本实施例的优点在于摄像头的成像元件的位置不变，也即与探针的相对位置不变，因此无须校正摄像头与探针的相对位置即可获取待测电路板上各触点的精确坐标。在本实施例中，对镜头5的移动既可以由手动完成，也可以通过电机等带动自动完成。如图2所示，在该实施例中，在所述支架1上设置水平的滑轨13，所述滑轨13上设置有滑块10，滑块10沿滑轨13水平滑动，所述摄像头2安装固定到所述滑块10上。滑块10带动摄像头2一起在滑轨13上移动，从而使摄像头2整体接近或远离反光镜9，从而实现对不同厚度的电路板精确对焦。该结构的优点在于：一是摄像头2的镜头5与成像元件的距离相对固定，简化了摄像头2的结构，降低了摄像头2的成本和故障率；二是摄像头2整体可移动的距离远大于单独的镜头5可移动的范围，从而可以适用的电路板范围更广。在该实施例中，由于摄像头2整体在移动，摄像头2相对于探针8的位置发生了变化，因此要对两者的相对位置进行校正，也就是要将摄像头2移动后的位置发送给控制电脑，以便在摄像头2移动后控制电脑仍然能根据摄像头2拍摄到的图像精确计算出待测电路板上触点的坐标。因此，可在以摄像头2一侧设置一个位置传感器（图中未示出），以检测摄像头2的位置并发送本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种飞针测试设备用摄像头组件，所述飞针测试设备包括探针及用于安装探针的支臂，其特征在于，所述摄像头组件包括设置在所述支臂上方的支架，所述支架上设置有摄像头，至少所述摄像头的镜头可以在水平方向上移动，所述探针上方设置有可将探针下方的物体的图像反射到所述摄像头的镜头的反光镜，所述反光镜安装在所述支架上。/n

【技术特征摘要】
1.一种飞针测试设备用摄像头组件，所述飞针测试设备包括探针及用于安装探针的支臂，其特征在于，所述摄像头组件包括设置在所述支臂上方的支架，所述支架上设置有摄像头，至少所述摄像头的镜头可以在水平方向上移动，所述探针上方设置有可将探针下方的物体的图像反射到所述摄像头的镜头的反光镜，所述反光镜安装在所述支架上。


2.如权利要求1所述的飞针测试设备用摄像头组件，其特征在于，所述摄像头的镜头设置在可在水平方向上滑动的齿条上，与所述齿条配合设置有齿轮，通过齿轮转动带动齿条在水平方向上移动。


3.如权利要求1所述的飞针测试设备用摄像头组件，其特征在于，所述支架上设置有水平的滑轨，所述滑轨上设置有滑块，滑块沿滑轨水平滑动，所述摄像头安装固定到所述滑块上。


4.如权利要求3所述的飞针测试设备用摄像头组件，其特征在于，所述滑块上设有螺纹孔，一螺杆穿过所述螺纹孔，螺杆上的螺纹与所述螺纹孔内的螺纹相配合，通过旋转螺杆带动滑块在滑轨上滑动。


5.如权利要求4所述的飞针测试设备用摄像头组件，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴朝光，陈华军，
申请(专利权)人：苏州国科测试科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32