一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，涉及半导体设备领域，其包括测试盒以及与测试盒可拆卸连接的测试模块，所述测试模块内设置有环形磁芯，所述环形磁芯缠绕有原边线圈和副边线圈，所述霍尔元件卡接在环形磁芯上；所述测试盒设置有让位槽，所述让位槽位于环形磁芯的磁通回路上，所述测试模块的外侧壁设置有连通原边线圈和霍尔元件输出端的接线端子，所述测试盒内设置有连接所述副边线圈的电流源。本实用新型专利技术具有减少产品的故障率和废品率的效果。

A Hall sensor aging detection device for reducing energy consumption and product scrap rate

【技术实现步骤摘要】
一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置
本技术涉及半导体设备的
，尤其是涉及一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置。
技术介绍
如图1所示，目前的霍尔传感器3包括一元件磁芯36、缠绕在元件磁芯36上的补偿线圈31、以及卡接在元件磁芯36上的霍尔元件32；在生产霍尔传感器过程中，为了保护传感器内部电路，一般会对霍尔传感器进行灌封；为了保证传感器质量，在传感器出厂前，都需要对传感器进行老化测试；在对霍尔传感器3进行老化测试时，先将一线缆（图中未标出）穿过元件磁芯36的环心处，再通过外部电源向线缆通以目标电流，当线缆内的电流通过元件磁芯36时用下，霍尔元件32产生电位差，元件磁芯36产生磁场，在磁场作用下形成输出信号，随后输出信号依次通过检测电路33和输出电路34传输至补偿线圈31，并在补偿线圈31内产生补偿电流，当补偿电流产生的磁场与线缆通电产生磁场相同时，通过检测位于补偿线圈31端部的检测端子35实现对输出电流的检测；当检测端子35输出的输出信号准确并且持续稳定运行达到预设时间后，即判定为老化检测成功，可作为合格产品出库，如不满足以上条件，则判定为老化检测失败，作为不合格产品处理；其中，检测电路33包括一组取样电阻以及与取样电阻电连接的运放电路，所述输出电路34包括一对并联的三极管。上述中的现有技术方案存在以下缺陷：现有的测试是在产品进行灌封以后再进行检测，当检测到霍尔元件不合格时，原本能够通过更换电路元件修复的霍尔传感器只能够整个产品都作报废处理，造成了材料和人工的浪费；同时，在进行检测过程中，需要向电缆输入较大的电流，从而实现对霍尔元件的老化检测，造成了较大的电力损耗。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，能够在产品为半成品时对霍尔元件进行老化检测，减少产品废品率。本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，包括测试盒以及与测试盒可拆卸连接的测试模块，所述测试模块包括底盒，所述底盒内设置有环形磁芯，所述环形磁芯缠绕有原边线圈和副边线圈，所述环形磁芯卡接有霍尔元件；所述测试盒设置有让位槽，所述让位槽位于环形磁芯的磁通回路上，所述底盒的外侧壁设置有连通原边线圈和霍尔元件输出端的接线端子，所述测试盒内设置有连接所述副边线圈的电流源，所述底盒的侧壁开设有用于置放线路的排线孔。通过采用上述技术方案，分别将环形磁芯和霍尔元件安装在测试模块内，再将测试模块安装在测试盒上，并使测试模块外侧的接线端子分别与测试盒相连接，再将测试盒内的电流源与环形磁芯的副边线圈相连接，启动电流源，使副边线圈产生磁场，随后霍尔元件产生电位差，形成输出信号，输出信号最终传输至副边补偿线圈，并在副边补偿线圈内产生副边补偿电流，最终通过检测输出电流的稳定性来判断霍尔元件是否合格；当需要更换霍尔元件时，将测试模块从测试盒上取下，完成对霍尔元件的更换后再将测试模块安装在测试盒上；将霍尔元件置放在测试模块内检测，无需在产品进行灌封后再进行检测，从而减少因产品报废带来的材料和人工的浪费，降低了废品率；同时电流源的电流较小，从而减少了电力的损耗。本技术进一步设置为：所述测试模块的外侧壁设有插接块，所述测试盒的外表面配合插接块设有插接槽。通过采用上述技术方案，测试模块通过插接块沿插接槽与测试盒相插接，从而方便对测试模块进行拆装。本技术进一步设置为：所述插接块呈T形，所述插接槽配合插接块呈带有挂耳的C形。通过采用上述技术方案，插接块插入插接槽后，由于插接槽呈带有挂耳的C形，使插接块插入插接槽后能够被插接槽限定，从而避免测试模块从测试盒上脱落。本技术进一步设置为：所述底盒转动连接的顶盖。通过采用上述技术方案，在底盒上设置顶盖，从而方便对底盒内的霍尔元件和环形磁芯进行更换。本技术进一步设置为：所述底盒内设有用于置放环形磁芯的环形的置放槽。通过采用上述技术方案，置放槽能够对环形磁芯进行限定，避免环形磁芯在使用时发生晃动；当需要更换环形磁芯时，将环形磁芯从置放槽内取出，从而使置放槽能够适应不同的环形磁芯，扩大了置放槽的使用范围。