基准辅助延伸测量尺制造技术

本发明专利技术提供一种基准辅助延伸测量尺，包括：测量部分和固定部分，测量部分为中空的矩形结构，固定部分包括互相垂直的2条边，且固定部分的2条边与测量部分的矩形结构的边平行。互相垂直的2条边的相对的内部表面设有磁石槽，用于放置磁石，用于吸附在加工工件上，使得基准辅助延伸测量尺不易掉落。有效解决寻边器与加工工件干涉时，基准边无法测量的问题；再利用基准辅助延伸测量尺的固定部分的2条垂直的边，建立直角坐标系，从而计算加工工件的位置，计算方法简单可靠，实用性强。另外，基准辅助延伸测量尺结构简单，加工方便，容易使用。

Datum auxiliary extension measuring ruler

【技术实现步骤摘要】
基准辅助延伸测量尺
本专利技术涉及数控加工领域，具体涉及一种基准辅助延伸测量尺。
技术介绍
寻边器是在数控加工中，为了精确确定被加工工件的中心位置的一种检测工具。具体的，寻边器对加工工件基准边进行测量，然后通过测量值建立加工坐标系，再确定加工工件的中心位置。但是，如图1所示，当加工工件102的基准边103在底面时，寻边器101与加工工件102干涉，干涉区域如104所示，无法进行测量。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种基准辅助延伸测量尺，用于辅助寻边器测量加工工件的基准边。为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种基准辅助延伸测量尺，包括：测量部分和固定部分，测量部分为中空的矩形结构，固定部分包括互相垂直的2条边，且固定部分的2条边与测量部分的矩形结构的边平行。进一步的，基准辅助延伸测量尺的横截面为正方形。进一步的，固定部分的2条边的相对的内部的表面有磁石槽，磁石放置于磁石槽内。进一步的，磁石槽等间距设置。进一步的，固定部分的互相垂直的2条边相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基准辅助延伸测量尺，其特征在于，包括：测量部分和固定部分，所述测量部分为中空的矩形结构，所述固定部分包括互相垂直的2条边，且所述固定部分的2条边与所述测量部分的矩形结构的边平行。/n

【技术特征摘要】
1.一种基准辅助延伸测量尺，其特征在于，包括：测量部分和固定部分，所述测量部分为中空的矩形结构，所述固定部分包括互相垂直的2条边，且所述固定部分的2条边与所述测量部分的矩形结构的边平行。


2.如权利要求1所述的基准辅助延伸测量尺，其特征在于，所述基准辅助延伸测量尺的横截面为正方形。


3.如权利要求1所述的基准辅助延伸测量尺，其特征在于，所述固定部分的2条边的相对的内部的表面有磁石槽，磁石放置于所述磁石槽内。


4.如权利要求3所述的基准辅助延伸测量尺，...

【专利技术属性】
技术研发人员：高峰，
申请(专利权)人：华域视觉科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31