定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质，所述方法包括：获取rank映射表，获取目标双rank内存条上目标故障内存颗粒对应的报错地址，根据rank映射表获取报错地址中的rank地址位，获取报错地址中的rank地址位对应的取值得到目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址，根据目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址和rank映射表定位目标故障内存颗粒在目标双rank内存条上所在的rank。通过本申请的方法，能够快速定位故障内存条上的故障内存颗粒在故障内存条上的哪个rank上。

Method, device and storage medium for locating the rank of fault memory particles

【技术实现步骤摘要】
定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质
本申请涉及存储设备
，尤其涉及一种定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质。
技术介绍
在对双rank(DualRank)内存条例如DDR生产测试过程中，常常使用主板来进行内存条测试。但是当一个双rank内存条在一块主板上测试报错时，CPU只会记录发生故障的逻辑地址，对于同一个双rank内存条，在不同rank上相对应位置的内存颗粒出现故障时，CPU发送的逻辑地址中的行、列、bank对应的值都相同，只有rank对应的值不同，现有技术中同一个双rank内存条的两个rank分别对应的值是未知的，因此根据这个逻辑地址，无法区分出是哪一个rank的内存颗粒发生了故障，这样不利于故障内存条的后续维修。
技术实现思路
为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本申请提供了一种定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质。第一方面，本申请提供了一种定位故障内存颗粒所在rank的方法，所述方法包括：获取rank映射表，所述rank映射表表征在同本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种定位故障内存颗粒所在rank的方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取rank映射表，所述rank映射表表征在同一主板上测试的双rank内存条上rank、rank地址位、rank地址的一一映射关系；/n获取目标双rank内存条上目标故障内存颗粒对应的报错地址；/n根据所述rank映射表获取所述报错地址中的rank地址位；/n获取所述报错地址中的rank地址位对应的取值得到所述目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址；/n根据所述目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址和所述rank映射表定位所述目标故障内存颗粒在目标双rank内存条上所在的rank。/n

【技术特征摘要】
1.一种定位故障内存颗粒所在rank的方法，其特征在于，所述方法包括：
获取rank映射表，所述rank映射表表征在同一主板上测试的双rank内存条上rank、rank地址位、rank地址的一一映射关系；
获取目标双rank内存条上目标故障内存颗粒对应的报错地址；
根据所述rank映射表获取所述报错地址中的rank地址位；
获取所述报错地址中的rank地址位对应的取值得到所述目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址；
根据所述目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址和所述rank映射表定位所述目标故障内存颗粒在目标双rank内存条上所在的rank。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取rank映射表，所述rank映射表表征在同一主板上测试的双rank内存条上rank、rank地址位、rank地址的一一映射关系，包括：
获取一个故障内存条，所述故障内存条为双rank内存条且只有一个故障内存颗粒，所述故障内存颗粒只有一个最小存储单元出错，所述故障内存条与所述目标双rank内存条使用同一个主板和CPU进行测试；
获取所述故障内存条上rank的rank地址位；
获取所述故障内存颗粒位于所述故障内存条的不同rank时rank地址位对应的取值，将所述rank地址位对应的取值作为对应rank的rank地址；
将所述故障内存条上rank、rank地址位、rank地址一一映射生成rank映射表，所述rank映射表表征在同一主板上测试的双rank内存条上rank、rank地址位、rank地址的一一映射关系，不同双rank内存条在所述主板上测试时rank地址位及相同rank对应的rank地址均相同。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取一个故障内存条，所述故障内存条为双rank内存条且只有一个故障内存颗粒，所述故障内存颗粒只有一个最小存储单元出错，包括：
对待测内存条的每个内存颗粒同时进行写入数据操作，所述待测内存条为单rank内存条；
对已写入数据的所述待测内存条的每个内存颗粒同时进行读出数据操作得到读出数据；
分别对比所述待测内存条的每个内存颗粒的写入数据与对应的读出数据；
将写入数据与对应的读出数据只有一个比特位不同的内存颗粒作为只有一个最小存储单元出错的故障内存颗粒；
获取一个无故障双rank内存条，用所述故障内存颗粒替换所述无故障双rank内存条的任意一颗无故障内存颗粒，使所述无故障双rank内存条变为只有一个故障内存颗粒的故障内存条。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取一个无故障双rank内存条，包括：
对多个待测双rank内存条分别进行写入数据操作；
对已写入数据的所述多个双rank待测内存条分别进行读出数据操作得到读出数据；
分别对比每个所述待测双rank内存条的写入数据与对应的读出数据；
将写入数据与对应的读出数据相同的待测双rank内存条作为无故障双rank内存条。


5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述故障内存条上rank的rank地址位，包括：
将所述故障内存颗粒在所述故障内存条上当前所在的rank作为第一rank，将所述故障内存条上另一个rank作为第二rank，将故...

【专利技术属性】
技术研发人员：李创锋，梁春意，农腾飞，曹祥，
申请(专利权)人：深圳市金泰克半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44