显示装置及图像数据修正方法制造方法及图纸

显示装置(1)，具备：劣化量增量计算部(120)，其根据图像数据中所包含的灰度数据，计算各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增量；劣化量累积部(125)，其于每一规定时间累积藉由劣化量增量计算部(120)计算的劣化量的增量；以及修正部(135)，其根据藉由劣化量累积部(125)累积的劣化量的增量的总量，修正像素的亮度。

Display device and image data correction method

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】显示装置及图像数据修正方法
本专利技术关于显示装置及图像数据修正方法。
技术介绍
近年来尤其被注目的设备有OELD(有机电激发光显示器：OrganicElectroLuminescenceDisplay)。OELD根据电信号进行发光，且是使用有机化合物作为发光物质而构成的显示装置。OELD固有地具有广视角、高对比、及高速响应等优异的显示特性。又，OELD由于可实现薄型、轻量、及高画质的小型至大型的显示装置，因此作为取代CRT(CathodeRayTube：阴极射线管)和LCD(LiquidCrystalDisplay：液晶显示器)的显示装置而受到注目。然而，在被使用于OLED的有机EL元件中，存在有起因于经时变化及温度变化的劣化问题。为了修正像这样的劣化，专利文献1中，揭示有为了修正起因于温度变化的劣化而具有经时补偿功能及温度补偿功能这两个补偿功能的显示装置。专利文献2中，揭示有以缩小成为劣化监视对象的第一区域中包含的至少一个像素的发光亮度、和第二区域中包含的至少一个像素的发光亮度之差的方式，对这些发光亮度的至少一方进行修正的自发光显示装置。专利文献3中，揭示有根据光传感器的检测结果、和被保持于电容的电压而控制供应给发光元件的电流量的显示装置。专利文献4中，揭示有利用自基准像素的受光信号导出的亮度劣化函数、和各显示像素的映像信号的历史来预测各显示像素的亮度劣化率的显示装置。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2004-070349号公报(2004年3月4日公开)专利文献2：日本特开2010-243895号公报(2010年10月28日公开)专利文献3：日本特开2016-109914号公报(2016年6月20日公开)专利文献4：日本特开2011-065047号公报(2011年3月31日公开)
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在专利文献2中揭示的显示装置中，如果不是所显示的图像一定、且预先知道劣化部分的情况，则无法进行图像数据的修正。因此，在所显示的图像每次不同的情况下，如专利文献3及专利文献4中所揭示的显示装置，必须取得各发光元件劣化的信息而进行图像数据的修正。但是，若因画面大型化及/或精细化而像素数增加，则存在有劣化的信息膨胀增大，而无法将劣化的信息存储在存储器等的问题。本专利技术的一方面，目的在于实现即使是像素数多的情形，也能够长期间进行图像数据的修正的显示装置。解决问题的手段为了解决上述课题，本专利技术的一方面的显示装置，具备设有多个包含有机发光元件的像素的显示部，所述显示装置具备：计算部，其根据被显示于所述显示部的图像数据中所包含的灰度(gradation)数据，计算各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增量；累积部，其于每一规定时间累积藉由所述计算部计算的劣化量的增量；以及修正部，其根据藉由所述累积部累积的劣化量的增量的总量，修正所述像素的亮度。本专利技术的一方面的显示装置的图像数据修正方法，所述显示装置具备设有多个包含有机发光元件的像素的显示部，所述图像数据修正方法具备：计算步骤，根据被显示于所述显示部的图像数据中所包含的灰度数据，计算各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增量；累积步骤，于每一规定时间累积在所述计算步骤中计算的劣化量的增量；以及修正步骤，根据在所述累积步骤中累积的劣化量，修正所述像素的亮度。又，本专利技术的一方面的显示装置，具备设有多个包含有机发光元件的像素的显示部，所述显示装置具备：区域分割部，其将所述显示部的显示面分割成多个区域；总和劣化量计算部，其根据被显示于所述显示部的图像数据中所包含的灰度数据，就每个所述区域，计算所述区域内的各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增量的总和；平均劣化量计算部，其根据所述总和计算有机发光元件的劣化量的增量的平均；平均累积部，其累积所述平均；以及修正部，其根据藉由所述平均累积部累积的平均，修正所述像素的亮度。进一步地，本专利技术的一方面的显示装置的图像数据修正方法，所述显示装置具备设有多个包含有机发光元件的像素的显示部，所述图像数据修正方法具备：区域分割步骤，将所述显示部的显示面分割成多个区域；总和劣化量计算步骤，根据被显示于所述显示部的图像数据中所包含的灰度数据，就每个所述区域，计算所述区域内的各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增量的总和；平均劣化量计算步骤，根据所述总和计算有机发光元件的劣化量的增量的平均；平均累积步骤，累积所述平均；以及修正步骤，根据藉由所述平均累积步骤累积的平均，修正所述像素的亮度。专利技术效果根据本专利技术的一方面，发挥如下效果：即使是像素数多的情况下，也能够长期间进行图像数据的修正。附图说明图1是表示本专利技术的实施方式1的显示装置的构成的框图。图2是表示图1所示的显示装置的构成的其他框图。图3是表示图1所示的显示装置的动作的流程图。图4是表示本专利技术的实施方式2的显示装置的构成的框图。图5是表示图4所示的显示装置的动作的流程图。图6的(a)～(d)是表示显示部的显示面被分割成多个区域时的一个区域的示意图。图7是表示于显示部显示有图像的状态的图。图8是表示本专利技术的实施方式3的显示装置的构成的框图。图9是表示图8所示的显示装置的动作的流程图。图10是表示本专利技术的实施方式4的显示装置的构成的框图。图11是表示图10所示的显示装置的动作的流程图。具体实施方式〔实施方式1〕针对本专利技术的实施方式，若根据图1～图3进行说明，则如以下所述。图1是表示本专利技术的实施方式1的显示装置1的构成的框图。图2是表示显示装置1的构成的其他框图。图3是表示显示装置1的动作的流程图。(显示装置1的构成)如图1所示，显示装置1具备显示控制电路10、显示部20、源极驱动电路30、及栅极驱动电路40。显示装置1是使用有机电激发光的显示装置。如图2所示，显示部20具备多个像素电路Aij(i为1以上n以下的整数，j为1以上m以下的整数)。也就是，在显示部20中，像素电路Aij设置成n行×m列的矩阵状。又，在显示部20设置彼此平行配置的多个扫描线Gi、和以与多个扫描线Gi正交的方式且彼此平行地配置的多个数据线Sj。像素电路Aij，与扫描线Gi和数据线Sj的各交点对应而配置。另外，在与像素电路Aij对应的像素，也可进行子像素优化(Subpixelrendering)的处理。进一步地，在显示部20中，与扫描线Gi平行地配置多个控制配线。控制配线是为了驱动像素电路Aij而设置的配线。扫描线Gi及控制配线与栅极驱动电路40连接，藉由栅极驱动电路40驱动。数据线Sj与源极驱动电路30连接，藉由源极驱动电路30驱动。显示部20的显示控制部105向栅极驱动电路40供应计时信号OE、起动脉冲YI、及时钟YCK。又，显示部20的显示控制部105向源极驱动电路30供应起动脉冲S本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示装置，具备设有多个包含有机发光元件的像素的显示部，其特征在于，具备：/n计算部，其根据被显示于所述显示部的图像数据中所包含的灰度数据，计算各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增量；/n累积部，其按每一规定时间累积由所述计算部计算的劣化量的增量；以及/n修正部，其根据由所述累积部累积的劣化量的增量的总量，修正所述像素的亮度。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170607 JP 2017-1124451.一种显示装置，具备设有多个包含有机发光元件的像素的显示部，其特征在于，具备：
计算部，其根据被显示于所述显示部的图像数据中所包含的灰度数据，计算各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增量；
累积部，其按每一规定时间累积由所述计算部计算的劣化量的增量；以及
修正部，其根据由所述累积部累积的劣化量的增量的总量，修正所述像素的亮度。