本技术进一步设置为：所述置放槽向置放槽的圆心延伸有用于卡接霍尔元件的卡接槽。通过采用上述技术方案，能够对霍尔元件进行卡接固定，避免霍尔元件在检测过程中脱落。本技术进一步设置为：所述卡接槽内设有用于固定霍尔元件的弹簧片。本技术进一步设置为：所述底盒内设有用于限定环形磁芯的限定短柱。通过采用上述技术方案，限定短柱能够进一步对环形磁芯进行限定，避免环形磁芯在使用时发生晃动。综上所述，本技术的有益技术效果为：1.通过设置测试模块和测试盒，实现在灌封前对霍尔元件进行检测，减少了废品率；2.通过在测试盒内设置电流源，减少了电流输入，从而减少了电力损耗；3.通过设置置放槽和限定短柱，能够对环形磁芯进行限定，避免环形磁芯在使用过程中发生晃动，从而提高检测的精确度。附图说明图1是现有技术的结构示意图。图2是本技术的实施例一的结构示意图。图3是图2的结构剖视图。图4是本技术中电路结构的结构示意图。图5是本技术的实施例二的结构示意图。图6是本技术的实施例二的局部结构示意图。图7是图6的A处结构的局部放大图。附图标记：1、测试盒；11、电流源；12、插接槽；13、让位槽；2、测试模块；21、环形磁芯；22、副边线圈；23、原边线圈；24、置放槽；241、卡接槽；242、弹簧片；25、底盒；251、排线孔；26、顶盖；261、限定短柱；27、插接块；3、霍尔传感器；31、补偿线圈；32、霍尔元件；33、检测电路；34、输出电路；35、检测端子；36、元件磁芯。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步详细说明。实施例一参照图2及图3，为本技术公开的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，包括测试盒1、以及与测试盒1可拆卸连接的测试模块2，测试模块2包括底盒25，底盒25的外侧壁设有T形的插接块27，测试盒1配合插接块27设有插接槽12，插接槽12呈带有挂耳的C形，底盒25的侧壁开设有用于排线的排线孔251。参照图3及图4，测试盒1内设有电流源11，底盒25内设有环形磁芯21，环形磁芯21的一侧卡接有霍尔元件32，环形磁芯21靠近霍尔元件32的一端缠绕有原边线圈23，环形磁芯21远离霍尔元件32的一端缠绕有副边线圈22，副边线圈22与电流源11电连接；霍尔元件32的输出端连接有检测电路33，检测电路33与输出电路34相连接；检测电路33包括一组采样电阻R2和R3、以及分别与采样电阻电连接的比较器U1，输出电路34包括一组并联的三极管P1和P2（参照图1），输出电路34输出端与原边线圈23的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：包括测试盒(1)以及与测试盒(1)可拆卸连接的测试模块(2)，所述测试模块(2)包括底盒(25)，所述底盒(25)内设置有环形磁芯(21)，所述环形磁芯(21)缠绕有原边线圈(23)和副边线圈(22)，所述环形磁芯(21)上卡接有霍尔元件(32)；所述测试盒(1)设置有让位槽(13)，所述让位槽(13)位于环形磁芯(21)的磁通回路上，所述底盒(25)的外侧壁设置有连通原边线圈(23)和霍尔元件(32)输出端的接线端子，所述测试盒(1)内设置有连接所述副边线圈(22)的电流源(11)，所述底盒(25)的侧壁开设有用于置放线路的排线孔(251)。/n

【技术特征摘要】
1.一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：包括测试盒(1)以及与测试盒(1)可拆卸连接的测试模块(2)，所述测试模块(2)包括底盒(25)，所述底盒(25)内设置有环形磁芯(21)，所述环形磁芯(21)缠绕有原边线圈(23)和副边线圈(22)，所述环形磁芯(21)上卡接有霍尔元件(32)；所述测试盒(1)设置有让位槽(13)，所述让位槽(13)位于环形磁芯(21)的磁通回路上，所述底盒(25)的外侧壁设置有连通原边线圈(23)和霍尔元件(32)输出端的接线端子，所述测试盒(1)内设置有连接所述副边线圈(22)的电流源(11)，所述底盒(25)的侧壁开设有用于置放线路的排线孔(251)。


2.根据权利要求1所述的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：所述测试模块(2)的外侧壁设有插接块(27)，所述测试盒(1)的外表面配合插接块(27)设有插接槽(12)。


3.根据权利要求2所述的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：所述插接块(...

【专利技术属性】
技术研发人员：王文生，
申请(专利权)人：北京森社电子有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11