阵列基板及其制造方法与对准精度检测方法技术

本揭示公开一种阵列基板及其制造方法与对准精度检测方法，其将一虚拟色阻单元设置于一阵列基板的显示区的周边上，且将所述虚拟色阻单元设计成其一侧边或中心点与邻近信号线相距一预设距离。因此，仅需测量所述虚拟色阻单元的所述侧边或中心点与邻近信号线的距离，并比较所测量到的距离与所述预设距离，即可推估所述显示区内数个色阻单元的对准精度，而无需在所述阵列基板的非显示区内设置数个检测单元，从而能进一步减少非显示区的面积，以实现超窄边框的显示面板设计。

Array substrate and its manufacturing method and alignment accuracy detection method

【技术实现步骤摘要】
阵列基板及其制造方法与对准精度检测方法
本揭示涉及薄膜晶体管液晶显示器(thin-filmtransistorliquid-crystaldisplay，TFT-LCD)
，特别是涉及一种COA(ColorFilterOnArray)阵列基板及其制造方法与对准精度检测方法。
技术介绍
在现有技术中，为了检测COA阵列基板中色阻层的对准精度，一般会在COA阵列基板的非显示区设置数个检测单元来检测色阻层中各色阻单元的位置是否与预设位置相符。现今窄边框的液晶显示面板因具有高的屏占比而受到用户青睐，因此如何实现超窄边框设计成为企业研发的重点。然而，随着科技的发展，COA阵列基板在非显示区的走线设计愈来愈复杂，因此若仍欲在COA阵列基板的非显示区设置额外的检测单元，将会使得一显示面板的边框窄化受到限制。请参阅图1及图2。图1是现有技术中设有检测单元20的COA阵列基板10的示意图。图2是现有技术中检测单元20的示意图。在现有技术中，一般会在COA阵列基板10的非显示区14设置数个检测单元20，用以检测显示区12内一色阻层(未图示)的对准精度本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板的制造方法，其特征在于：其包含：/n提供一基板，其中所述基板包含一显示区及围绕所述显示区的一非显示区；/n形成数个薄膜晶体管及数个信号线于该基板的显示区上，其中每一薄膜晶体管包含一栅电极层、一绝缘层、一有源层及一源漏极层，所述数个信号线与所述数个薄膜晶体管的栅电极层以同材料同时制成且互相电连接；及/n形成数个色阻单元于所述显示区内的所述数个薄膜晶体管及所述基板上，并同时以与所述数个色阻单元相同的材料形成一虚拟色阻单元于所述基板的显示区的周边上，其中所述虚拟色阻单元的一侧边或一中心点设计成与所述数个信号线中的一者相距一预设距离。/n

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板的制造方法，其特征在于：其包含：
提供一基板，其中所述基板包含一显示区及围绕所述显示区的一非显示区；
形成数个薄膜晶体管及数个信号线于该基板的显示区上，其中每一薄膜晶体管包含一栅电极层、一绝缘层、一有源层及一源漏极层，所述数个信号线与所述数个薄膜晶体管的栅电极层以同材料同时制成且互相电连接；及
形成数个色阻单元于所述显示区内的所述数个薄膜晶体管及所述基板上，并同时以与所述数个色阻单元相同的材料形成一虚拟色阻单元于所述基板的显示区的周边上，其中所述虚拟色阻单元的一侧边或一中心点设计成与所述数个信号线中的一者相距一预设距离。


2.根据权利要求1所述的阵列基板的制造方法，其特征在于：所述虚拟色阻单元被形成于所述基板的显示区的一边角或一侧边。


3.根据权利要求1所述的阵列基板的制造方法，其特征在于：所述虚拟色阻单元被构形成三角形、四角形、六角形、八角形、圆形、L字型、T字型、十字形或其组合。


4.根据权利要求3所述的阵列基板的制造方法，其特征在于：所述虚拟色阻单元被构形成四角形，每一侧边设计成与一邻近且互相平行的信号线相距所述预设距离。


5.一种阵列基板，其特征在于：其包含：
一基板，包含一显示区及围绕所述显示区的一非显示区；
数个薄膜晶体管，设置于该基板的显示区上，其中每一薄膜晶体管包含一栅电极层、一绝缘层、一有源层及一源...

【专利技术属性】
技术研发人员：游景文，黄俊灵，黄费慧，江华，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44