2.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
所述修正部在修正了所述像素的亮度后，所述像素的亮度的最大值为所述显示部可显示的上限值以下的情况下，根据有机发光元件未劣化的像素的亮度，修正有机发光元件劣化的像素的亮度，
在修正了所述像素的亮度后，所述像素的亮度的最大值超出所述上限值的情况下，根据由所述累积部累积的劣化量的增量的总量最大的像素的亮度，修正由所述累积部累积的劣化量的增量的总量最大的像素以外的像素的亮度。


3.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
进一步具备：
调整部，其根据周围的亮度调整像素的亮度；以及
平均计算部，其根据所述图像数据，计算全部像素的亮度的平均，
所述修正部在由所述平均计算部计算的平均为规定阈值以上的情况下，根据由所述累积部累积的劣化量的增量的总量最大的像素的亮度，修正由所述累积部累积的劣化量的增量的总量最大的像素以外的像素的亮度，
在由所述平均计算部计算的平均小于所述规定阈值的情况下，根据有机发光元件未劣化的像素的亮度，修正有机发光元件劣化的像素的亮度。


4.一种显示装置的图像数据修正方法，所述显示装置具备设有多个包含有机发光元件的像素的显示部，其特征在于，具备：
计算步骤，根据被显示于所述显示部的图像数据中所包含的灰度数据，计算各像素中所包含的有机发光元件的劣化量的增...

【专利技术属性】
技术研发人员：大西充久，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP