光学组件制造技术

本发明专利技术涉及一种光学组件，该光学组件包括：LD(激光二极管)，其发射激光束；载体，其上安装有LD和热敏电阻；光检测器，其检测从LD输出的激光束；TEC(温度调节元件)，其上安装有该载体和该光检测器；机壳，其具有由壁部界定的盒状形状，盒状形状形成其中封装有LD、TEC和光检测器的空间，其中，至少壁部具有窗口，并且热敏电阻布置在LD与光检测器之间。

Optical module

【技术实现步骤摘要】
光学组件
本专利技术涉及一种光学组件。
技术介绍
日本未经审查的专利公开No.2015-68854描述了光学元件和光学监测器。光学元件包括分光器、具有彼此不同的光路长度的两个波导、将经过两个波导的光束组合的光组合单元。分光器将进入光学元件的光束分开，并且使两个分开的光束进入两个波导。光组合单元将两个光束组合，并且输出两个光信号，这两个光信号均具有与进入光学元件的输入光束的光强度不同的光强度，并且这两个光信号之间具有相位差。日本未审查专利公开No.2017-135252描述了包括波长可调谐激光二极管(LD)的光发射组件。波长可调谐LD输出来自一个光发射表面的输出光束，以及来自另一光发射表面的输出光束。在来自一个光发射表面的输出光束的光路上，设置有准直透镜、偏振分束器和反射滤波器。在来自另一光发射表面的输出光束的光路上，设置有准直透镜、偏振光学系统、半反射镜和标准具滤波器。标准具滤波器用作检测输出光束的波长检测单元。
技术实现思路
根据一个方面的光学组件包括：载体，其安装有温度检测元件和构造为发射激光束的波长可调谐激光器元件；光学检测元件，其构造为检测从波长可调谐激光器元件输出的激光束；温度调节元件，其安装有该载体和该光学检测元件；以及壳体，其容纳温度调节元件，并且具有窗口部，激光束通过窗口部输出。温度检测元件布置在波长可调谐激光器元件与光学检测元件之间。附图说明图1是示出根据本专利技术的实施例的光学组件的内部结构的平面图；图2是图1中的光学组件的侧剖视图；r>图3是示意性地示出图1中的光学组件的波长可调谐激光器元件的横截面的示图；图4是示意性地示出图1中的光学组件的光学检测元件的构造的示图；图5是示意性地示出图1中的光学组件的构件的布置的平面图；图6是示意性地示出图1中的光学组件的构件的布置的侧剖视图；图7是示意性地示出参考实例的光学组件的构件的布置的平面图；以及图8是示意性地示出参考实例的光学组件的构件的布置的竖直剖视图。具体实施方式在光学组件中，需要减小尺寸。诸如波长可调谐LD等上述波长可调谐激光器元件是光学组件中可能的发热源。因此，光学组件包括TEC(温度调节元件)，TEC调节波长可调谐激光器元件以及诸如热敏电阻等温度检测元件的温度。在该光学组件中，布置在与波长可调谐激光器元件相邻的位置处的温度检测元件检测温度，并且TEC根据温度检测元件检测到的温度控制温度。因此，使波长可调谐激光器元件的温度恒定不变，并且实现波长可调谐激光器元件的稳定运行。然而，在光学组件内部，取决于与可能作为发热源的波长可调谐激光器元件的距离而产生温度偏差。该偏差由于外部环境的温度影响而进一步扩大。因此，例如，在波长可调谐激光器元件过度发热的状态下，TEC执行冷却，从而抑制波长可调谐激光器元件过度发热。因此，在与波长可调谐激光器元件分离的位置处，该状态为过冷状态，并且该温度有时下降。在外部环境的温度低于为TEC设定的温度的情况下，该温度偏差进一步增加。有时使用硅基波长锁定器芯片作为光学检测元件，诸如上述波长检测单元等。光学检测元件有时布置在远离波长可调谐激光器元件和温度检测元件的位置处。在光学检测元件如此布置在远离波长可调谐激光器元件和温度检测元件的位置处的情况下，如上文所述存在温度偏差，并且因此温度检测元件检测到的温度与光学检测元件的实际温度之间的偏离可能增加。在光学检测元件为上述波长锁定器芯片的情况下，当温度之间的偏离如上文所述那样大时，硅的折射率对温度的依赖性起作用，可能导致特性的变化。由于波长锁定器芯片的特性变化可能导致波长可调谐激光器元件的振荡波长的偏移，因此该变化容易妨碍波长可调谐激光器元件的稳定运行。本专利技术的目的是提供可以实现尺寸减小并且可以稳定运行波长可调谐激光器元件的光学组件。根据本专利技术，可以实现尺寸减小，并且可以稳定地运行波长可调谐激光器元件。[本专利技术的实施例的描述]首先，将以列举的方式描述本专利技术的实施例的内容。根据实施例的光学组件包括：芯片载体，其安装有温度检测元件和构造为发射激光束的波长可调谐激光器元件；光学检测元件，其构造为检测从波长可调谐激光器元件输出的激光束；温度调节元件，其安装有该芯片载体和该光学检测元件；以及壳体，其容纳温度调节元件，并且具有窗口部，激光束通过窗口部输出。温度检测元件布置在波长可调谐激光器元件与光学检测元件之间。该光学组件包括：芯片载体，其安装有波长可调谐激光器元件和温度检测元件；光学检测元件；以及温度调节元件，其安装有该芯片载体和该光学检测元件。温度检测元件布置在波长可调谐激光器元件与光学检测元件之间，并且因此光学检测元件可以布置在与波长可调谐激光器元件和温度检测元件相邻的位置处。因此，可以使温度检测元件检测到的温度与光学检测元件的实际温度之间的偏离较小，并且因此可以限制由于温度依赖性导致的光学检测元件的特性的变化。因此，可以限制波长可调谐激光器元件的振荡波长的偏移，并且因此可以稳定地运行波长可调谐激光器元件。光学检测元件布置在与波长可调谐激光器元件和温度检测元件相邻的位置处，并且因此可以紧凑地布置光学组件内的元件。因此，紧凑地布置元件，并且因此可以实现光学组件的尺寸减小。光学检测元件可以由硅基半导体材料制成。在这种情况下，如上文所述，光学检测元件布置在与波长可调谐激光器元件和温度检测元件相邻的位置处，并且因此限制温度之间的偏离，并且可以减小光学检测元件中硅的折射率的特性的变化。因此，即使光学检测元件和波长可调谐激光器元件布置在一个温度调节元件上，也可以稳定地运行波长可调谐激光器元件。上述光学组件还可以包括分束器，分束器构造为将从波长可调谐激光器元件输出的激光束向与激光束的输出方向相反的方向引导。在这种情况下，从波长可调谐激光器元件输出的激光束通过分束器朝向与输出方向相反的方向。激光束朝向与输出方向相反的方向，并且因此可以使光学组件内被激光束的光路占据的区域较小。因此，可以进一步减小光学组件的尺寸。通过分束器而朝向相反方向的激光束被输入至光学检测元件，并且因此光学检测元件可以布置在与波长可调谐激光器元件相邻的位置处。因此，可以使光学检测元件的位置靠近波长可调谐激光器元件的位置。还可以包括位于波长可调谐激光器元件与分束器之间的隔离器。在这种情况下，波长可调谐激光器元件与分束器之间的区域可以有效地用作布置隔离器的区域。[本申请的公开内容的实施例的细节]在下文中，将参考附图描述根据本申请的公开内容的光学组件的具体实例。应注意的是，本专利技术不限于下述实例，并且旨在包括权利要求的等同范围内的全部变型。在附图的说明中，以相同的附图标记表示相同或相应的构件，并适当地省略重复描述。为了容易理解，有时部分地简化或夸大附图，并且尺寸和比率例如不限于附图上所描述的尺寸和比率。图1是示出根据实施例的光学组件1的内部结构的示图。图2是示出光学组件1的横截面的示图。如图1和图2所示，光学组件1包括壳体2(机壳)，壳体2具有位于壳体2本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学组件，包括：/n激光二极管，其发射激光束；/n载体，其上安装有所述激光二极管和热敏电阻；/n光检测器，其检测从所述激光二极管输出的所述激光束；/n温度调节元件，其上安装有所述载体和所述光检测器；/n机壳，其具有由壁部界定的盒状形状，所述盒状形状形成其中封装有所述激光二极管、所述温度调节元件和所述光检测器的空间，/n其中，至少所述壁部具有窗口，并且所述热敏电阻布置在所述激光二极管与所述光检测器之间。/n

【技术特征摘要】
20180713 JP 2018-1335401.一种光学组件，包括：
激光二极管，其发射激光束；
载体，其上安装有所述激光二极管和热敏电阻；
光检测器，其检测从所述激光二极管输出的所述激光束；
温度调节元件，其上安装有所述载体和所述光检测器；
机壳，其具有由壁部界定的盒状形状，所述盒状形状形成其中封装有所述激光二极管、所述温度调节元件和所述光检测器的空间，
其中，至少所述壁部具有窗口，并且所述热敏电阻布置在所述激光二极管与所述光检测器之间。


2.根据权利要求1所述的光学组件，
其中，所述光检测器由包括硅的材料制成。


3.根据权利要求1或2所述的光学组件，
还包括分束器，其输入有所述激光束，并且输出第一输出光束...

【专利技术属性】
技术研发人员：佐伯智哉，藤村康，
申请(专利权)人：住友电气工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP